QQ登录

只需一步,快速开始

登录 | 注册 | 找回密码

三维网

 找回密码
 注册

QQ登录

只需一步,快速开始

展开

通知     

全站
4天前
查看: 3785|回复: 12
收起左侧

[已解决] 关于CMK的问题

 关闭 [复制链接]
发表于 2009-6-7 21:26:59 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国江苏苏州

马上注册,结识高手,享用更多资源,轻松玩转三维网社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
我们在做CMK抽样5 }0 D6 l/ S2 B; q3 R9 Y3 ]
连续抽检50个样本
* A4 U% i& t% {- H" ]% G需要分组嘛?4 q. l# t& a4 n2 m  C
难得就直接用STDEV把50个样本的西格玛算出来
: d+ X7 ?& W. p$ b& V, i) N( @,还有就是我厂的产品,机器生产出来有很多个尺寸,是不是只要测量其中的一个尺寸,总共得出50个尺寸就可以进行CMK的计算了?
  V* L  M# O. W* @8 y帮帮我谢谢大哥们  Z$ ~8 W) _$ H8 C

- s7 D7 v7 b1 g3 c9 ^- D[ 本帖最后由 YHHL 于 2009-6-8 17:38 编辑 ]
 楼主| 发表于 2009-6-8 14:35:32 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏苏州
:ang: :ang:

评分

参与人数 1三维币 -5 收起 理由
YHHL -5 灌水

查看全部评分

发表于 2009-6-8 19:34:17 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
使用任何数据,然后再套用公式,都可得出计算结果,问题是这样没有任何意义。
: Y- T" S7 r. h! [* g" f# Z4 I7 N2 y
首先,你的抽样有问题,没有考虑过如何抽样。一般情况下,每次连续抽4-5样本为一组,取20-30组数据(一般要求不少于100个数据)。
4 N3 ^5 M) `) L& ?/ i. h# v* l其次,计算Cmk时不用STDEV,要用R/d2.

评分

参与人数 1三维币 +3 收起 理由
YHHL + 3 应助

查看全部评分

发表于 2009-8-17 15:05:33 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏苏州
测CMK当然只能针对一个尺寸做CMK,举例,这台设备做跳动可能cmk比较高,但不代表圆度的CMK也一样好。
发表于 2009-8-17 20:50:32 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
没有搞清楚就乱回答,CMK不用分组,针对于特殊特性做。
发表于 2009-8-18 10:02:09 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。% l) U, N8 n% C& M6 ?. {
如果真的理解了能力指数和性能指数的区别,就知道到底有没有乱说。
8 @4 j' e# \/ D: |+ _$ D如果对基本概念都理解不清的话,还是别误导人家的好!
发表于 2009-8-19 20:53:20 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 svw0936 于 2009-8-18 10:02 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif
$ o( z7 ^9 w+ x2 ?) \首先应该搞清楚Cmk到底是什么。
' H4 [5 z$ ~: n, t8 d( x如果真的理解了能力指数和性能指数的区别,就知道到底有没有乱说。" d, b2 a' d; n% N3 ^' \
如果对基本概念都理解不清的话,还是别误导人家的好!
8 U+ p8 n) C% \- Y# ~2 m
提醒你一下,CMK是设备能力指数,不是什么能力指数和性能指数,你确实需要先理解基本概念。
发表于 2009-8-19 21:21:36 | 显示全部楼层 来自: 中国广东深圳
做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.
发表于 2009-8-19 22:20:28 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 hansenyi 于 2009-8-19 21:21 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif
2 F1 x7 C+ {7 e做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.
# c+ ?0 D% b4 W+ A2 C% A# u9 p
又一个基本概念不清楚者!
发表于 2009-8-20 09:35:05 | 显示全部楼层 来自: 中国台湾
何时应用Cmk指数/ }8 Q' e. q9 H4 O9 k( z
  新机器验收时( h( J/ G$ c& ^; J- Z# x2 l
  机器大修后
% m, T; @( Q/ [! V# K1 w, v5 @7 Q  新产品试制时; A1 G$ Q# ~! P, b. ^# Q9 H
  产品不合格追查原因时5 \, `- p" B$ u; N
  在机械厂应和模具结合在一起考虑
2 K5 r$ S. h9 ~2 G  Case study
# Y, e/ l( I7 U" C8 Z  WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
8 y4 Y9 n* Z1 I3 X) t( b/ ]' {+ Z  Normal Distribution-Gaussian Curve- g, ~" [* A1 h2 E
  A收集数据:在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下:
# ?! Z9 q* U5 h% n: x- S6 |4 ]  Case study  v* {& M; t+ x' }+ o8 t
  Case study+ f0 i1 S" ]& z! k! Z1 `1 V3 i/ H
  请计算出上表的X-s控制图的控制限?: v5 x: c) a( H/ ]0 ]5 q
  请判定过程是否稳定?
  H; B# v9 j' U  如果是不稳定该如何处理?
- \0 b# q) ]% _  p& B  如果制程假设已稳定,但想将抽样数自n=4调为n=5时,那么其新控制限为何?
7 \5 Q6 [" E. Y  m: x& M" c) x  B计算控制限
& @4 z6 Q! W& M/ R  Case study$ N  H8 v* P+ S5 o( P9 \: f
  Case study- `( z; ^$ i2 H4 ?# @( z
  不良和缺陷的说明
; P& B7 n7 L  B' G- V  P控制图的制做流程
5 v  i0 C$ P- _* {) d6 n  A1子组容量、频率、数量2 A$ X, r3 ]8 @1 P
  子组容量:用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化,一般希望每组内能包括几个不合格品,但样本数如果太利也会有不利之处。% C) _7 [- ~; P; d7 a" w
  分组频率:应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快,但也许与大的子组容量的要求矛盾
8 k5 ^6 J# _7 ^) ^' D9 E- laliqq: f* ]/ _% h% j

