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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

6 s+ ?: u2 h0 f( C* J9 M1 U. U
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

% Z' k* N, \6 ~: \5 `
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

0 J) p, c0 G  C; u. x* V
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
+ d+ n' H4 v: M! ?
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
8 I9 P5 R2 \/ i# E4 h4 c5 j4 a4 K
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

9 R9 o6 Y$ h) S9 X4 ^% z8 U  U( h附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历4 @1 U3 F( v; i/ s7 [5 z. `
(讲座不收费,食宿交通费用自理)) p) Y  }8 T& I% }/ c( u
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

) k4 S2 r: A3 c/ a
联 系 人:李晓丽' i" j0 n7 }! Z& ?$ |4 E2 R) e9 Z) y
段玉霞( {. M0 d1 h4 _) u  Y  r$ z
赵石彬
0 q& y8 S* s: Y! l1 o: }
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
  }! z0 V: s5 S# M
1 `/ t% Y* s. e" E
真:010-68980976
7 C+ Y2 s9 N: n; N3 ]( e) }2 h
& c& y6 L+ |& A, ]) T3 t
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
  n+ I$ W1 ~' H  T1 ?

6 T1 X5 o+ O" W" G) a$ M
会 议 回 执
# }% S. a/ _) [, I7 u, M9 {
单位名称:
) M7 T% S% c* H& N% ]
姓名

3 Z' T4 M0 k6 @9 n! ~; K3 H  u2 F9 Q
职务
7 i  x( M) O3 S9 J9 s; E5 J
联系电话(手机)
% O0 |* I' }$ S- b  V
2 u6 f3 N# z* k4 @
: q9 L+ B0 r% f/ E$ {

: t, F9 M/ p4 h  {8 J; E; t1 F5 z7 c+ e" G
3 ^& s* h! {; m) c
: u& P! D' r8 D3 X0 y, ]# Y" h

- M8 Q% n. e; _+ _$ h
5 ~' ^# t7 b# ?7 a( Q; s
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( i. h+ G' X7 v9 @+ T. a: m

+ F! V+ `* W: t& ]8 f$ |+ c& e+ r

# O7 y) V2 U( w$ Z/ t' [! u. \

2 m) q  z# J' R- e+ H6 |
请回复至:
- B) n) Y4 w% W" O9 u6 xlixiaoli.127@163.com
4 e/ P! @1 R* x; o$ t
联系人:李晓丽
: ?1 j* W9 s1 K% K8 h. I电话:689029409 |4 e  @. C9 D& V6 s' o" w
传真:68980976

/ s& L4 v1 W- \5 n5 z3 M

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

13.27 KB, 下载次数: 4

 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
( f+ v$ \8 D- r' e2 H6 ]4 JXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。/ r, g9 j  \9 S$ @- n
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
8 \5 A# K, q$ N# [1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。% _# y8 ]2 u/ Z. \! q* `4 c
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。2 r& r3 l' J' \7 W. M7 I  l" r
3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
4 A1 H  c4 t% S) j% J& `8 b4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。5 z0 `3 L) z; z& f% n! d& U0 L
5、        环境因素。例如噪声。- u" s# l5 m: e7 B" P
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。- b: H' T# I) I( z. i. h
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。9 }( ^. x; Y+ c2 m

& F5 K  e" Y$ J9 W0 D& j& G0 S5 l' F) `) P7 m( ~$ y8 @/ G
Joseph N. Gray
! e5 p/ h2 s! i5 ?2 }: b" f
2 N  i4 U3 K' e% ]% X
& y2 l- r3 j+ s, Z+ J) ]8 u$ XJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心
7 m4 q1 a6 n! k' ?& l  p7 v美国Iowa州立大学无损检测中心$ u% x/ H* I- O" u0 A
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍% z* G  L2 H# ?( k  E2 r! Q
软件介绍:; C( s' Q6 g2 H; P9 U
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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