|
|
发表于 2009-8-20 09:35:05
|
显示全部楼层
来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
3 I* ] n, y2 a5 C) |; s v 新机器验收时
) q6 E' @3 H9 T$ z" D 机器大修后; v. p, [- z5 w2 {) O5 q
新产品试制时
8 O( }( F+ i: s+ V5 o 产品不合格追查原因时
. }5 N" V2 Z% ]! p 在机械厂应和模具结合在一起考虑$ j: ?* ]" L# x7 ?; N4 m
Case study/ } Y1 {8 K/ J1 c1 }: w% _4 G) t
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
' i. d0 o2 r& `1 f! V" f4 }- G' m Normal Distribution-Gaussian Curve8 R9 t8 J* V6 C# B6 P$ d
A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：+ {% w8 ~- Z% H/ {: {4 X
Case study
/ F* @2 o7 B. |& a: n Case study
+ W6 b, _# Y* O" Q0 R 请计算出上表的X-s控制图的控制限？
+ T6 X( l% N. P6 H 请判定过程是否稳定？# F5 g; V5 q- l* X
如果是不稳定该如何处理？
& X. L o! i/ e, |. i' v- i8 Z 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
' F* x4 y( v0 r4 _( w: q' e B计算控制限 _; p: D% |+ | B2 Z- \
Case study6 b1 l, C8 b; b
Case study
( h7 Y5 d" l [4 l/ { 不良和缺陷的说明/ V: g7 l" R0 A! Y9 j b4 l
P控制图的制做流程
) U9 K# b% h4 q2 m4 W3 C* ]6 P+ V A1子组容量、频率、数量+ H1 H1 b J9 B7 C
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。1 l, l$ M! b* Z3 P6 P
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 0 O! n6 o; ?2 X: N
aliqq
4 M5 y% }% o3 u5 \$ p% v1 x
9 t4 s/ @6 y) l+ f 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。8 s4 ]: f( d; v% @" |) o
A2计算每个子组内的不合格品率/ m5 d( l9 q V5 ~: \* n/ b& s
记录每个子组内的下列值' P9 e4 \, z5 n/ c
被检项目的数量─n8 ?! W. J. A. u. _, q8 `; T1 h
发现的不合格项目的数量─np7 M/ L# a$ q6 _
通过这些数据计算不合格品率
0 E/ `2 e3 S/ V& `2 t% n A3选择控制图的坐标刻度1 ^- S- o0 g; T4 c8 f9 b% h
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
- M! V( E `- |7 d0 X1 V ?! e A4将不合格品率描绘在控制图上$ r7 M: h. a3 j5 l& i1 f
描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。7 Z9 {( N; ^/ D+ |$ ] k, k, x8 ^
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。/ D! [0 }9 R2 N9 k! o9 T
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。# e# r9 y9 c; i9 Y
计算平均不合格率及控制限! y% X9 H" e; {% X7 K
画线并标注
; U% M. C5 l* J1 j& P$ Q 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。
, I& A$ \- g1 a# [7 b% {/ k( r 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。4 R& p! J& G, u4 D
尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
3 s. Q" ~7 {5 N5 D 分析数据点，找出不稳定的证据
7 j3 Q6 ?; Q" o1 M6 l5 P2 ] 点
/ B! P7 l9 O- p2 W3 T1 m* r 线
/ Z. w# B* I+ Z1 r5 L. n& s 面
& a6 ~/ A( {# e9 f 以上三种方式做判定。 aliqq 6 }& s7 b& L. m& q
寻找并纠正特殊原因
/ _! B. I, f: r7 C2 S 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
# y! ]% D7 T- H6 K4 s0 G 控制图的实时性
$ q5 n% D e' }% ^/ X 重新计算控制限
$ @# T2 W% Z: D 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
$ V9 F( Q" T9 ]$ N 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。4 i/ `! X* r6 K3 s; h" [
控制限运用说明
( g, M) J9 P3 }6 a 过程能力解释
, Z6 t9 G. z9 I+ [% s1 S 计算过程能力" l9 I+ Z% P6 D( m. W9 F4 B
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。
6 O0 b/ a# T/ p/ G 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
, t& z6 ~" e3 k3 u, B) H4 h 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn
% a t: R1 |3 n7 g/ S. `: F+ L, v 评价过程能力
8 J, ~8 P+ y, z* G3 P% O 改善过程能力
) s& f" [. \" X4 W, j4 ? 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
|
[复制链接]
楼主
:ang: :ang: