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[已解决] 关于CMK的问题

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发表于 2009-6-7 21:26:59 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国江苏苏州

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x
我们在做CMK抽样& i. u! a4 d0 r( C+ K' U9 H
连续抽检50个样本
* ^3 K5 K( e/ z. R" ?# h需要分组嘛?  U5 ^" ^# Q& ^5 C$ D. T% ?
难得就直接用STDEV把50个样本的西格玛算出来# c7 `% y# w( U' V4 l; ]# T
,还有就是我厂的产品,机器生产出来有很多个尺寸,是不是只要测量其中的一个尺寸,总共得出50个尺寸就可以进行CMK的计算了?
" O# q# L$ z: s( V2 M帮帮我谢谢大哥们
/ M+ R% D( v4 g+ r$ z
6 w9 i8 s& I/ j1 Z4 _[ 本帖最后由 YHHL 于 2009-6-8 17:38 编辑 ]
 楼主| 发表于 2009-6-8 14:35:32 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏苏州
:ang: :ang:

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参与人数 1三维币 -5 收起 理由
YHHL -5 灌水

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发表于 2009-6-8 19:34:17 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
使用任何数据,然后再套用公式,都可得出计算结果,问题是这样没有任何意义。
  w' U6 @5 I8 `/ A+ s; A0 ~4 g" o
首先,你的抽样有问题,没有考虑过如何抽样。一般情况下,每次连续抽4-5样本为一组,取20-30组数据(一般要求不少于100个数据)。
4 i9 h- o7 |" ^- y4 p% j- h其次,计算Cmk时不用STDEV,要用R/d2.

评分

参与人数 1三维币 +3 收起 理由
YHHL + 3 应助

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发表于 2009-8-17 15:05:33 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏苏州
测CMK当然只能针对一个尺寸做CMK,举例,这台设备做跳动可能cmk比较高,但不代表圆度的CMK也一样好。
发表于 2009-8-17 20:50:32 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
没有搞清楚就乱回答,CMK不用分组,针对于特殊特性做。
发表于 2009-8-18 10:02:09 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。$ d" o+ M+ y% u& I
如果真的理解了能力指数和性能指数的区别,就知道到底有没有乱说。+ i' \9 ]2 `- R" R, B$ f3 Z
如果对基本概念都理解不清的话,还是别误导人家的好!
发表于 2009-8-19 20:53:20 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 svw0936 于 2009-8-18 10:02 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif2 w) D; I" v0 Z0 V
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。
) E$ V8 J" s6 F' I如果真的理解了能力指数和性能指数的区别,就知道到底有没有乱说。/ V+ \0 r- K" a! Z
如果对基本概念都理解不清的话,还是别误导人家的好!
2 T( [: _) X" U$ Q$ U- ~5 x: M, T% `
提醒你一下,CMK是设备能力指数,不是什么能力指数和性能指数,你确实需要先理解基本概念。
发表于 2009-8-19 21:21:36 | 显示全部楼层 来自: 中国广东深圳
做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.
发表于 2009-8-19 22:20:28 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 hansenyi 于 2009-8-19 21:21 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif$ y  g. |# [9 Z+ w) S
做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.

