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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知 ( D8 a/ |1 a- J% C4 W6 x+ P
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30; + [( \$ \/ m* Y B
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间); ; }8 P. n8 g" ~5 ~* h9 z0 f
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
( x2 G0 {2 K6 Z主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍; ( w0 ?, R9 k1 Q% ]& v
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
3 s+ f/ z& \% D( }附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历/ ]- @4 U3 q) f: n$ Q
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
' X; j! ]( y' J- C6 I N7 l请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
- S' \. s" V, ]. u9 `6 _联 系 人:李晓丽
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赵石彬
) P7 R( q& i0 V3 l% @3 \+ B! r联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
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真:010-68980976
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会 议 回 执
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联系人:李晓丽 S# x; ^( C) y$ k9 `& e
电话:68902940* p5 J% A. y z: p( ]
传真:68980976 2 W5 i- \, J w1 R3 R5 s/ j8 E
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