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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数 A# O" H7 v8 m
新机器验收时5 k0 Z8 a5 H( u
机器大修后
) p* b; k- W# W, n9 [6 d4 m# N; I 新产品试制时
" b2 X4 Q! e* P$ q& m4 j7 a 产品不合格追查原因时
% @/ ]0 ?# N! r- O4 c7 r' B6 V" b0 t 在机械厂应和模具结合在一起考虑1 k5 U4 B1 f, q) n% }; u5 ~
Case study
0 M/ n+ m" j7 I8 Y% `$ W8 T WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
# M6 N5 e0 i3 W6 A6 t- L/ g2 Q Normal Distribution-Gaussian Curve( E; D/ F: l' C7 m
A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：! i: i4 x( r7 G/ y, O
Case study! P3 Q1 f' H" O: o# u
Case study) H+ ^ q$ z1 |' v, E
请计算出上表的X-s控制图的控制限？& R6 V, \+ M, j" \3 R
请判定过程是否稳定？
7 t8 X1 v, o# _8 c4 J2 t* T! N! n 如果是不稳定该如何处理？
. U9 D* i/ \, \$ g 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
0 B1 \+ U9 N, L$ \ B计算控制限; ^( R1 @$ I! w# J1 H+ f8 {
Case study
+ O! Q' I4 F% f% l+ _' m6 n: ^( G4 U Case study' M+ \8 q) A4 P B! c5 o5 ?# {
不良和缺陷的说明" R% g! m- R: G
P控制图的制做流程
9 A* {3 G& X4 V$ E4 t B A1子组容量、频率、数量
1 b" |3 `/ o9 o( i: K) f 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。( k8 o; q. V! w; `) u# f& {
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
* g; Q8 r( z" p- g5 U1 b5 w% [aliqq- P! l, D: Q& M" ?
+ J d' ] C9 z$ ]- I
子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。$ H" i; R* |' r6 e4 Z
A2计算每个子组内的不合格品率$ j/ Q& L& o. ?2 ]
记录每个子组内的下列值" ]) e7 f* s# x$ }7 Y
被检项目的数量─n2 F4 f5 U8 i9 ~5 V0 y
发现的不合格项目的数量─np
" Y" u4 G1 m ~ 通过这些数据计算不合格品率( s1 d* E/ _ c% a9 q
A3选择控制图的坐标刻度/ J; m: P/ |9 K o2 L
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
# g8 L3 Y8 C. ]6 _# E. n A4将不合格品率描绘在控制图上. y1 e( E( \- Y! s
描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。! p$ G1 r- O; p/ Y
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。- V# j& h& ^4 `0 i
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。9 X. x* j5 j5 R/ `& d. a0 y
计算平均不合格率及控制限/ k4 _# Z5 i7 O8 k/ U" K
画线并标注 Y9 _% x7 ? U8 H! H5 {
均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。
6 _1 q3 f* k/ U" I' W5 A 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。
. G0 E- }* o% E6 _( I, ~* ? ^6 i 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：' _9 N; Q4 [7 R; Y& D
分析数据点，找出不稳定的证据
3 ~# L) t2 z d/ [4 ~ 点
" ~' h3 ~( J6 S" S1 M5 T {% P. J 线5 W; g& z& v" c% l
面
: y$ t* k' n1 W8 W4 _3 m 以上三种方式做判定。 aliqq 6 b. M3 m y: }2 x g" ]8 \
寻找并纠正特殊原因
8 |" Q; I- _$ |1 x/ [ 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。. L( f+ U& m' H z4 a2 f
控制图的实时性
3 {; A: f- t# ?+ Y: e+ N 重新计算控制限
4 f9 }# @6 O D6 ^7 u$ z% i9 r- \ 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。& S! ^- v, {6 b1 j- i4 Y: z
一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。
! q. K: _- r$ m 控制限运用说明
' H% d0 ^8 F4 j* ~+ E 过程能力解释
$ K+ y# o+ X: v- j( i. t$ K4 _ 计算过程能力# u4 y/ T# c+ a. N4 v, m" A6 S+ _- [" @
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。: ^* \$ b5 c% ]# R( c$ `' z
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
" ~1 ?! V- L& h5 z: u- K 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn " u* U' j6 R2 Y* B' T$ I
评价过程能力
" i5 c. T5 ~2 C' Y 改善过程能力
0 O+ f+ s4 s0 y! [: { 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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