8 i+ E9 R5 `; n0 j又一个基本概念不清楚者!
发表于 2009-8-20 09:35:05 | 显示全部楼层 来自: 中国台湾
何时应用Cmk指数
! [0 Q% W: a5 ?9 ?$ O3 ^8 k  新机器验收时( }0 t# t" g% q1 \7 v: J* E; n
  机器大修后
; i! X/ g: v& k& @; r  新产品试制时2 l6 D% [. i1 c/ m/ x1 ~
  产品不合格追查原因时
& P) F+ }3 o( F9 I1 i& n7 f( B  在机械厂应和模具结合在一起考虑# l- g# k$ r; w
  Case study- R0 n9 m$ w- n  O5 M$ B3 A
  WHAT IS MOTOROLA’S 6σ+ [" ^0 O1 v! y; S  x
  Normal Distribution-Gaussian Curve
; g' E# E  Z" f3 W9 k  A收集数据:在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下:
4 e( C$ _& Y9 m9 a  Case study& X$ G6 x+ p, p& |4 q$ y  q6 h# h
  Case study$ ]& L. Y; o3 L1 ?3 W6 Z7 U
  请计算出上表的X-s控制图的控制限?! E6 D7 e4 q. D2 O6 I
  请判定过程是否稳定?
* D: {$ v# r2 t! {: P  如果是不稳定该如何处理?; }, W# P  z& E0 R' H
  如果制程假设已稳定,但想将抽样数自n=4调为n=5时,那么其新控制限为何?- U# m$ l1 F  }6 ~/ n7 A
  B计算控制限8 w3 n# n, e# N9 m" H' U. x3 ], j
  Case study% w' E, I- ?" d
  Case study9 [8 p& u, W! T8 F6 W" v: S% ]
  不良和缺陷的说明
$ L8 f! l' q+ v& x) @  P控制图的制做流程
$ g; ~0 S# E% ?# k  J, G8 M  A1子组容量、频率、数量9 r% P& a0 n1 I" O0 m
  子组容量:用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化,一般希望每组内能包括几个不合格品,但样本数如果太利也会有不利之处。
5 R, D& d  ~% J  分组频率:应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快,但也许与大的子组容量的要求矛盾
- y7 F1 q. {+ t! H. t8 O* |. raliqq# ^& I9 t4 k: C5 O+ l+ H$ R
  I. t) a5 f7 d3 U( ?, l+ _8 H/ `
  子组数量:要大于等于25组以上,才能判定其稳定性。
$ @* A. x, V, a  L  A2计算每个子组内的不合格品率
4 y* ]- H2 ]& R3 O% \! x  记录每个子组内的下列值
5 N, j1 B8 Y) k4 `) J3 Z  被检项目的数量─n4 M7 K+ l% L1 m$ H
  发现的不合格项目的数量─np
/ s) K$ F3 a7 R- H: G  通过这些数据计算不合格品率  l; g! k8 y% R# Q2 d1 d: Y
  A3选择控制图的坐标刻度
8 e" O$ ]. Y* f/ B& k  描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标,子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
& Q5 {/ f( w9 j+ h  A4将不合格品率描绘在控制图上+ f+ i8 c/ w! A; c
  描绘每个子组的p值,将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。* v' @  X7 o  p- ^9 P& j/ V* o
  当点描完后,粗览一遍看看它们是否合理,如果任意一点比别的高出或低出许多,检查计算是否正确。+ J" }" y( W1 S
  记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况,当这些情况被发现时,将它们记录在控制图的“备注”部份。
" l; q: k1 i1 P( I  计算平均不合格率及控制限- R' z6 X" Z& i- u# ~- \/ m, {
  画线并标注3 d: X! U1 N) u# R0 F2 h
  均值用水平实线线:一般为黑色或蓝色实线。3 U. v/ K8 e; l& L
  控制限用水平虚线:一般为红色虚线。
% k6 R% E: q; w5 m  N, E" t  尽量让样本数一致,如果样本数一直在变化则会如下图:
7 ?: K# y" |3 W' E  分析数据点,找出不稳定的证据5 i% n4 u' k7 g
  点; Q) W" I* L. Q& G, T# y# b+ b
  线" F% I) B7 b% E% ~8 f
  面$ i5 `* N- B* T' r8 v/ F
  以上三种方式做判定。 aliqq : T% N& y8 e/ H9 |- M, e$ b
  寻找并纠正特殊原因; ]5 U+ P( z+ Y( ^
  当从数据中已发现了失控的情况时,则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的,要求对操作进行分析,并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
  N% K) f. e7 x' M- D% K$ Q  控制图的实时性
3 y+ E3 \; C1 K" M$ N5 q  重新计算控制限  \% B& y; Y: N; I
  当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时,应重新计算试验控制限,以更排除某些控制时期的影响,这些时期中控制状态受到特殊原因的影响,但已被纠正。
9 e( Z9 ?( a6 }; }  一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内,则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限,当将来的数据收集记录了后,就对照它来评价。5 E' ~% B3 F" [
  控制限运用说明" i7 Z7 C  p3 A. w# Z& z( `5 Z
  过程能力解释
- V: f5 S1 \. `. w& c# F6 c# q  Z  计算过程能力
# Q1 L2 F+ \3 ~5 Q. K6 G. {( G  对于p图,过程能是通过过程平均不合率来表,当所有点都受控后才计算该值。如需要,还可以用符合规范的比例(1-p)来表示。, L( y: @) z; I1 L" Y
  对于过程能力的初步估计值,应使用历史数据,但应剔除与特殊原因有关的数据点。
* [$ U  u0 W/ d, x  当正式研究过程能力时,应使用新的数据,最好是25个或更多时期子组,且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn & t" }0 o1 o$ q7 g
  评价过程能力
5 S% X! j% D: I, l" {2 i  改善过程能力
: Y. A% d4 @& x+ ^2 r* c   过程一旦表现出处于统计控制状态,该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因(控制)变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施,否则过程能力不可能得到改进。
发表于 2009-8-20 16:08:08 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了,没有必要再去计算,除非:
$ \2 E" S3 O( }6 K1、过程不稳定,需要重新分析  }/ C$ m! }$ Q/ |- y7 {/ g
2、影响过程的因素(人机料法环测)发生了变化
! k4 Z9 O# r8 q3、定期分析(一般为每年一次)
8 h9 P9 ~; i7 E# A+ e, `. g* d6 l7 B( I  g9 I1 e* }# H
不管机器能力指数也好,还是过程能力也好,都是能力指数的一种。既然是能力指数,肯定是需要排除特殊原因的影响的,特殊原因的影响,就体现在子组间的变差大小,所以计算能力指数就必须排除子组间的变差。& a; u' S% c' B% M; O) n' U

