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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
( D8 a/ |1 a- J% C4 W6 x+ P
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
+ [( \$ \/ m* Y  B
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
; }8 P. n8 g" ~5 ~* h9 z0 f
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

( x2 G0 {2 K6 Z
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
( w0 ?, R9 k1 Q% ]& v
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

3 s+ f/ z& \% D( }附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历/ ]- @4 U3 q) f: n$ Q
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
' X; j! ]( y' J- C6 I  N7 l
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

- S' \. s" V, ]. u9 `6 _
联 系 人:李晓丽
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赵石彬

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联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567

/ b* t* j" Y, e8 Q
1 c' e$ w. n! B- \- K+ s
真:010-68980976
/ V9 J; L) B7 c/ k8 v/ L

+ K' r& s! U; f
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
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5 Q) E7 L+ o/ e7 `! T. _1 o. j; ^
会 议 回 执

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单位名称:

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姓名

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职务
3 h1 B- z- X: L) U. w4 `' u+ @9 J
联系电话(手机)

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请回复至:
$ V# H; T* r" h# q. Ylixiaoli.127@163.com
3 N, \* u) l% L2 y! b
联系人:李晓丽  S# x; ^( C) y$ k9 `& e
电话:68902940* p5 J% A. y  z: p( ]
传真:68980976
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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍' ~/ G# e( h) K8 _% @  L" q' _- @$ u
XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。7 m0 I. l7 q; z) [/ P& }0 G
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:0 a" G: [3 N* d) X# a
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。, {6 ^% q/ b4 L) r, c
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
# I: y5 d9 f! S0 y" F3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。7 j' N: O( `1 |4 `; y8 l
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
9 Y8 {8 B& j. a- _6 @$ i5 y5、        环境因素。例如噪声。
; w: l: I+ v/ n, h* d参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
" a2 e/ W7 P% @7 {0 o. z9 H; K+ zXRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
+ k8 p( k2 v) ~, a
% q( @- F; h6 j" n' \4 G
" t: C; s% h5 |0 CJoseph N. Gray
) \2 f( O. q  p 5 f( }1 @$ @$ M, e) C& o1 J* S

: H# t) ^/ o5 _7 J. ?% oJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心2 h- X  b' N5 m8 t6 I
美国Iowa州立大学无损检测中心
# m3 @- ?. ]( v" o! Whttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍0 b5 S  x" p7 W& ~5 ?" G4 x
软件介绍:
5 e8 M; t7 J9 @8 @) x  h5 w+ U http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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