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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

0 R$ y! \; W1 W. L* l/ U) {
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

$ y6 \% D1 x. i8 s; h& {) q% J2 Q
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

. B* P/ C5 [% |$ v$ {, [
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

7 j; ^$ ?+ H" B7 T* I  G3 Q% J
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
5 T; L+ L! O  F4 g
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

" f; V' L$ }6 K9 E  t. C- o  j附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历: Y: C2 W7 ~1 U- Y7 H& I: b; x) w
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
& q4 ~9 v. x; A, J2 B2 O
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
+ R. v# w" d5 L+ K9 L1 A1 S) F
联 系 人:李晓丽6 h- P  n0 I/ ~2 L
段玉霞
. i- t6 l- S& Q2 i赵石彬
& f% n1 c( {( o5 }. J8 |
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
/ B* a5 x# @% n  ], m

' m' A5 q$ p8 ?2 P4 H真:010-68980976
' o0 \/ l; e; Q, @6 m+ h( H( y

0 ]3 D* {# I$ k& A; P; z3 ^3 c
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

* X# ^9 l! C$ F9 }: N0 ^. c

( D* |, N7 G6 U5 M2 g9 x( K  @
会 议 回 执
2 `& c$ z5 b- I; D+ {' m
单位名称:

6 A7 K& M5 P: [" _/ Q6 Y
姓名

) a$ t# r( |9 p; R
职务
5 X  J$ Y& n  k. z2 i$ h
联系电话(手机)
) M9 _( M6 l: f4 y

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9 Y7 R1 Y: W7 v" h
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! b; k& l& d; H8 J

, j( Z& _% D0 H3 `# F, x* W. H
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; I6 M" h: e. Y1 r6 M, T" \% p
请回复至:" H. D3 S4 i6 U) V% g2 s
lixiaoli.127@163.com

3 W1 h" l1 A# `! }2 J* r, o
联系人:李晓丽4 `) G+ w  Y& {) a5 I! W4 G# g5 o
电话:68902940
6 ^3 h7 @# A3 I; X) G% Q传真:68980976
* M$ ^5 \& G: E! T% n$ k' W8 j7 _

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
# D# p# {4 ]: w# VXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。5 S+ a% `. N4 {3 x7 S
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
( c! \) S. W+ V1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
: y0 h' W, f* R4 r$ P! r9 e0 R0 g2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
* i1 b4 Q" k  v4 Q( Q6 H2 l3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。1 a7 n7 I( |( K- V" l( M7 S
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
6 j% `5 E9 R: `1 J5、        环境因素。例如噪声。: @; M3 z9 T$ {
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。' [3 Z3 s9 Z" J- k# _" o4 z/ o) p
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。! c. v) T! n& c0 p" E: k
! U) r; ]8 B' Q

7 a0 Z9 z0 g2 LJoseph N. Gray) J. Q% t- V/ Z
4 a: T2 q! Q% _& ^* ]# |
  f7 E3 k$ y4 V& h/ E, x. m
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心/ ~3 z( L/ K8 l+ v. v) ^# M
美国Iowa州立大学无损检测中心2 G% m& k# r* P' Z) @0 S! }
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
2 s1 ]! z5 [" K) [) k软件介绍:
# S1 r7 q! Y7 ]5 P: m http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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