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8天前
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[已解决] 关于CMK的问题

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发表于 2009-6-7 21:26:59 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国江苏苏州

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x
我们在做CMK抽样
, k7 l% @! K; S0 n# a1 F$ }( X连续抽检50个样本
$ D3 x5 c  w7 {* }2 c, L6 p( s6 {需要分组嘛?/ V1 k8 {: q% D& e! y( `0 M& i; @) L) H
难得就直接用STDEV把50个样本的西格玛算出来" r" H( [' f0 {5 c" L0 H
,还有就是我厂的产品,机器生产出来有很多个尺寸,是不是只要测量其中的一个尺寸,总共得出50个尺寸就可以进行CMK的计算了?
8 d) n. L  P2 Z8 N帮帮我谢谢大哥们
/ p, W3 v+ I- @. G* V9 v$ ]! ^# x8 @7 V7 Z3 U; V7 y% I
[ 本帖最后由 YHHL 于 2009-6-8 17:38 编辑 ]
 楼主| 发表于 2009-6-8 14:35:32 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏苏州
:ang: :ang:

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参与人数 1三维币 -5 收起 理由
YHHL -5 灌水

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发表于 2009-6-8 19:34:17 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
使用任何数据,然后再套用公式,都可得出计算结果,问题是这样没有任何意义。
( M5 n( n1 K: J# c  X
: [1 l: A$ `# [, i, k首先,你的抽样有问题,没有考虑过如何抽样。一般情况下,每次连续抽4-5样本为一组,取20-30组数据(一般要求不少于100个数据)。
6 R/ j9 T  }1 T7 V1 w其次,计算Cmk时不用STDEV,要用R/d2.

评分

参与人数 1三维币 +3 收起 理由
YHHL + 3 应助

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发表于 2009-8-17 15:05:33 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏苏州
测CMK当然只能针对一个尺寸做CMK,举例,这台设备做跳动可能cmk比较高,但不代表圆度的CMK也一样好。
发表于 2009-8-17 20:50:32 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
没有搞清楚就乱回答,CMK不用分组,针对于特殊特性做。
发表于 2009-8-18 10:02:09 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。" _, P9 ]- Y6 V$ l8 n0 ]3 H
如果真的理解了能力指数和性能指数的区别,就知道到底有没有乱说。: M+ w0 D* q. H8 {: u3 F; z5 f
如果对基本概念都理解不清的话,还是别误导人家的好!
发表于 2009-8-19 20:53:20 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 svw0936 于 2009-8-18 10:02 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif4 w. ^  J; h$ K6 k! b2 Z
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。
; `* M2 E  M: Z2 B: s如果真的理解了能力指数和性能指数的区别,就知道到底有没有乱说。
" x+ h* k  a& Z' X4 }+ v如果对基本概念都理解不清的话,还是别误导人家的好!

; I0 Q: s8 Q+ H4 _  M提醒你一下,CMK是设备能力指数,不是什么能力指数和性能指数,你确实需要先理解基本概念。
发表于 2009-8-19 21:21:36 | 显示全部楼层 来自: 中国广东深圳
做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.
发表于 2009-8-19 22:20:28 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 hansenyi 于 2009-8-19 21:21 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif9 O" B" o1 w! {4 F- v1 U: z
做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.

