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[分享] 中级质量工程师例题汇总

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发表于 2007-5-12 11:45:16 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国湖南衡阳

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中级质量工程师例题汇总2 \. e" Q: R/ x% J& v
% W/ ^7 _# H8 P, X" T* d
1 @: Y/ ~4 t6 E8 l' a
考质量工程师的可以看看,搜集的一些题
0 ~  Q6 R+ R* [% J$ k1 X $ M' F( o. a9 t
一、单选[共5题,每题1分,总计5分]  
+ o7 W& B6 j* a+ l/ d3 o1、(  )情况下会遇到超几何分布。  
' N8 S  k3 u0 [2 f% K% r2 ?% S6 HA.在一定时间内或一定区域内或一特定单位内的前提下进行计点  
" J5 v. }- P9 w/ N* W) sB.从一个有限总体中进行不放回抽样  % A/ _/ q: }* v: C  k$ Q/ q% c
C.在重复进行某一试验  
6 N- s8 ?4 C% {9 ~- _D.从进行次数无限大的不放回抽样试验  ! ?% R1 P: Z. k
2、改变直方图的形状可用(  )方法。  
; R( [6 r! A3 @( B9 k, r+ xA.精确制图  
( e: h6 a5 t& y6 yB.改变组距  3 g4 v* u9 s/ x8 Y7 S( }
C.数据变换  " Y9 P* X* Z4 O$ B
D.组限变换  8 Q+ o3 g/ t, \8 O. ^; ]: t1 K
3、以下关于F分布的说法错误的是(  )。  
+ L# R  _9 x7 VA.F分布是两个样本方差比的分布  
1 S# z* p, |2 q6 D6 AB.F分布的分子的自由度称为分子自由度或?自由度;分母的自由度称为分母自由度或第2自由度  ; Y; m1 O# [& T/ F! E' e! k
C.构成F分布的两个样本方差来自两个独立的正态总体,它们的方差相等  
2 P% s* E/ H( N, @) hD.F分布的概率密度函数在整个轴上呈偏态分布  
' H0 b* Y9 r% ^! D4、现已知因子A有3个水平,在实验中每一水平下进行了4次重复实验,并求得因子与误差平方和分别为SA=58.35,Se=46.85。在给定α=0.05的水平上因子A的显著性质为(  )。  / ]6 M: |7 R6 n1 f. @) V2 P
A.显著的  
( e& Q7 {* I7 z; ^B.不显著的  
3 S4 p' J; K. X$ eC.总是显著的  
" {+ E" F5 ?/ R. PD.无法判断  
. D/ i& V) X% ]- q; i5、某厂生产白水泥,对每一窑生产的水泥都需要测定其抗压强度,以确定水泥标号,一般是将水泥出窑后做成的试块养护28天所测得的数据为准。但是水泥不可能堆放28 天后再出厂,所以考虑用7天的抗压强度x来预测28天的抗压强度y。现在统计了26窑的数据,求得如下结果:  
. d$ Q& l# k4 c+ O) u0 B! G, S =24.177, =30.323,Lxx=41.566,Lxy=37.31,Lyy=65.686,α假定在显著性水平0.05上查表得到相关系数的临界值为0.388,F分布的临界值为4.26。如果求得7天的抗压强度为26,那么可以预测28天的抗压强度为(  )。  
8 K- S7 {# n% dA.31.96  1 P6 l4 \9 U. j. q2 W! O) l
B.35.576  
$ l+ h9 G9 S; w2 e5 _C.26.738  ( s; z& f4 k8 e1 |, r
D.32.354  
# P# X3 g& ]( b+ s! d: i6、在抽样检验中,通常根据不合格的严重程度必要时将它们进行分类,A类不合格是指(  )。  ( A& x( T8 |% J, h6 _
A.关注程度低于A类和B类的一类不合格  2 A7 U8 L: k% O' G# F) x. a) n# A: p
B.认为关注程度比A类稍低的一种类型的不合格  
, P0 ]  D4 U; |- U( |2 z, NC.认为最被关注的一种不合格  ' n. m8 z  D+ C9 K+ N% g, F! s* t
D.认为比较被关注的一种不合格  
3 i5 `5 s# m5 f7、已知n=3000的一批产品提交作外观检验,采用(20,1)的抽样方案,当p=1%时,Pa为(  )。  
: Y+ T; p; h! I( G1 n& mA.0.8831  - i7 v7 H+ x6 b. a
B.0.9831  
