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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
' b1 |6 T/ W7 o a" d 新机器验收时
H9 ]6 g# z# O- Z0 | l. k 机器大修后, ]$ Q8 s+ I1 ~$ T( L+ o" F
新产品试制时
4 F5 k7 X6 X! A& j- i 产品不合格追查原因时
) ~9 [2 e* v) }; G3 F; ^# s3 [ 在机械厂应和模具结合在一起考虑! V* K n) }0 w+ h5 Z
Case study
5 J5 t9 L/ x; a! q& u3 G& k WHAT IS MOTOROLA’S 6σ* U8 M; q$ ^% n
Normal Distribution-Gaussian Curve
% |* L. v* S# h0 }4 }$ M) b/ H9 F [0 ?% ~ A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：" R1 r. E& Q- ]5 y2 j
Case study
N! P( `+ j5 o Case study2 |, k! _' g' P* i4 l0 ^
请计算出上表的X-s控制图的控制限？
3 p+ r' Q% e4 V% b h' x 请判定过程是否稳定？5 I4 e) O- @6 f& |
如果是不稳定该如何处理？
" L$ I- g7 y3 u4 R# Z9 r j* \7 { 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
! U+ R8 T0 ?' z2 T2 l B计算控制限
0 u4 s; l- m+ I; \3 E. W) r1 e1 O Case study% L3 P* i/ t! a* D
Case study
7 m6 N/ d5 y9 v1 X/ {5 N( q1 I 不良和缺陷的说明( r$ Y& q x3 ~3 d* p
P控制图的制做流程7 d6 O+ I# i* q0 z3 ]0 {" r9 B
A1子组容量、频率、数量
4 C2 n1 g; \9 C y9 ~, j+ @ 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。6 N8 i# l8 r8 d" L6 u" q; i
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
5 t X1 V* |+ k. ^ k8 u" Galiqq2 [ j& g+ Z& V0 c% ^& B8 M
) D$ k5 s8 E, s3 h: L
子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
% V) d/ S5 M1 w! \# U A2计算每个子组内的不合格品率
& ~7 i \9 g w. ~2 X5 s. Q. g- o 记录每个子组内的下列值. f) |5 J( B) _2 n3 A+ x) v' p u
被检项目的数量─n
) R$ S+ G N% y8 \# F 发现的不合格项目的数量─np8 x# l/ F: I7 A) c
通过这些数据计算不合格品率& K) ~# \/ D* \' y |2 M
A3选择控制图的坐标刻度$ }" H* T% T3 h: }# V( ?
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。$ f; o7 | ^* n ^3 b# C; N
A4将不合格品率描绘在控制图上: U" _ |/ G5 I2 [& M8 v' g
描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
7 E9 I' z1 W- S$ ^9 n5 C 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
2 k# y" H6 }* i/ d 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。! h- w& v% _5 n& v
计算平均不合格率及控制限
. T6 g1 e# }- {5 j 画线并标注3 p9 U8 ~" r0 F, c! e& F
均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。
1 z7 g, W0 l# O; n! b 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。- i, V* J3 U1 x; X3 a3 k0 o: y4 i* [
尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
+ k! ^( l. W( }3 ~ 分析数据点，找出不稳定的证据
! r# ?6 }: D; b. ~8 d" X% c 点
0 w8 `4 N5 d0 q* r5 l! O" ?' X 线+ d4 ^: j% y- k& q0 r
面+ ]% e& |1 s/ i3 Q
以上三种方式做判定。 aliqq
& H6 U+ ~/ J8 M 寻找并纠正特殊原因+ X% |; \3 Q" J$ j
当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
9 ?# Q) ]' }% p( K 控制图的实时性
* R+ x0 P# x' Q% Q5 M. V 重新计算控制限
6 u( R D6 F) E& a* \2 s, y 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。3 ]% A" Z+ {, T: \9 k8 C
一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。
; n( G" k7 [# v. ?9 D8 n, C3 ?- H1 V 控制限运用说明
8 A) ]9 B% |7 Y$ r3 ?! ?" e& t 过程能力解释( B' D7 p* R8 a4 i6 t
计算过程能力6 v7 J- U# J9 z5 t. C( K
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。
[' d/ l2 V0 w, q9 W. ? 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
( Y6 A$ \, _: S* g, O0 C( J+ ?2 @ 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn
2 o# }9 s: ` V 评价过程能力$ H1 z/ `. Z4 l7 l& ?+ Y9 |
改善过程能力+ t# x% \ s: H: N
过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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