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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
1 d4 J" K! k) x# T. y 新机器验收时- Y* `- J2 v% e
机器大修后
% u; Z/ [& c) y& O* ?; k 新产品试制时, ?! ^! n _- |1 ~9 Y1 e r
产品不合格追查原因时
/ _3 h- _0 W( v s) D, H 在机械厂应和模具结合在一起考虑
! J R/ |, X, M+ r0 o Case study
. v& Q7 r! E8 u) |- Q) a3 `% c9 g WHAT IS MOTOROLA’S 6σ; M$ j7 m/ v% C5 L+ l. Y9 h
Normal Distribution-Gaussian Curve
7 _ C) e) k' _# ^# [ A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
8 D; } i( L# V5 a1 H Case study; {5 c$ K! y" o$ ^3 I2 q
Case study
, Y" @# T, ]: I) T0 U' d7 [! l2 c 请计算出上表的X-s控制图的控制限？
7 r9 c6 W; F# V+ Q) S- J 请判定过程是否稳定？
# {$ P( K$ N R9 {% G 如果是不稳定该如何处理？& R9 A( o6 g5 N6 V6 B0 n
如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
" J- I( E% s, }/ ?& Z& p) n! e B计算控制限
; f0 k) D |! P" g Case study
% s6 E# I! \* ~) c; W. C Case study
7 m1 ~' F7 F; y. a: E% P* H& r 不良和缺陷的说明! V2 W' G/ j: y5 [% C" h
P控制图的制做流程" \7 Q5 _/ }" t$ l& |
A1子组容量、频率、数量* R d4 v4 }9 t% a1 D# f% i
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。) X, q, r' H+ U! n0 L. n* [4 b# F
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 / L* \+ j5 }5 @& R0 M1 P" r
aliqq
4 S+ ?8 V+ z K3 g! F2 o! y/ B9 v. ^6 {1 z4 x6 C# n" f y
子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
" y" w. n& O# d A2计算每个子组内的不合格品率. x$ r* q0 a6 N; x+ `( \
记录每个子组内的下列值# }& F K" a! ` Z( ^6 L8 J/ \9 W
被检项目的数量─n0 I$ x$ b. V5 K( a$ I* F" T' O
发现的不合格项目的数量─np6 A( \. u9 [4 L/ b S9 c+ u7 K3 {; V
通过这些数据计算不合格品率, r( z$ o2 c5 m) _
A3选择控制图的坐标刻度/ U* ?) G( t5 [. C9 T
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
+ I7 f, I* }4 @- b" p* g A4将不合格品率描绘在控制图上) f; U" A) j# c1 O
描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。' e a, s9 D& b x8 b
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。4 q" I& H8 E. g% @ n. i
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。, ~. i, e: J( m& E* m* G$ z
计算平均不合格率及控制限8 W* [5 g7 S& [. ~: a( J
画线并标注
/ j! b% L# ~7 y& k5 j$ {* p 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。
( y! _. r2 T& C% L 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。
6 |8 D2 {! ~* T/ r- b" [ 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
9 ]3 j4 @0 e/ ~. Y( G 分析数据点，找出不稳定的证据! ?, v6 C9 N" o6 i
点" s1 x! f5 s3 ]4 d% p8 N: W
线3 d8 t# u9 n% I+ a
面
* r9 z5 `* G" x 以上三种方式做判定。 aliqq
+ |' e) ]. L: Y" Y- N 寻找并纠正特殊原因1 y8 R5 u" h4 c6 @+ c0 A
当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
; |( L6 S& w% `4 x 控制图的实时性 m3 c: r, n) m& g! c4 s9 j. L
重新计算控制限
( Y! g" {5 j( \: d7 H) V 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。& z! q0 C6 z! G- \0 \
一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。 F* ~8 g. U3 C
控制限运用说明+ _% Q/ ~6 D' e8 G: Y' d) z
过程能力解释5 P9 t5 E% p, n8 [2 A- D3 T
计算过程能力
) N; V) }. J. s' f/ M 对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。* z) t+ j# a: o/ }) y, P& g8 `
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。# b. Z1 l X1 \# l$ O
当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn & M' W8 n4 G: ?0 \9 f; b
评价过程能力6 R6 u4 o' r! z0 u
改善过程能力
; d5 V6 o; N7 ?5 o 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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