) F' B# n) t6 Q2 t6 t. z$ u不分组的话,肯定是没有排除特殊原因的影响了,用总变差(子组内变差+子组间变差)得出来的指数,能称之为能力指数吗?能用来预测吗?
发表于 2009-8-20 20:50:59 | 显示全部楼层 来自: 中国山东聊城
原帖由 svw0936 于 2009-8-20 16:08 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif9 N/ p) t  ]1 }9 ]& M5 k& n
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了,没有必要再去计算,除非:
4 r" z! P+ _9 Q/ s- S1、过程不稳定,需要重新分析
- O  M  C( ~6 M/ ?6 R9 t2、影响过程的因素(人机料法环测)发生了变化( F" \4 H2 Y- }( N2 S
3、定期分析(一般为每年一次)6 L" Z% N" `' k( c+ ^! Q" V8 E* I) v
; c6 G/ G$ w3 u- h  a$ t, T
...

6 p. U/ F) M, L+ {) J你完全没有搞懂CMK与CPK的区别,再给你解释一下,分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。
发表于 2009-8-20 21:38:30 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
原帖由 jhlafr 于 2009-8-20 20:50 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif! S% ^' m3 }: r$ X
! }% p6 a6 C! Y2 M
你完全没有搞懂CMK与CPK的区别,再给你解释一下,分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。
$ ?# S  l, U4 b8 u

/ [* V3 j! h+ a( ], q/ @* m; D我孤陋寡闻了,头一次听说“分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况,不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小”。& S7 M4 o1 I' P5 x* ^
我只知道分组的目的,是为了比较子组内变差和子组间变差,以此来检验是否存在特殊原因,验证稳定性的。
5 `7 i0 I1 M1 k$ O2 O% ]. z如果不分组的话,那前提只有一个,就是知道已经处于稳定状态了。
1 B! n3 f+ `; T  \  k如果能够证明已经处于稳定状态,换句话说,子组间变差为零。分不分组无所谓,得出来的结果都是一样的。
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