# u- h8 A! B& t: m9 k+ vC.0.7831  2 F* \/ ^$ ]( Q+ }: s$ k/ c) t
D.0.6831  & A+ ~- W" e. g" m3 R
8、计数调整型抽样检验标准中重要的经济指标是(  )。  
' z6 x7 h- @: j$ SA.平均样本量  . _8 W7 B( k/ o& M3 h9 K% u+ O
B.平均检出质量上限  : [# I2 E+ V* _) h( f
C.批容许不合格率  
) {, ]2 {3 Z2 sD.平均检验总数  4 F& x+ v1 u, j4 ]- I8 s
9、计数型抽样方案是用(  )对批作出判断。  
$ b4 ~: F' W- T2 z$ O% B7 @A.样本中含有的合格品数  * X0 H9 H  }" M. I* ?8 e; q  z
B.样本中含有的不合格品数或不合格数  . G) E4 u7 d0 v& f
C.样本中含有的不合格品数或合格数  ' f$ p( b& T0 x8 w" P: [* Q( z
D.批质量水平  9 `4 I9 y9 O4 w! {, o: f
10、在GB/T15239中,模式A适用于(  )。  
: `# L% H0 U1 x# J" [A.生产方和使用方都认为是孤立批的情形  
' d. c7 N$ m8 s/ I% o4 mB.使用方认为是孤立批的情形  1 N+ ?7 o& s2 ~: x) b) o( v8 ]
C.生产方认为是连续批而使用方认为是孤立批的情形  2 ~5 S5 L  c9 z2 K' k4 Y+ i
D.生产方认为是孤立批而使用方认为是连续批的情形 6 r8 i+ _! k( T$ l! y
11、对一个产品批来说,是否被接收,关键取决于生产方或使用方验收时对检验批的质量要求,在GB/T15239中规定了极限质量2Q,它是与(  )的接收概率相对应的质量水平,是(  )不希望的质量水平。  2 W2 r2 b. j5 r7 u
A.较低  使用方  
* h/ ?5 G3 S% k/ UB.较低  生产方  
3 P3 q: w* p6 j  y: hC.较高  生产方  5 Z4 c, E7 {" M  D# K5 H, G
D.较高  使用方  5 p6 s% E0 h9 l, G# D
12、序贯抽样的优越性在于,在规定的P0P1及相应的α、β条件下,序贯抽样的平均抽样个数,即平均样本量(ASN)比一次、二次、多次抽样方案都要少。缺点是需要组织多次测试、试验,所以一般用于(  )。  
* b2 o" d2 J9 ^A.稀有物品  
+ q; }' `' n5 C; K6 ]* V) g/ ]6 sB.一般产品  * }8 V( S6 v# r5 A. L8 T
C.贵重物品  9 y3 [3 S; G8 m/ B: @
D.特殊产品  ( I: O0 \0 _5 E3 U
13、连续抽样检验方案由两个参数(  )组成。  4 y7 e: j, |1 O8 _& G* y
A.i,f  
# r& ^8 {, O- }B.σ,β  
: T0 i, _6 q1 O8 MC.Ac,Re  . I+ @5 {) I# I
D.P0,P1  , f9 k- ~3 r4 S
14、3σ公式不是(  )。  
% b1 A' l! P  i& NA.UCL=μ+3σ  
' S5 t, g+ V: ^, K/ [6 V  D: BB.CL=μ  
9 `/ V9 A* ?6 e; n3 jC.LCL=μ-3σ  + r8 L/ s( L- c! A9 c9 {) ~2 P
D.VCL=μ+3  
) r! k9 l3 y$ d4 \! v& F15、若对检验费用高的产品进行控制,最宜选取的控制图为(  )。  
9 n1 S- k# _$ u- `7 MA. -R控制图  
* N( j0 H6 E5 {5 gB.X-Rs控制图  
4 \4 M1 D3 X: F, e! a, k5 `C.p控制图  
% S! A' r" s. ]D.c控制图  
8 W, {3 Y% X4 W" K+ Q5 z16、过程改进策略包括判断和(  )两个环节。  ; ?' r/ X- r, x
A.计算过程能力指数  
* X; [6 [' U6 J% x, J0 p( vB.计算过程性能指数  
7 b) Y/ H* J% b4 D, |; ]C.评价过程能力  + {6 h& ~0 \" {: i( g3 i4 h5 _9 ~3 y
D.评价过程性能  
' k% ?% C+ [& \; `17、用于控制不合格率、废品率、交货延迟率、缺勤率、邮电、铁道部门的各种差错率等的控制图是(  )。  
& z5 z% h. b, C. g( oA.c控制图  - H; C0 n" Z( c+ m& A" e
B.U控制图  
" G/ J0 O3 d. U  u! z9 LC.p控制图  
5 p2 Q+ m" S) h4 M& }; MD.np控制图

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