1 R$ [7 `& W9 C& c  子组数量:要大于等于25组以上,才能判定其稳定性。7 P2 C% ]1 d+ z" q% n' O; E% S5 N' w
  A2计算每个子组内的不合格品率/ @" a7 B1 v4 I& }+ q  _# U1 H
  记录每个子组内的下列值
- U4 m9 d, ?$ {/ _. l, q: a  被检项目的数量─n/ I" Q' p7 j* K9 E* p$ J
  发现的不合格项目的数量─np
" `4 V' S: e( R  通过这些数据计算不合格品率
' b( O. _9 c/ Y4 O& I  A3选择控制图的坐标刻度- n( q6 N& o% p( p' h# }5 S5 a
  描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标,子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。7 d# u/ i8 H- M% c# Z7 |0 Z
  A4将不合格品率描绘在控制图上% K8 ?4 M. k" q# `- c% Q
  描绘每个子组的p值,将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
  u4 Q5 h, X+ y) o  当点描完后,粗览一遍看看它们是否合理,如果任意一点比别的高出或低出许多,检查计算是否正确。; S- m( P2 r5 o( O9 [- W
  记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况,当这些情况被发现时,将它们记录在控制图的“备注”部份。
& T& i- I* h5 X  计算平均不合格率及控制限/ H9 ~" P5 ]' s  T" u- J
  画线并标注
# V8 N0 k: i2 c/ [/ t( e  均值用水平实线线:一般为黑色或蓝色实线。! y9 P0 Q5 O3 m2 P
  控制限用水平虚线:一般为红色虚线。
6 V" u4 M( C: D) [2 Y7 q  尽量让样本数一致,如果样本数一直在变化则会如下图:! m" T: I% z* |
  分析数据点,找出不稳定的证据
  p: j2 N6 ~5 E( e0 {  点6 d) q. _- e; Q& A6 d# [+ O
  线
5 {! x$ V3 s1 t- a& |# N9 v7 H  面, i5 b& F- u; d2 q! m
  以上三种方式做判定。 aliqq ; D+ p+ f, q/ b: b
  寻找并纠正特殊原因. `( V5 x  O9 ^$ f
  当从数据中已发现了失控的情况时,则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的,要求对操作进行分析,并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。1 I5 u0 g8 d& C& \3 {
  控制图的实时性
4 y( k# A0 m8 S% h* g3 v  重新计算控制限3 D- j( P" w' W( v/ w5 k
  当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时,应重新计算试验控制限,以更排除某些控制时期的影响,这些时期中控制状态受到特殊原因的影响,但已被纠正。
- V$ c4 i$ R4 l" |  一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内,则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限,当将来的数据收集记录了后,就对照它来评价。0 s6 n1 [3 V5 w/ G: q
  控制限运用说明
" K" b+ q9 a4 w- g1 ]2 ]9 q' _  过程能力解释
$ i+ n: C9 [) L5 g  计算过程能力
7 g6 ?. l+ `7 C4 D7 W  对于p图,过程能是通过过程平均不合率来表,当所有点都受控后才计算该值。如需要,还可以用符合规范的比例(1-p)来表示。  h& k/ C4 [( q7 t5 I. R
  对于过程能力的初步估计值,应使用历史数据,但应剔除与特殊原因有关的数据点。
# z' @) ~$ ^6 G$ d% w% U  当正式研究过程能力时,应使用新的数据,最好是25个或更多时期子组,且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn
: ]* H5 L( H3 ]1 b/ ?1 S  评价过程能力$ k! R4 L0 o2 L7 C
