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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知 , D# m: ]; n$ C- X4 V- [7 M
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30; . k3 Y( ]5 b2 d e
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间); 7 j% h8 o* H+ R8 E
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授; & J( [* R1 f% m7 x3 S& J @
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
% U; E2 p% q( G主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
6 b' t+ N0 c1 o% W$ I附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
& z8 J' [% e6 G1 }( h+ G2 ^. M(讲座不收费,食宿交通费用自理)
# X, [* l9 S2 t# ~6 \, R9 C请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。 " \+ S8 f0 m. q3 L
联 系 人:李晓丽
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: v' G% @" ~! U, ]8 D6 I E赵石彬 6 |3 t, G" j: q# u5 O# ^8 g2 g6 w8 O
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
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真:010-68980976
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会 议 回 执 h& u2 B( |! O8 q! L; \
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传真:68980976
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