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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数# F' g: i p9 m" u( q% j- c
新机器验收时
0 b. n9 S P _) p, n 机器大修后) w" y5 I) p) O) t
新产品试制时
% x5 u0 ^8 d4 H) k3 j9 r1 Y 产品不合格追查原因时% S+ M! Q4 x F$ e, w8 y
在机械厂应和模具结合在一起考虑
) i3 h+ u, I. h$ U; N, i5 ~. Z Case study' J6 ^8 Z6 v6 l0 `0 ]. y
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ* {. g; h" m4 G4 w' E
Normal Distribution-Gaussian Curve
0 d$ g2 k/ Y, ^' c+ Z# H0 ? A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
; f1 Z9 Z7 ~2 x2 m( I+ j3 f Case study
; a- R: K5 H# c# }- ^1 I Case study$ p; y7 ]# W: g& i4 v$ l2 x
请计算出上表的X-s控制图的控制限？& h7 R4 M6 U7 `1 D3 ]5 ]( v
请判定过程是否稳定？( I; ^, [3 U( y* y3 T' w
如果是不稳定该如何处理？
$ l0 K9 `" g$ x3 T( S+ P 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
2 A' k# F+ Z: a+ g# B+ t B计算控制限8 l3 g8 e) K/ Y0 y3 B9 k' v
Case study
: ~, w1 @+ M9 i' u* @& e0 W3 J Case study
8 q; M5 `! ?& R; |5 s, \0 m 不良和缺陷的说明1 G8 g8 ?1 V8 m4 i0 m" F# b0 b
P控制图的制做流程" D0 |/ u$ f4 y
A1子组容量、频率、数量) I: W) ~+ L8 u2 W1 I) J
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。& W1 j# V4 G$ N: u7 h
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
6 h6 u0 C* q8 o0 }! Galiqq
, M) L" K( f9 z4 y+ X2 J$ K- l( V+ e i+ @
子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
, q# b5 j& {8 h8 g3 S A2计算每个子组内的不合格品率
; g( |7 g& v; d/ `6 | 记录每个子组内的下列值
0 N7 E, B8 J. Y) ~8 g1 i 被检项目的数量─n
1 S; S4 s- ~3 h% Q3 m& { 发现的不合格项目的数量─np F- w& \* X9 L5 D* {0 |9 a
通过这些数据计算不合格品率
0 t3 y! o0 g5 v* g" }, w8 _& v A3选择控制图的坐标刻度* ~: J0 o& Y4 v, C, d& \
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
. e a7 F9 H' D A4将不合格品率描绘在控制图上1 x- T+ w" w5 }* D$ W' C; }
描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。6 ]# D$ K; ^7 X0 G
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
3 c0 K. h# |+ M' L2 o 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。3 f6 I ?1 _- H
计算平均不合格率及控制限
+ B9 y- c$ y% }# I$ D/ J9 e 画线并标注
~& d' Z/ ^0 X, c9 i, b" |* s% f 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。6 t% m* |+ ~' m U# n& x
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。/ K5 \8 S6 R. c# `$ i
尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
6 q9 k( t; I4 z. I& u0 d' W- B 分析数据点，找出不稳定的证据
) F/ f6 f0 ]; }: e 点1 `% ?! `6 @- b% P8 p8 N4 e
线
# N) S7 d' U% b" Q2 O 面
5 F. {/ }4 Y: m$ s# q! L0 a" I 以上三种方式做判定。 aliqq
* o2 y' |/ \+ O$ y1 d. y1 w 寻找并纠正特殊原因& P ~. y0 t2 r% Q9 e& p8 H( Y
当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。6 }, w. y3 n. J0 H
控制图的实时性
/ n) [0 x0 @" F/ m x# B& c0 ]1 X+ R 重新计算控制限
' j4 O8 v+ X b( v/ J# `6 P9 n! M8 k 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
" B1 ], [. ^, N5 ]$ z9 @ 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。
E: _" r p8 a' |) c: u 控制限运用说明
+ m7 L; e5 G, I# U& R! L' I9 E 过程能力解释
1 `' G' q5 G4 Q8 l6 B 计算过程能力
' r1 j! T4 U1 x" U! Y 对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。$ P- d3 h+ `* b; b, G
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。9 c$ P1 a. W9 G. [3 m+ M
当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn 0 U) Z( {& ~! s6 Q$ g
评价过程能力2 P( F) S+ q" ~
改善过程能力
8 `/ ?" p+ F4 h 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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