  改善过程能力5 ~. M7 k9 O. c$ k1 N, |
   过程一旦表现出处于统计控制状态,该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因(控制)变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施,否则过程能力不可能得到改进。
发表于 2009-8-20 16:08:08 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了,没有必要再去计算,除非:
" b" N8 D' Y+ ^9 j: J" s  I' g1、过程不稳定,需要重新分析2 I. j. J, p! i, [( W
2、影响过程的因素(人机料法环测)发生了变化" T& O3 v* y& U. U$ G& n
3、定期分析(一般为每年一次)
) E6 t. D# {* C- S
: h4 i+ [( s8 z( `不管机器能力指数也好,还是过程能力也好,都是能力指数的一种。既然是能力指数,肯定是需要排除特殊原因的影响的,特殊原因的影响,就体现在子组间的变差大小,所以计算能力指数就必须排除子组间的变差。$ D' j) V  K7 p/ [
' [1 U: |) U# s+ K/ h/ x8 T' N
不分组的话,肯定是没有排除特殊原因的影响了,用总变差(子组内变差+子组间变差)得出来的指数,能称之为能力指数吗?能用来预测吗?
发表于 2009-8-20 20:50:59 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 svw0936 于 2009-8-20 16:08 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif1 ?8 }/ h0 ^% V" k0 {, _( h
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了,没有必要再去计算,除非:1 ~6 |2 t' w* R! v* r) ], }
1、过程不稳定,需要重新分析
. B8 `9 b* O$ n& m) p7 f2 o# B2、影响过程的因素(人机料法环测)发生了变化
+ |/ [: Y" |" m3、定期分析(一般为每年一次)/ N, w  V- J: N; k6 R
% F, b7 W/ @# H/ r$ F1 f/ \
...
4 y' P$ X3 C, ?
你完全没有搞懂CMK与CPK的区别,再给你解释一下,分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。
发表于 2009-8-20 21:38:30 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
原帖由 jhlafr 于 2009-8-20 20:50 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif
, o+ f9 F# r+ S% H# w& ~( D2 x8 P+ u+ n( i+ l6 p
你完全没有搞懂CMK与CPK的区别,再给你解释一下,分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。
) k( Y; V; A  [  r! {' V
2 Y9 }" _' J' I0 v. ^1 u
我孤陋寡闻了,头一次听说“分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小”。
. J. E2 L/ A0 H: O我只知道分组的目的,是为了比较子组内变差和子组间变差,以此来检验是否存在特殊原因,验证稳定性的。- Q! t1 Y0 c* |: H1 _2 m
如果不分组的话,那前提只有一个,就是知道已经处于稳定状态了。% g7 @8 C7 s* x9 O% F8 T
如果能够证明已经处于稳定状态,换句话说,子组间变差为零。分不分组无所谓,得出来的结果都是一样的。
发表回复
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则


Licensed Copyright © 2016-2020 http://www.3dportal.cn/ All Rights Reserved 京 ICP备13008828号

小黑屋|手机版|Archiver|三维网 ( 京ICP备2023026364号-1 )

快速回复 返回顶部 返回列表