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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
% Y1 B' G6 {9 I& G
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
! ], Z- b$ J+ Y' N" J! N- @
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

7 T* @6 F3 F9 [
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
/ u! k+ W6 }+ F" d. U* X
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
9 B8 W: G$ L  j3 X/ ]9 q
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
3 ^7 A, U- M3 {0 B8 A2 n7 l7 q' K
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历! s; z2 H; r5 ?# P3 F
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
" R. c  t8 G; [, ?- \
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
* I! ]) F+ X' A& f) D& |' h, S
联 系 人:李晓丽
0 U* d5 {3 Z  |: s3 b段玉霞
. E( x. U; O* U6 T9 [赵石彬
- S0 |% |7 v0 c9 d% `0 S
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567

. h" _' V" Z0 P

" ?/ I: R- _9 X, v' w真:010-689809764 J) O' n) C/ E

3 Q$ y$ C" |2 c, ^0 V
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

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6 d" _5 n3 ^6 y% ^; K
会 议 回 执

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单位名称:
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姓名
5 n9 r' q/ T, u) R3 o" Z, C) T% E$ I0 a
职务

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联系电话(手机)
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2 E$ M9 [4 ^* V+ B2 Z; P/ ^( M

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& a$ b* a- ^( d- C6 R$ H) |5 r: D
请回复至:
6 U4 M% V$ ?# |lixiaoli.127@163.com

! q; b9 L. G* {. A& U  P- ]
联系人:李晓丽
* p& v: w  M% i9 M6 \1 Y3 j; ]电话:68902940
, d1 j7 Q6 v0 k7 [+ t传真:68980976

. q5 K+ N- \* U! t$ P. e

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

13.27 KB, 下载次数: 4

 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍) \  J* z6 X$ B; P
XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
9 y- Y4 E* G; _# zXRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:2 z6 J& [1 ~; {( H* b
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
* X( e( _% e  \6 `. H: D2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。# ]1 N) h4 j( S
3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
) [0 S- A  ^2 X% r% G. ]4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
' s1 |1 G3 I) _5、        环境因素。例如噪声。
/ M/ h# I. p3 y/ x参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
4 V$ M9 \9 Y& N$ KXRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。, G$ ~% X/ R1 q% G- I# t

+ ?* i  r9 ?1 I/ u2 F
9 Y# {- n% B* I. R1 W( r/ r" ~Joseph N. Gray
# K; b# w8 V5 w0 ?- N
# H4 k3 [( _) N' I. F# ^8 [7 U9 L$ b1 {! w: W8 `! b; ~5 K
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心  v' ^, G  K* o
美国Iowa州立大学无损检测中心/ r7 K' h/ V. v. c
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
5 X" u0 r& h; E- O  ]# c软件介绍:7 D$ O4 X  r# Q: c6 [7 i
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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