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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
. j+ M( \7 D; X2 K" {* N) m 新机器验收时- U+ y& l3 d7 b, @
机器大修后
" X. ?& s; j4 `- z; J 新产品试制时& ~" G: b n: t
产品不合格追查原因时) N( P8 {; l; w: U0 Y1 \3 I4 d
在机械厂应和模具结合在一起考虑$ ]$ H* i5 F0 Y& [
Case study' e: V0 R' Z, R3 {8 I
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ$ a- j. R2 D5 ~5 ]" S) g; K
Normal Distribution-Gaussian Curve$ {, s6 w* H' y, D+ X) R- r( K3 @
A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：) P; E4 J3 q! Q+ z V
Case study6 d4 W, M. S) L, j6 {# s, u
Case study
7 m- h8 K" g, H3 X 请计算出上表的X-s控制图的控制限？ c7 i4 T! ]' b: Q
请判定过程是否稳定？
# t9 T3 b3 k' E 如果是不稳定该如何处理？
0 |0 \" E J2 M2 X/ t) V, v 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？! }$ W s" k2 F0 o: m6 t( Y9 Z1 `
B计算控制限; W* a" _, `- q. B8 q) b
Case study
2 j# p1 M& o4 ?- F/ l- `/ {3 ] Case study
# v0 t+ P0 s" f 不良和缺陷的说明, j, X; i: O( r
P控制图的制做流程
3 x T! ]& w. s: ~ A1子组容量、频率、数量
& ^7 U) j! Y7 A$ G7 ^. L 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。- C d0 h% j4 G0 h5 Z7 ]2 v
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 - L; g; q4 P5 Z, J* w; K' f
aliqq B+ e2 W; ~7 B, @0 a
8 D* V0 i4 y; w) z. g 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
8 B" v. b# z2 p9 Y6 e A2计算每个子组内的不合格品率/ M+ N0 @. ]) x" V; y. D- P) ?
记录每个子组内的下列值
0 @1 t4 h( E, c3 \7 k% q9 i 被检项目的数量─n
, @5 U2 w4 F" Q! }- k 发现的不合格项目的数量─np
" w/ {, o: M9 a) K 通过这些数据计算不合格品率0 D8 G2 a" K0 R) \7 x
A3选择控制图的坐标刻度6 H$ {/ ^' m F+ _1 Y
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。: Q1 ?, \7 ?' z6 L1 x9 ^
A4将不合格品率描绘在控制图上; P$ H# y; M1 ?: x& A; _; c
描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。& f6 a0 @# }$ x2 ?; J4 |
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
# ^% i p/ Y+ V: `/ W4 | 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。1 e- x6 w5 m: f# Q6 ~; ?
计算平均不合格率及控制限
: a! l; Y' {5 I' p! @ 画线并标注
6 ?: S# E G% C 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。. ?% E3 o- g+ B2 J
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。5 @+ @1 h6 u. X
尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
0 j' g; y" N; e1 I; C) q 分析数据点，找出不稳定的证据- ~2 J, F P" N3 c, S
点5 f# v* T3 ?/ L0 B* ]) L
线
( N6 e0 ?/ Y0 m- t' `0 T, @ | 面
& A1 C: ^7 Z% ?3 o, J 以上三种方式做判定。 aliqq
$ Y4 O( [! v; k) {7 \ 寻找并纠正特殊原因
1 x1 P: [+ e2 Z/ E- t* A 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。 M. m; @, y h! `6 |* \; w! D
控制图的实时性
$ g$ l; B+ r7 c 重新计算控制限2 V0 c: @, F- \ W( y& L$ [: m
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。, c4 j3 G& j9 F0 @
一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。
2 d D% K6 S* Q) c2 g- x 控制限运用说明/ v$ y8 U r* U& c Z# n
过程能力解释
, y9 C! @+ r7 y( ^+ s0 E) m' E 计算过程能力/ h7 Y' r% N" X( R
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。
. n1 f6 o# k: A% ?3 j5 F+ g" H 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。/ p: [7 ~$ Z: p$ O4 @
当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn ^$ ?, y# f" b5 L" D7 z1 q
评价过程能力
( x `) ?! `9 E4 O 改善过程能力! h( v4 v, S! s# e) r6 G
过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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