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溅射和真空镀气是利用物理现象的成膜方式。利用化学反应的代表性成膜方式为化学气相成膜法(CVD)。' ]8 t: v# J* g/ w6 W8 `8 ?% ^
溅射成膜法的特征
; d# ]- Q/ u) Y E6 `1:成膜原材料粒子能量大、在基板上粘附力强、成膜牢固。
( S5 j* I% V7 g: I9 t6 X2:对于合金或化合物的靶材、保持原材料组成不变也可以成膜。 " h5 p9 X$ R$ H2 n
3:高熔点材料也可以成膜。 % ~: | K& y8 V; D
4:成膜厚度容易控制。
0 B( C) [7 D; `" ^% J5:如果在成膜过程中导入反应性气体、则能合成氧化膜或氮化膜等。
+ g8 ^9 K2 z% O/ `5 Y8 m' {6:可以大面积均匀成膜。 " g. c3 o% f( l+ g2 m4 Z7 @) o# A* ]7 T
7:如果把基板放到靶的位置上、则可以切削基板表面。& s5 r" |$ t; i6 }8 C
" c: q7 ~9 Z9 F+ K$ i# a8 M0 m! u0 u- ?
溅射成膜方式0 W+ J, d) Z; I L
8 `5 J6 b, ~# i3 F
0 `7 d! }' t/ q: Y) H" B; K; V
一、 DC溅射成膜
: B( ?! @; r1 O9 b 原理 % X' J9 D) i% C2 U% E) [. s
5 ^( Z# O( G) n" M5 R) o; V1:成膜基板和膜靶材近距离配置。 0 n: E: _6 W# m5 ^# f2 E# j, ^0 S0 @
2:到达真空状态之后,在靶和基板之间加高电压。 ; q" _. t* J. t1 _
3:电子和离子在高电压下高速运动,离子撞击靶材,高速运动的电子和离子与气体分子碰撞,产生更多的离子。 ' F1 T" \+ h! n' @5 \% S Z
4:离子撞击靶后,把靶材的粒子溅射出去。
% X! G: P3 v7 e M! f% R5:被溅射出来的靶材的粒子到达成膜基板上成膜。 ' M+ x5 n7 O) v6 o5 ?" \
这是最初被采用的溅射成膜法。长处在于构造简单,但同时存在以下缺点:
$ q2 Q; g3 {) O9 e% v1 F9 C( @ 1、发生辉光放电,设备的真空程度较差,残留气体影响较大。比如说成长的薄膜和残留气体发生化学反应,或薄膜中有气泡等。6 c8 i5 t* X: t4 {
. C4 P# z- @, H B* g% `
2、气体成为等离子体状态,基板也处在高温的等离子状态中。因为高温可能会损伤基板。
0 l% R% p+ G6 r8 I! V H O% K$ p( t
3、原料(靶)是强绝缘体的时候,表面会有离子堆积,使放电中止。 ( l$ c+ v1 q4 L0 K' {
! D. c! L- |( `
二、RF溅射
# F' T, u& f) \2 B( l- b! _1 | 原理 & ~4 \: f# N* U% n
; S# I7 H6 W% m* ~
1:靶和成膜基板近距离配置。 " }8 o, T" E& @5 L
2:真空腔体和靶之间加高频率电压。 ; s6 d/ I' [$ `8 M' p* F U3 O0 A& U+ ~
3:因为是交流电压,所以带电粒子的加速方向随电压而变。
" |+ J0 v& Q- G4:因为电子比离子轻,容易移动。
2 ~; ?9 J, }" d. X0 Y& b: f0 `+ ^9 k5:靶一侧的电子没有流通渠道、使电子密度升高。 * J) H$ M) e! D9 M: D3 l9 I
6:高密度的电子使靶带有负电、会吸引更多的阳离子撞击靶。 2 C4 Y, B8 ?5 T6 N6 D" u
* @+ C+ m1 z2 ]+ z+ k
三、磁控溅射
9 G, v- Q7 N+ i A% P) S3 P 原理
1 _4 r/ j% W: m2 j9 }4 {2 \6 b3 G. v8 o
1:成膜基板和靶近距离配置、靶材的后面安装有磁铁。 0 _: R) O1 G4 A- B1 G5 Z
2:加高电压之后诱发溅射。
, L7 F( C5 s8 k! u& E3:因为靶周围有磁场、电子沿磁力线做螺旋运动。
" S" z2 D& r) t4:在螺旋运动电子的周围产生等离子状态、可进行高密度溅射。
