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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
, D# m: ]; n$ C- X4 V- [7 M
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
. k3 Y( ]5 b2 d  e
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
7 j% h8 o* H+ R8 E
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
& J( [* R1 f% m7 x3 S& J  @
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

% U; E2 p% q( G
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

6 b' t+ N0 c1 o% W$ I附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
& z8 J' [% e6 G1 }( h+ G2 ^. M(讲座不收费,食宿交通费用自理)
# X, [* l9 S2 t# ~6 \, R9 C
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
" \+ S8 f0 m. q3 L
联 系 人:李晓丽
  {2 J# [9 f$ q! j: |' n段玉霞
: v' G% @" ~! U, ]8 D6 I  E赵石彬
6 |3 t, G" j: q# u5 O# ^8 g2 g6 w8 O
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567

/ C9 j9 K5 W/ ~
% k+ y  s/ O$ P3 d
真:010-68980976
- o: `1 _, P# x

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邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

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会 议 回 执
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单位名称:

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姓名
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职务

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联系电话(手机)
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0 s+ y2 m' T' f- [3 s
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0 D2 m) |4 n8 S6 q
( y+ g9 q: m8 o7 T1 T6 F
请回复至:0 F1 q3 R+ Q- A
lixiaoli.127@163.com

; D! E) ~5 D  n% N/ W* x2 m/ y
联系人:李晓丽
; e! m0 K" J- w# N% Y+ u  P电话:689029403 k: ?# n5 T" L
传真:68980976

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
! V+ e8 R4 Y1 [: K% h* F0 j. dXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
, l( r7 @  D" n, g, `XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
' U/ U, g. i$ ^! h! f3 Q$ Q1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。, ^* k: t0 [; }# b: q
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
8 w4 z7 H- X6 k; ?/ o4 |9 \3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。; h! y! s- Q  q: z4 ~! p3 o
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。: N1 u& _8 f0 Z# y, L  P, W
5、        环境因素。例如噪声。
+ c6 r/ H0 o5 b$ [* m0 K参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。* o; `  o2 m$ r$ j
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。! T& k" p8 f1 q2 s0 ^
- Z8 P# s5 B8 S
# N1 K! a7 `! G* ]
Joseph N. Gray
4 ^; L4 K1 x$ D; j, k+ o. | 6 I. {; M% J9 {" }7 r7 E* E# @
4 M! A) E+ D* y0 S8 }  U' O6 i+ A; g
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心
  P$ k) X: m* C4 u# G/ a3 g美国Iowa州立大学无损检测中心
, [& @2 Y  [/ S0 i/ |" f- ihttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍# Q# I) h; `  Y& V( E
软件介绍:) u' S$ }' N$ S  v7 b! i
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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