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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知 % Y1 B' G6 {9 I& G
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30; ! ], Z- b$ J+ Y' N" J! N- @
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
7 T* @6 F3 F9 [主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授; / u! k+ W6 }+ F" d. U* X
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍; 9 B8 W: G$ L j3 X/ ]9 q
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司; 3 ^7 A, U- M3 {0 B8 A2 n7 l7 q' K
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历! s; z2 H; r5 ?# P3 F
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
" R. c t8 G; [, ?- \请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。 * I! ]) F+ X' A& f) D& |' h, S
联 系 人:李晓丽
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联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
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姓名 5 n9 r' q/ T, u) R3 o" Z, C) T% E$ I0 a
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* p& v: w M% i9 M6 \1 Y3 j; ]电话:68902940
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