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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
! {& b& {9 p0 Z9 R7 Q9 M 新机器验收时5 R' W1 F) b2 A1 Z1 k
机器大修后
F* D5 r1 B. v( x9 @7 } 新产品试制时
. |- _9 l& s( B1 s, s* C5 R# g 产品不合格追查原因时
3 w8 t o: P7 L" G( X 在机械厂应和模具结合在一起考虑
4 J' v. o4 s7 E2 R1 \0 {4 d L Case study
1 p, V: D) k2 g4 i' f WHAT IS MOTOROLA’S 6σ! f$ q+ d. X5 N5 w/ l' f; v
Normal Distribution-Gaussian Curve4 u% I* }9 Q& {0 o! _$ E0 c
A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
# K- N8 k5 i6 u3 W1 J4 T" W# B Case study7 S: {& c. f7 A
Case study
+ y+ k/ e1 h0 o* c5 b. p 请计算出上表的X-s控制图的控制限？7 o5 P B0 g$ R' E% O6 Y
请判定过程是否稳定？: z2 r2 h$ R( {" ~
如果是不稳定该如何处理？
4 A0 W' g( W; f% v- _9 u 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
* h# |6 t- f- U+ a! G8 L( g B计算控制限
8 S: i: X i* \! j$ G. s1 a Case study# R9 o2 C, e( {* b/ U) Y
Case study! L+ J* h2 t: z9 P
不良和缺陷的说明
- x! {+ r3 R3 R9 J t6 Q' A P控制图的制做流程
" A; W* C8 |' f! c0 ?% ^ A1子组容量、频率、数量4 \' C T% U! }, m# a
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。2 E$ O! x% X6 J" m: n) F
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 ! x4 B7 p. r" w5 R: ^; v
aliqq& S) O* _. U% D6 j
! q( }% [! ^6 [6 p- @ 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。" a7 C$ k/ Z6 j9 d* n3 w
A2计算每个子组内的不合格品率" Z0 k3 X& d! ~$ I# D& X
记录每个子组内的下列值
2 p/ o `, q: m6 E! k& G 被检项目的数量─n( A/ A" i+ g/ q3 U, s* m7 i
发现的不合格项目的数量─np7 r5 z- y( r2 X& \7 n4 ^0 a
通过这些数据计算不合格品率; j% L$ ^! K2 x8 P
A3选择控制图的坐标刻度
2 ~$ J# d3 b+ x4 i+ L 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
# N S; m6 G7 I) P$ y' J1 g A4将不合格品率描绘在控制图上
+ e Q$ v* ^7 J- t9 \3 C Y4 A) [+ |% f 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。* _! Q8 ^) J) Y; A4 z4 r5 A6 u
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。6 e2 h6 g' `: M( @) K4 c
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。9 s6 M e/ f/ }% ?
计算平均不合格率及控制限1 I- w" y. }3 F8 }; R6 t
画线并标注
. Q% e1 b; f) U 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。
7 }: a: L, i3 q' e- O% M 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。; n* k$ z- n6 W5 Q; s
尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
) l6 }/ b3 M/ b! Z# h( K. S 分析数据点，找出不稳定的证据
, U! G& ~/ D, x6 n/ x6 u6 p 点
7 X9 H* N( @; N3 i! u* B8 e2 E 线
' U% F: y0 a; H% s- p; y 面! e& n2 V/ F7 E+ B3 q5 V
以上三种方式做判定。 aliqq
6 f; g& D S; ^ B0 L+ Q 寻找并纠正特殊原因+ z2 {/ j% R/ J; w) Z5 O
当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。2 p0 G; p c! v+ Y/ I
控制图的实时性
7 x9 S3 S5 M& w _" r 重新计算控制限! p L# _" V. T. x6 C
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。; Q E0 B4 l6 |8 _$ ~0 o. E$ {
一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。7 S" I( i1 r5 o2 T6 T
控制限运用说明8 f+ i' i0 D& Y7 S! z6 K
过程能力解释) D& w8 c/ U- x
计算过程能力8 W1 a* {+ ?, ~, ?' u$ m$ i7 C' l9 }
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。4 \" N" W: _. _# F; ]* {' z7 m8 [
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
$ j& `+ h/ T# E0 L/ G9 p& q e 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn * Q3 k( |( K d/ H, e; {$ Y! j# O
评价过程能力
1 V& |) P' H6 i# K6 G/ L 改善过程能力% E* E+ O+ ~5 r- \, d! A5 J
过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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