! {6 F+ u( B) U+ r1 Y) _( v又一个基本概念不清楚者!
发表于 2009-8-20 09:35:05 | 显示全部楼层 来自: 中国台湾
何时应用Cmk指数
% z9 a# d# `% [- |1 a  {- z$ h  新机器验收时
5 C* M" P  k( U$ b5 l$ H! p  机器大修后$ r- @, G" X* q8 q5 I; e; L
  新产品试制时3 N- H0 P8 }. C, G1 _. ?3 f# u' U
  产品不合格追查原因时5 B( K  ~/ i6 B" A/ @, f
  在机械厂应和模具结合在一起考虑
, Z' v9 z" r' Y# \* K  Case study
5 ~+ H  Z- {4 r4 x$ H9 \* @' V* E  WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
0 L3 b7 f' o, M/ }2 i  Normal Distribution-Gaussian Curve
8 F* [+ P& C9 R2 I* q: w  A收集数据:在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下:5 k8 p3 y& I8 R0 N9 W& T& |1 f
  Case study+ a% A# b' {0 S& w5 j# q, B" j  b
  Case study7 ^1 Q& i& `) m0 t) j
  请计算出上表的X-s控制图的控制限?
# c( g7 F& @' X2 B$ {  请判定过程是否稳定?/ l& m( c1 d+ ^; D4 Q8 ?* q0 r
  如果是不稳定该如何处理?5 s- k+ C7 ?; E* z- p" Y3 y
  如果制程假设已稳定,但想将抽样数自n=4调为n=5时,那么其新控制限为何?
; u- u7 m, {7 n% t4 G  B计算控制限
" a$ \7 G+ d7 X  Case study/ b( T# _0 M: F0 |  c
  Case study3 J5 I% I3 O9 m% W
  不良和缺陷的说明6 ^$ I8 M& c% Q% s0 \0 a; w. a
  P控制图的制做流程$ ]+ {# B. [* ~) p
  A1子组容量、频率、数量6 z. a, ?' N, `' e+ Z& s' A/ o
  子组容量:用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化,一般希望每组内能包括几个不合格品,但样本数如果太利也会有不利之处。
" O0 `( A- r1 I* c  分组频率:应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快,但也许与大的子组容量的要求矛盾 7 D5 \8 B# P! M' y6 @' O
aliqq8 W% `9 Z; V  T$ Y) v0 ]8 C
* Q; g- C# a2 n5 Z7 B
  子组数量:要大于等于25组以上,才能判定其稳定性。
$ K( Z! d% P0 l; d! N  A2计算每个子组内的不合格品率/ g8 p3 E" i8 p" N) |3 Q
  记录每个子组内的下列值
: P2 T1 }2 I! V4 y% v  被检项目的数量─n
$ i6 `3 \7 I) r' z  r  发现的不合格项目的数量─np9 I" z. M/ k$ g& n
  通过这些数据计算不合格品率
% X7 t# u& L! t, D$ g% u0 @  A3选择控制图的坐标刻度
! ]; s/ a/ g/ C# p; ~4 y: Q( H+ i  描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标,子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
, j  Q% b  y4 j' T# A  A4将不合格品率描绘在控制图上3 M  O5 \; E7 A4 Q: G* j/ k% P
  描绘每个子组的p值,将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
) P( W( `: Z; ~% D  当点描完后,粗览一遍看看它们是否合理,如果任意一点比别的高出或低出许多,检查计算是否正确。
4 T6 u5 y$ M- }# M: M  记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况,当这些情况被发现时,将它们记录在控制图的“备注”部份。9 l" \3 X2 g# N7 k9 e
  计算平均不合格率及控制限
' T: a, z1 H' @* ~! o) P% e5 z: _  画线并标注' Z4 m9 D% U, ^* ?
  均值用水平实线线:一般为黑色或蓝色实线。' U  k- d( X/ g
  控制限用水平虚线:一般为红色虚线。
9 ~) F- P1 |' O$ z, J  尽量让样本数一致,如果样本数一直在变化则会如下图:& ^$ \/ `, D1 Z2 i  J/ U0 g, Q
  分析数据点,找出不稳定的证据
& c, g$ b  f# L$ w) ~: x. u* L1 \  点
6 G! @6 ], t* Q( D  线
7 I. R! [, W2 ?  面
3 ], }/ X* D9 }9 j: y0 U5 T- d  以上三种方式做判定。 aliqq
$ n4 A9 R+ |5 |  寻找并纠正特殊原因
& ]. r, s' }4 r# g& J  O* @' Z  当从数据中已发现了失控的情况时,则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的,要求对操作进行分析,并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
