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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
5 A) a4 s/ y! j Z" `* T. R 新机器验收时
0 z. K+ y B; ~) L& u8 i. N 机器大修后: `7 G; [, d: \
新产品试制时; a( x4 m+ i3 N8 I& w
产品不合格追查原因时
' C$ t( W0 q( F9 p+ E 在机械厂应和模具结合在一起考虑5 K5 A& F6 Z1 d5 }
Case study
/ j4 Q6 S2 Y, n/ P, a WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
! {, B& F F2 U$ F Normal Distribution-Gaussian Curve. w' m, C- {) T0 N" _
A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
, w" l1 b( B D0 j Case study
) M! ~4 U* r% Z& j( e Case study. y% F* m& C1 `- o9 e/ R0 u5 _
请计算出上表的X-s控制图的控制限？6 O& I( _; j. q, P+ O2 Z( ~
请判定过程是否稳定？) P4 Z1 x3 ~8 P2 g, G) p- ]
如果是不稳定该如何处理？
; I5 @ Y' w" n1 j% C6 I 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？' o5 [6 `" a ^0 E% m. Y
B计算控制限5 l/ ?2 m/ K: G$ F1 H- Y
Case study5 z* ]. D) p4 v% g8 y& W1 o
Case study
, [1 b! f8 B+ I# M) f 不良和缺陷的说明
5 {0 N z( X/ D i7 A3 e+ s P控制图的制做流程
$ A* S" P6 m9 B% |4 i- P( [8 f8 \ A1子组容量、频率、数量
! k k8 S: v; X D t 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。/ o$ l- T; c* k6 E9 K6 O( l
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
4 M4 N/ q: ]! Naliqq8 R1 I: }2 F. t+ `7 a& R7 T; z
' W, u4 u6 u) A. m
子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
+ S! z: J& q+ C A2计算每个子组内的不合格品率6 U6 D+ [: R5 C6 t6 k" Y1 W
记录每个子组内的下列值
: _1 }! l- b" Y$ R( M3 i& g$ y 被检项目的数量─n% n( H9 n+ R4 P+ }- C
发现的不合格项目的数量─np2 i1 S% j! k& |: B7 p; z9 f- \
通过这些数据计算不合格品率
* V9 u0 |9 b% B8 O% s, j8 } A3选择控制图的坐标刻度$ D8 h% ?5 O* n0 J* m* ?' b
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。' \/ h: E- d/ ?9 A
A4将不合格品率描绘在控制图上
* f* J, V/ Z, D 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
7 _/ u9 Q# p0 Y7 H+ Y) u 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。5 B+ U& k( R$ B6 G* C- v
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。
3 R5 P' E5 l- R 计算平均不合格率及控制限
7 [$ k3 i% ?, Q) h) M! C! ? 画线并标注
5 [, @2 K2 x+ z& e9 K+ H 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。) K8 j8 x/ U" @% R( ]; a. R
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。
& I; `- j. H7 q( }" D 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：) V# y8 {! o b* @/ l% U: s' |. F7 M1 f
分析数据点，找出不稳定的证据
8 `- s- m9 h v$ v, I/ X1 v, H 点+ _; W# N+ b7 }& S8 _) ~
线
7 p* e5 {/ \( G4 f" m, I, j 面1 F* G, B6 F; o0 D- \; @- C
以上三种方式做判定。 aliqq * [ E/ T* f1 n2 q" ]. k7 ~: r2 w
寻找并纠正特殊原因
/ s' A% H5 G. p- Z 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
- ^' o8 u6 \# s 控制图的实时性
: i0 d- ?' o0 H3 G 重新计算控制限5 @7 P( p, w5 `: m
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
0 {1 E! E e$ I4 l) K. } 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。, g9 y' G) W/ [' o3 `! X& `5 l
控制限运用说明
3 U. T& l- o: g 过程能力解释
% f( i8 Z1 p& ~4 d6 E 计算过程能力 J/ x/ V4 D; L- l' u, S
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。# Z! L! v R; h7 R/ w2 s- w
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。' q ]8 q+ U' m" W- x, m( V4 X1 ~ A7 ?' A
当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn ; T0 P5 O) U3 o; N
评价过程能力
, }: Y' u6 l6 h# z2 Q 改善过程能力& q& r) r+ y& R+ o+ k
过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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