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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数8 Q$ K, ^5 K2 V! G9 O# R
新机器验收时5 u& P0 p/ L z& m& @' m: ]
机器大修后6 _1 v6 Z2 n4 K4 r& i- B
新产品试制时
Y/ I& o; c$ t& _5 H+ h 产品不合格追查原因时* T& Q* j- [4 f! v ?
在机械厂应和模具结合在一起考虑
9 {7 ^% x. U4 a& `$ F5 r Case study$ ?1 ^! x7 z3 q" Y P( ~* ^
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
4 z2 x+ |" w$ N Normal Distribution-Gaussian Curve
W5 e! h! `! P- b0 ? A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
2 ]/ d7 e, l. s: {" H Case study
5 o: P. }1 v3 ? Case study
) m, { m7 ]9 S% v |7 l 请计算出上表的X-s控制图的控制限？
- s) B; c& }1 f( e' o) C+ a& x 请判定过程是否稳定？- O4 I8 N: J7 z# g4 L* e8 B
如果是不稳定该如何处理？( J8 I7 s1 d! b9 N$ D
如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
0 \9 V2 o; F& B1 K- F B计算控制限6 ~- {, d% p' ~5 \( N! P& e
Case study
9 h. @% i, X& v3 S0 } Case study
# W8 p! B1 w, \: ]9 ] 不良和缺陷的说明
$ e" `% K2 C+ @( U t P控制图的制做流程: v8 @, R a, b$ |- g- t! Y% @
A1子组容量、频率、数量
* |9 k. |* U: P& F0 \+ E. _" O 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。- g" l, ^, q, A7 j
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
5 ]' o' i5 E$ r- ]$ {' }5 B paliqq3 H+ }9 l, \9 ?: G( e) P" c+ C. m
& W0 @" M/ V2 T" T& D 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
$ C3 ~7 `7 m* s; N! C$ y) ^, O A2计算每个子组内的不合格品率+ r# p. V' N1 `) D9 |. {5 u4 R% \0 o
记录每个子组内的下列值
3 [7 h! d2 z& ] 被检项目的数量─n
% p3 C" N% P s2 n: u X* e, { 发现的不合格项目的数量─np
- n! K* v( E! r+ ^: l+ z 通过这些数据计算不合格品率
8 } R: Q& H* p( W A3选择控制图的坐标刻度' h) L6 R( \" R' A# C% ^
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
# m$ W( i* Y+ r! v4 O! b A4将不合格品率描绘在控制图上2 s& E( P; {# C" C+ C% ?
描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
: ?' I1 U- q1 k& v# ]$ I 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
7 w+ i' f+ ^ \' J& K# J+ v# } j 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。& M8 F( s5 A. \! w$ }" @
计算平均不合格率及控制限/ w% L o4 R+ z- c
画线并标注- ^2 P- S3 I+ q% |
均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。) S3 |7 A8 U( R$ D5 V
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。, `6 |! J* {0 u
尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
7 \+ g1 C9 y! O5 ^ 分析数据点，找出不稳定的证据) l. F6 W7 B! p: S% |5 s
点) `. W( Y) g6 D. e4 M9 V
线
# x) J0 z) } C! g5 b 面! }/ h( d8 H# P" Z3 O) R. k( _
以上三种方式做判定。 aliqq
# ]$ o3 f; ~% r5 F/ P) | 寻找并纠正特殊原因# _6 k) X5 }7 Q$ u+ }2 c
当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。8 U$ J. @' E4 P) s0 @+ \$ o z3 y' u
控制图的实时性" T3 z9 U2 x$ n' R8 R
重新计算控制限
% _. m5 r- j. y; J! l, y: W 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。. U; s; Z2 P R5 g
一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。( o1 M ~9 Z1 t7 `. d& |7 r
控制限运用说明8 j5 z% I# S) t5 i' d
过程能力解释
2 I5 K! I* l- h3 a& v 计算过程能力
{3 G3 }0 o9 o3 Q; m$ D4 ~0 P" s 对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。
0 U( [1 w- a E3 ~. q9 F5 | 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
2 r1 Q) _: |0 i [3 N: m( ~ \0 R 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn
7 ^7 A, m1 i* s- Q5 C 评价过程能力
) `$ ]' P$ k" N' `: x- j5 d 改善过程能力
0 Z r% f/ P+ N( j1 _+ G; X 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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