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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
" ~3 P% F8 J+ E: |4 W1 X0 @ 新机器验收时+ L: g) g$ z3 B D4 E) {
机器大修后
8 @; O: a; V/ `$ \9 Y% t1 Q% a 新产品试制时3 ~- C" E! Z. J: J2 X2 |7 Z: q
产品不合格追查原因时% [4 h+ h( |% o: @/ c/ X4 E4 D
在机械厂应和模具结合在一起考虑
+ i, Z& c4 c8 q( L. c Case study2 L/ j/ e2 G% H0 ` S: L' |4 v
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
5 d" v0 f( u! W+ O Normal Distribution-Gaussian Curve
- d h% a5 j, h A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：5 n c- D5 R4 ?& `/ X* ?) b; B
Case study
4 z' K! Q& a$ W. O) J1 H' Z Case study
# s% ?2 R& `+ j 请计算出上表的X-s控制图的控制限？
) ^/ [' O1 |4 B8 b- U 请判定过程是否稳定？( J$ }# T2 U- t. {7 }4 Y# T
如果是不稳定该如何处理？
( s: l/ Q6 m9 C9 { 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
, q- f$ ]: v1 n' A4 X1 r/ i( r) e B计算控制限* P3 b$ A" u$ C; i# D
Case study& l, ~ C2 i" I3 X; S m7 w
Case study
6 V2 z2 f: T# _) v: O/ w 不良和缺陷的说明
' B" O" j& M- s3 l. R P控制图的制做流程2 k3 R9 A. m2 s& R2 u
A1子组容量、频率、数量) d" Y4 q; V/ c/ ~1 U
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。
3 t4 f1 H* F* Z* e 分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
" j% n! f; ~& Ealiqq
# b4 f3 j6 r# v* z8 E7 b5 @
- {3 @; s& ?$ N5 n A* [ 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。, H, _/ ^4 u4 T" H
A2计算每个子组内的不合格品率+ a' Z3 s3 x/ b1 u$ N
记录每个子组内的下列值
9 H( K% j/ U$ G" w$ n5 Q$ } 被检项目的数量─n- T, Y1 d' j4 e$ _* ]/ n4 [5 o8 u
发现的不合格项目的数量─np+ Q$ p" H& N- H+ L
通过这些数据计算不合格品率5 R. X/ v- g: G+ t9 a* }( M. l
A3选择控制图的坐标刻度
: D& r- B9 k0 W1 ] 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
9 W) q0 j( I! ^. a' g$ d. F& @ ^ A4将不合格品率描绘在控制图上
1 Q: ]% ^- O0 g4 d- g/ r1 U 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。% c* [6 w3 `* U9 V5 w) e
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
( y* V& R' c& g 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。/ _9 q6 R, u! I1 E4 U/ L& y1 e
计算平均不合格率及控制限
+ ~1 }4 w2 U9 \) K, m. D% a6 | 画线并标注' @9 o+ k$ {! _/ L+ w9 ^( l2 `
均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。% m# r% ^$ f# G' I% a
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。
1 B$ [5 L- J. p0 K) l( S 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：( l: u6 N8 T0 z/ V; b
分析数据点，找出不稳定的证据+ ]# y6 i5 k8 O; V6 N1 w
点
3 K& P) z" G8 `, A5 M6 M 线/ g4 ]8 }3 M, ?; ~6 F, b2 Z
面& ]" D% g" D' i
以上三种方式做判定。 aliqq
' j( o5 V. ]+ O4 E6 ]3 I 寻找并纠正特殊原因8 C7 G+ a, T* \
当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
- k6 Z/ [! H0 u! w" p. M+ a 控制图的实时性1 J5 k7 Z1 q1 A3 a, L
重新计算控制限& l) U! E+ T3 p/ S Q: F) z' f
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。/ d* P7 B. f: ^' ?* \1 O& _4 `
一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。
5 U$ a4 A7 x- W, W 控制限运用说明
; O4 n5 n. t+ D5 N. F, _8 X A1 x 过程能力解释
0 ]! g+ x7 [. q+ R d% b" v 计算过程能力
@6 }- W* C# `1 q1 u5 X' I3 P+ I 对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。 d) j7 r* s+ e8 Z; Q2 }- F
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。) {! O+ ~3 c0 `2 ]& K+ k
当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn ' q4 a0 q: O/ v, s; K
评价过程能力' D4 Y. o* N8 |2 \" p) f* m9 t/ A
改善过程能力
' s8 I) ?# t3 b 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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