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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
& s& J" Y3 M. U) e4 Y/ d% s
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

! x8 I3 T% l* ]# k( ]
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

/ R) d7 E) [  p5 }
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
1 P5 y! Q4 n8 B( ]' W1 Z6 U! u6 Y
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

( p9 l, C+ z7 y5 _5 g
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

& D1 ^  o" i, R7 K; g! h& \2 W) h' U附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历% d- k( `+ ~! M5 C; C) E/ {  x
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
7 ^7 }& ~* x1 ^1 Q1 P
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

! k' t" O9 j2 K$ q& P( ^8 q+ a
联 系 人:李晓丽
6 G% l: O* c+ h# P4 j8 M% M1 S段玉霞
+ c( @6 M1 J, ^/ A1 |+ J赵石彬
# S8 M) U- I" u7 O
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
4 Z+ U9 T& q) W

1 D  ^& @" @* i真:010-68980976
# N* E( W! ~# c9 y9 D! d& a$ d
, o1 H/ @. m( j- ]
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

* p, U- S/ Z4 m; `

6 M6 v% t/ ]/ y2 _
会 议 回 执
7 k' ]" @3 \' O
单位名称:
) R6 v( F6 ^" Q% K$ m$ c9 j  m) l
姓名
9 e, N) `7 N! r; w
职务
1 z" t$ m) v% b+ W$ s
联系电话(手机)

" [8 @% h6 I( \' k( T7 R

" p2 {" S: I" K2 C; @, Z4 F
( V! @$ _( P6 w' t% S5 w9 p5 b
( b; l% |8 o; g7 ?7 l& Z

0 K2 X* s/ c, w  n  u, ]. q  Y

# C; k$ h5 n5 M; i. l( A/ \* o; s) o

5 L- Y9 M/ h$ p4 `- z/ T
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( m" }! X1 C; U( K. O
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* J4 o# w- H: a
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5 L2 [: ^6 l& J" E
请回复至:
. g  ~4 Z3 T9 a% Glixiaoli.127@163.com
. B& l' V, c+ s) c- u0 G; f0 K$ E$ v
联系人:李晓丽
  h/ C% g$ [1 X( i- \1 S0 e: @6 l: T电话:68902940  c& V/ N- |! ^  H2 L5 m: J
传真:68980976

1 w; n" Y5 ]' ]0 o6 O: T

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
2 S3 ?' Y* m. F. {XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
1 D: ?- a1 j$ \* a1 OXRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
0 w$ Y9 L8 k& {+ f2 g+ o6 m- O1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。4 z; ^( [. u: s! r; a( J  D: F
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
  C) ~: S4 m, b# h. A- L3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。% Y* V4 H) [2 g5 D2 w$ [
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
3 O# L* S' }5 U  ~( R! g4 F% j8 \, G5、        环境因素。例如噪声。( V* K7 b0 c: T1 y# m& [
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
8 ~+ S; K6 \7 K$ {, K7 AXRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
/ U8 n! ?, d5 u# A  ^3 s
" N# @/ m4 v" x
5 l3 m8 g* G% [" U+ rJoseph N. Gray
0 q3 G+ y. B$ H: X4 \ : \8 i( P8 L0 y/ P
# t+ X$ h( ^& m6 c3 g7 O
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心
9 }8 R# i% b- b4 ]2 w) H: |美国Iowa州立大学无损检测中心
' z* {0 ^* n) M8 a5 Fhttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
- c7 @! v( i4 x& x( W软件介绍:! V& i3 v8 R) g/ e' z7 X
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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