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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
0 R$ y! \; W1 W. L* l/ U) {讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
$ y6 \% D1 x. i8 s; h& {) q% J2 Q讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
. B* P/ C5 [% |$ v$ {, [主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
7 j; ^$ ?+ H" B7 T* I G3 Q% J主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍; 5 T; L+ L! O F4 g
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
" f; V' L$ }6 K9 E t. C- o j附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历: Y: C2 W7 ~1 U- Y7 H& I: b; x) w
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
& q4 ~9 v. x; A, J2 B2 O请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。 + R. v# w" d5 L+ K9 L1 A1 S) F
联 系 人:李晓丽6 h- P n0 I/ ~2 L
段玉霞
. i- t6 l- S& Q2 i赵石彬 & f% n1 c( {( o5 }. J8 |
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567 / B* a5 x# @% n ], m
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' m' A5 q$ p8 ?2 P4 H真:010-68980976
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电话:68902940
6 ^3 h7 @# A3 I; X) G% Q传真:68980976 * M$ ^5 \& G: E! T% n$ k' W8 j7 _
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