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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.4 {! L1 N& U" o# {. z! I' M
介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快# B i2 J* [" o+ Z6 v8 c, E. J; Q, }
即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm
; P3 H) h* l8 E) M0 e~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为
' p- I4 `5 v2 w2 T) \9 b8 ~% m3 [3 w0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),89 s0 {$ D/ J- L7 Z/ \( M0 F. C
级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,
; S3 p4 f2 Q# p+ l0 }& w4 B1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射3 x8 K! G+ t; Y, ?3 X6 l
B1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示.
* I3 k' j3 z7 {通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~
4 Q7 K7 O3 j: L4 y& A$ j S' z, |! t1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰7 z' l# ~% Z) e ^& ~1 \6 u
度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率
7 s) P6 o, m8 k6 n4 }0 M) ~时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ
! _( Q, _0 M& J时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是
- m$ `! F2 t" U y! n说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又
4 I- M7 C) k+ K: e6 T2 P必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.' O' @, y( u: Q1 u: Z
5 _7 v! P& J; K% }9 R. j+ G[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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