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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自: 中国台湾
何时应用Cmk指数
! [0 Q% W: a5 ?9 ?$ O3 ^8 k 新机器验收时( }0 t# t" g% q1 \7 v: J* E; n
机器大修后
; i! X/ g: v& k& @; r 新产品试制时2 l6 D% [. i1 c/ m/ x1 ~
产品不合格追查原因时
& P) F+ }3 o( F9 I1 i& n7 f( B 在机械厂应和模具结合在一起考虑# l- g# k$ r; w
Case study- R0 n9 m$ w- n O5 M$ B3 A
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ+ [" ^0 O1 v! y; S x
Normal Distribution-Gaussian Curve
; g' E# E Z" f3 W9 k A收集数据:在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下:
4 e( C$ _& Y9 m9 a Case study& X$ G6 x+ p, p& |4 q$ y q6 h# h
Case study$ ]& L. Y; o3 L1 ?3 W6 Z7 U
请计算出上表的X-s控制图的控制限?! E6 D7 e4 q. D2 O6 I
请判定过程是否稳定?
* D: {$ v# r2 t! {: P 如果是不稳定该如何处理?; }, W# P z& E0 R' H
如果制程假设已稳定,但想将抽样数自n=4调为n=5时,那么其新控制限为何?- U# m$ l1 F }6 ~/ n7 A
B计算控制限8 w3 n# n, e# N9 m" H' U. x3 ], j
Case study% w' E, I- ?" d
Case study9 [8 p& u, W! T8 F6 W" v: S% ]
不良和缺陷的说明
$ L8 f! l' q+ v& x) @ P控制图的制做流程
$ g; ~0 S# E% ?# k J, G8 M A1子组容量、频率、数量9 r% P& a0 n1 I" O0 m
子组容量:用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化,一般希望每组内能包括几个不合格品,但样本数如果太利也会有不利之处。
5 R, D& d ~% J 分组频率:应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快,但也许与大的子组容量的要求矛盾
- y7 F1 q. {+ t! H. t8 O* |. raliqq# ^& I9 t4 k: C5 O+ l+ H$ R
I. t) a5 f7 d3 U( ?, l+ _8 H/ `
子组数量:要大于等于25组以上,才能判定其稳定性。
$ @* A. x, V, a L A2计算每个子组内的不合格品率
4 y* ]- H2 ]& R3 O% \! x 记录每个子组内的下列值
5 N, j1 B8 Y) k4 `) J3 Z 被检项目的数量─n4 M7 K+ l% L1 m$ H
发现的不合格项目的数量─np
/ s) K$ F3 a7 R- H: G 通过这些数据计算不合格品率 l; g! k8 y% R# Q2 d1 d: Y
A3选择控制图的坐标刻度
8 e" O$ ]. Y* f/ B& k 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标,子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
& Q5 {/ f( w9 j+ h A4将不合格品率描绘在控制图上+ f+ i8 c/ w! A; c
描绘每个子组的p值,将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。* v' @ X7 o p- ^9 P& j/ V* o
当点描完后,粗览一遍看看它们是否合理,如果任意一点比别的高出或低出许多,检查计算是否正确。+ J" }" y( W1 S
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况,当这些情况被发现时,将它们记录在控制图的“备注”部份。
" l; q: k1 i1 P( I 计算平均不合格率及控制限- R' z6 X" Z& i- u# ~- \/ m, {
画线并标注3 d: X! U1 N) u# R0 F2 h
均值用水平实线线:一般为黑色或蓝色实线。3 U. v/ K8 e; l& L
控制限用水平虚线:一般为红色虚线。
% k6 R% E: q; w5 m N, E" t 尽量让样本数一致,如果样本数一直在变化则会如下图:
7 ?: K# y" |3 W' E 分析数据点,找出不稳定的证据5 i% n4 u' k7 g
点; Q) W" I* L. Q& G, T# y# b+ b
线" F% I) B7 b% E% ~8 f
面$ i5 `* N- B* T' r8 v/ F
以上三种方式做判定。 aliqq : T% N& y8 e/ H9 |- M, e$ b
寻找并纠正特殊原因; ]5 U+ P( z+ Y( ^
当从数据中已发现了失控的情况时,则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的,要求对操作进行分析,并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
N% K) f. e7 x' M- D% K$ Q 控制图的实时性
3 y+ E3 \; C1 K" M$ N5 q 重新计算控制限 \% B& y; Y: N; I
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时,应重新计算试验控制限,以更排除某些控制时期的影响,这些时期中控制状态受到特殊原因的影响,但已被纠正。
9 e( Z9 ?( a6 }; } 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内,则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限,当将来的数据收集记录了后,就对照它来评价。5 E' ~% B3 F" [
控制限运用说明" i7 Z7 C p3 A. w# Z& z( `5 Z
过程能力解释
- V: f5 S1 \. `. w& c# F6 c# q Z 计算过程能力
# Q1 L2 F+ \3 ~5 Q. K6 G. {( G 对于p图,过程能是通过过程平均不合率来表,当所有点都受控后才计算该值。如需要,还可以用符合规范的比例(1-p)来表示。, L( y: @) z; I1 L" Y
对于过程能力的初步估计值,应使用历史数据,但应剔除与特殊原因有关的数据点。
* [$ U u0 W/ d, x 当正式研究过程能力时,应使用新的数据,最好是25个或更多时期子组,且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn & t" }0 o1 o$ q7 g
评价过程能力
5 S% X! j% D: I, l" {2 i 改善过程能力
: Y. A% d4 @& x+ ^2 r* c 过程一旦表现出处于统计控制状态,该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因(控制)变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施,否则过程能力不可能得到改进。 |
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