- s- H9 G, Y" p0 R% U: a1 A9 c0 E; y8 i  控制图的实时性
8 V0 ?# ]& g+ r6 d  重新计算控制限7 z! L2 U4 {: m( ?$ H9 I
  当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时,应重新计算试验控制限,以更排除某些控制时期的影响,这些时期中控制状态受到特殊原因的影响,但已被纠正。# M, \  [* W5 h$ b$ ?/ E3 {
  一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内,则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限,当将来的数据收集记录了后,就对照它来评价。1 s3 z/ L0 p+ W3 D) z( R
  控制限运用说明, p' ~* L  ?* L- i
  过程能力解释
( f' Q! I; v, y: @  Q  计算过程能力  }( K8 U" V0 |8 X! \$ \: |
  对于p图,过程能是通过过程平均不合率来表,当所有点都受控后才计算该值。如需要,还可以用符合规范的比例(1-p)来表示。
% P) E3 _0 `  C1 w2 ~) f  对于过程能力的初步估计值,应使用历史数据,但应剔除与特殊原因有关的数据点。$ s) O4 C" z3 y
  当正式研究过程能力时,应使用新的数据,最好是25个或更多时期子组,且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn / y1 g) y. [5 W4 G4 y- @
  评价过程能力/ E# q$ f8 @( l/ X) u5 a% }) n
  改善过程能力
  b0 M! s4 a' x" S4 u: T   过程一旦表现出处于统计控制状态,该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因(控制)变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施,否则过程能力不可能得到改进。
发表于 2009-8-20 16:08:08 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了,没有必要再去计算,除非:" o9 s% X+ g% x6 I, T
1、过程不稳定,需要重新分析
5 Q  M- J2 j9 q7 N  _0 m% k2、影响过程的因素(人机料法环测)发生了变化
- _) H; v$ Y7 k$ ^6 e; B3、定期分析(一般为每年一次)
3 C  A7 Q% `& T
. |( a& q4 F$ ^; u8 k) n7 v不管机器能力指数也好,还是过程能力也好,都是能力指数的一种。既然是能力指数,肯定是需要排除特殊原因的影响的,特殊原因的影响,就体现在子组间的变差大小,所以计算能力指数就必须排除子组间的变差。
) ~' f( @( ?- Z# r) z( c5 p. }
8 z& p/ A9 q: g- H5 r( B不分组的话,肯定是没有排除特殊原因的影响了,用总变差(子组内变差+子组间变差)得出来的指数,能称之为能力指数吗?能用来预测吗?
发表于 2009-8-20 20:50:59 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 svw0936 于 2009-8-20 16:08 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif5 n8 W$ v% ^+ X; l! [
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了,没有必要再去计算,除非:) v; n& o# _- F; L$ ^, C8 f& j
1、过程不稳定,需要重新分析
! i& X( e% D  p5 y) P7 ?+ v3 W8 U2、影响过程的因素(人机料法环测)发生了变化) b: Q: ]" {  i) M; s
3、定期分析(一般为每年一次)
* Z4 @8 D; }3 ?0 U1 h* R1 Y6 q* E5 l2 R$ z( q
...
3 \, P5 `' G# w& ?; w
你完全没有搞懂CMK与CPK的区别,再给你解释一下,分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。
发表于 2009-8-20 21:38:30 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
原帖由 jhlafr 于 2009-8-20 20:50 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif! |+ v# y' o. ?, {/ M

" R& j- `" f, g: }2 i你完全没有搞懂CMK与CPK的区别,再给你解释一下,分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。

2 h; t8 h! l; m7 k7 [
+ ]$ w8 W, W4 i: Q7 a  y! x: }我孤陋寡闻了,头一次听说“分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小”。4 ^3 K; `" k6 I  `9 x4 T
我只知道分组的目的,是为了比较子组内变差和子组间变差,以此来检验是否存在特殊原因,验证稳定性的。1 l1 |3 o2 _) k. w1 F: p% P
如果不分组的话,那前提只有一个,就是知道已经处于稳定状态了。
1 T0 G7 D6 A' i% q. K- U9 Y8 B如果能够证明已经处于稳定状态,换句话说,子组间变差为零。分不分组无所谓,得出来的结果都是一样的。
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