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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
% b( L9 r) O1 p 新机器验收时& p" N) Q3 L' @2 O( D1 O0 i
机器大修后
" f0 n9 |- x- G 新产品试制时+ L8 v8 _# Z/ ^4 u, h+ B4 ~
产品不合格追查原因时
; z( U" j# {! l0 h. a+ x6 L 在机械厂应和模具结合在一起考虑
0 S* c6 [& b- Q# _0 X0 N Case study6 e1 u+ c: o3 l6 ~% J3 i: E7 V& J
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ; a) w& ?& x8 d- o+ W/ e/ y
Normal Distribution-Gaussian Curve
' ^* d- T, I. ? h" Q A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
+ [4 o& d2 s9 @ y- a Case study( J" W, Q, _) U3 ]
Case study
! Q. v$ X! U' l$ T6 Y" ] 请计算出上表的X-s控制图的控制限？
* f* Z3 S% q. I2 A Y- r 请判定过程是否稳定？
9 }" y/ Y. K: B* S7 o 如果是不稳定该如何处理？5 p) v2 g i- e9 s l, P; s8 e
如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
1 f e0 k8 K3 N ?4 N7 B7 x B计算控制限
' N6 \7 [* F8 t, Q$ D Case study7 m1 l: j# m- u6 n' k- [
Case study
5 w: F+ L0 G% q9 a% z 不良和缺陷的说明
( j5 n) t. ?/ ^+ s P控制图的制做流程% L5 W5 z9 D0 Z$ r& F% s
A1子组容量、频率、数量- F6 G6 O, x' j$ P
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。 m& p" Y' o8 O$ M
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
/ X" P$ G, C; Maliqq* q" n K8 N6 l3 K
& I) Y- w, W* n3 g" p. B- M 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
' q% y. b. p) G/ o' H3 V A2计算每个子组内的不合格品率
# ^4 Q, A- @1 p8 L! J! M# C 记录每个子组内的下列值
7 b; o. k- a1 X+ V5 i$ U 被检项目的数量─n
! j- X ~' g+ r# D% v8 x2 r 发现的不合格项目的数量─np
n5 d n; S ` 通过这些数据计算不合格品率- c* M o8 `! C8 p
A3选择控制图的坐标刻度: [3 q t4 y8 Y, s+ c+ U
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。) i! R; w) B7 u1 V4 W
A4将不合格品率描绘在控制图上
: Q% l# V: a0 q$ `' Q$ v" S- ? 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。% \" ]/ `# H, n- S. a6 {
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
' M6 Y3 O, Q' S7 j 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。
a5 e% ]/ l4 `* u+ w& y7 r 计算平均不合格率及控制限, P% I: H* Y' Q) V/ @
画线并标注
: u; g7 e9 P, a! d 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。; l5 b" l7 N: f9 j2 h: s" s
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。2 B# N, w5 X* G/ b, G
尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
3 f" }; z" g$ T3 A# F: j 分析数据点，找出不稳定的证据
7 h/ [0 l" S& }3 r4 P 点
( H( I, _) p" ]5 R& H$ M 线8 N* n2 _+ k! ]; w* J
面+ M3 x# k0 w( S
以上三种方式做判定。 aliqq
+ u/ `8 B0 U6 S. n/ W8 b 寻找并纠正特殊原因
& _# y* P& ^4 M9 B ]/ ] 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
. |4 Z4 [4 c W. M 控制图的实时性. T4 y' m6 @/ D7 e4 u
重新计算控制限. y2 L/ A4 w8 V _ U$ u$ _
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
! ?* w$ D4 A' i3 f- l8 l& ]: s7 P/ @3 w6 D 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。5 O. I2 e: ^+ V2 {3 \
控制限运用说明
. E' y X( x$ ]/ U 过程能力解释9 }* \) d9 \9 f/ X; C7 P1 c$ ^' A/ s
计算过程能力5 K" L! S6 ?: A6 O# F
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。% u5 P$ V* Y0 {
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
2 N; F8 L7 Q+ d9 w: g: k 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn
+ W: e7 w1 A' K; W 评价过程能力. q* ?6 e; G; z) A/ H4 w7 p( x
改善过程能力
" e) l, \/ I3 ?# ? 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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