7 f1 P: F `; _, p1 u# s% Y 特征 ) x9 ~0 Q- s6 l1 \9 ]
* P: h+ D: q; m2 f
1、也可使用高频电源。 ) N# f' A: B( W/ S1 x5 Z9 M
2、在成膜基板附近没有等离子状态、基板不受损伤。
( B* x/ b D1 K, }( P3、溅射量大。3 t- D9 |0 ?# o+ i
: v2 _: Z! Z8 q3 r 缺点
/ K; K; A: D! L5 k6 a 靶材的磨损不均匀(磁场较强的地方被大量溅射、在磁场南北极中间线附近溅射量较少)。 9 e, B0 h ~5 |% j+ i
K: K$ t9 b+ o# O8 g9 N9 y& M) h四、离子束溅射
4 q) D0 B- Z/ [6 Y: s" n$ t7 t( _/ L) j3 ]* J* o6 f8 l0 Y( }
这是唯一一种不用放电的溅射方法。 0 Z/ I, V! S# g1 _2 I/ E4 u
从离子枪(产生离子并加速的设备)发射出来的高速离子照射靶材使其溅射后堆积在基板上成膜其
6 b9 ]9 ~5 b: S0 E/ g! E0 v& |! C! n, F- ]
他的几种溅射方式都利用等离子状态、基板同时也受到电子和离子的影响。离子束溅射不采用放电现象。但是为了使离子枪持续产生离子也需要供应惰性气体。
! v& u, H7 E; A! O; V/ ~/ o8 O( b$ \, H3 s$ S. ]
(注:使原材料离子化而射向基板的手法被称为离子注入法、而不是溅射。)
特征
" J! C }6 l' f/ w6 j+ q1、不需要放电来产生等离子状态、高真空状态下也可成膜。 ( r! a# d% H& G+ q
2、离子源独立存在、单独设定容易。 & C) |; l8 j2 ^0 B0 s& i5 E
3、靶材不需要导电性。8 v$ m0 P; I1 ]9 L( W6 I
1 |; U2 g* w4 M$ m缺点8 g. K; o6 V4 B; }! b8 }+ ?
1、设备复杂、昂贵。
3 v0 i* s, P2 W% [4 z6 G* C2、成膜速度慢。
& l7 k2 V: ^/ W5 y' A
: j, D! Y$ O; J; \, Y. W/ U, Q) ]8 v: A, A( M! L
溅射成膜设备的构成
" g. P3 r1 D5 W% l- p$ `( C' B
4 J! c% T. H( P- R* C. T# ?4 l% S/ R- A
除了离子束溅射之外、设备基本构成如下: 1、真空腔体(气体导入口、基板和靶出入口等)。
" Y% w5 l( y3 U: K: B2、排气系统(旋转泵、分子泵、因为要放电、所以不需要高真空)。
. r& ]. f0 i: a( m( O" n3、成膜基板台。 9 N+ A4 M0 y+ G. P2 ?8 f2 P
4、靶台。 , ]! e6 l, w" ~& W8 d, s3 z: D# |) A
5、电源(高频电源、高压电源)。 " J$ G8 p- W. ^4 R! a* {
6、控制系统。
7 o5 R# T8 z. s% [! K }
2 D2 D; Y6 P( L溅射利用法
( b4 p' V) Z- o磁气记录媒体。 2 I3 F! A" t- |" V! ?) m
CD/DVD(信息记录的金属膜)。1 k9 N. e0 n0 s" M
半导体(电路、各种传感器)。0 i7 \6 p: q0 y; g, w1 t% G* b
磁头。
5 q/ j m/ L3 D; I' H- ?打印机头部。
* [5 G' f5 P7 h7 ~( d液晶(透明电极部分)。4 T# p& ~% T; T/ W+ G. L4 O. D
有机EL表示装置(透明电极部分)。
5 P( g6 `7 t2 ?$ n2 @高辉度光电管。
- w3 K' w& h5 \; w7 f电子显微镜样品制作。! }. g! T1 x3 S/ `/ R6 U3 L
光触媒薄膜。3 t# k; P# u& p! ]* T0 d, |* j
表面分析(利用溅射的切削作用)。
) F8 Y, I l, c# l, j6 T5 \形状记忆合金薄膜。, M3 p" |9 |2 k8 m- Y4 M' _
塑料或玻璃的电子屏蔽膜。 - I% e& ]. x7 I! L+ p1 z
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