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[分享] 中级质量工程师例题汇总

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发表于 2007-5-12 11:45:16 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国湖南衡阳

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中级质量工程师例题汇总* y$ w# j+ n* b/ J
; c4 A8 g0 s, Y) D2 I/ K

& H: z8 c) j7 R; V9 q/ D考质量工程师的可以看看,搜集的一些题
2 _' {$ ], q* u* `% Q3 Y8 [
" U5 p9 k& o, j$ ?7 j一、单选[共5题,每题1分,总计5分]  . ?* T8 F* U& h
1、(  )情况下会遇到超几何分布。  
/ |4 V6 Y7 R! TA.在一定时间内或一定区域内或一特定单位内的前提下进行计点  
( v6 L# s4 N$ k) s6 t" ]7 AB.从一个有限总体中进行不放回抽样  
# V, a! N' n. @C.在重复进行某一试验  * J: q# m" J/ J7 p9 `) E
D.从进行次数无限大的不放回抽样试验  - S* z& m/ ~* L, J& U
2、改变直方图的形状可用(  )方法。  - x  F" t) |, G9 E; |. X6 U
A.精确制图  
9 p4 O/ g6 A: N0 V$ VB.改变组距  " k" ^+ y: I0 M
C.数据变换  
; B& e$ z" _6 x* n0 lD.组限变换  
' h, Q8 p) s  M% X& b/ O/ i- W3、以下关于F分布的说法错误的是(  )。  2 H% A' g4 ?5 Z. K
A.F分布是两个样本方差比的分布    z7 m' z6 u- W, a
B.F分布的分子的自由度称为分子自由度或?自由度;分母的自由度称为分母自由度或第2自由度  ) W0 C% [2 q' c3 X
C.构成F分布的两个样本方差来自两个独立的正态总体,它们的方差相等  4 v( P4 u8 u8 I5 \* ]
D.F分布的概率密度函数在整个轴上呈偏态分布  
+ @3 f1 t7 P# p4 C4、现已知因子A有3个水平,在实验中每一水平下进行了4次重复实验,并求得因子与误差平方和分别为SA=58.35,Se=46.85。在给定α=0.05的水平上因子A的显著性质为(  )。  , ?: l9 X* B3 z; Y5 t
A.显著的  
# L; W. _& ^9 x, @/ p$ C; h  T  LB.不显著的  
9 \- a) V8 O8 V2 t4 Q* qC.总是显著的  7 F0 s+ R+ n' N6 w4 s5 i) J& t% ?
D.无法判断  
. v% @+ a5 @4 v3 _, g' ^5、某厂生产白水泥,对每一窑生产的水泥都需要测定其抗压强度,以确定水泥标号,一般是将水泥出窑后做成的试块养护28天所测得的数据为准。但是水泥不可能堆放28 天后再出厂,所以考虑用7天的抗压强度x来预测28天的抗压强度y。现在统计了26窑的数据,求得如下结果:  
. [4 S+ o. x2 s  ? =24.177, =30.323,Lxx=41.566,Lxy=37.31,Lyy=65.686,α假定在显著性水平0.05上查表得到相关系数的临界值为0.388,F分布的临界值为4.26。如果求得7天的抗压强度为26,那么可以预测28天的抗压强度为(  )。  
; Y' T( K( Q0 }) \' JA.31.96  
6 ^9 V; T/ d( h6 p1 B& DB.35.576  . z2 e6 |0 M% k! a
C.26.738  
, Z, a7 I, X# D) mD.32.354  
! n  n$ o) ~/ `( j' Z+ o; V/ P6、在抽样检验中,通常根据不合格的严重程度必要时将它们进行分类,A类不合格是指(  )。  , d4 D* T; v, _) y, N) {
A.关注程度低于A类和B类的一类不合格  7 j: q" ^1 j9 ^
B.认为关注程度比A类稍低的一种类型的不合格  
, U% z2 ]* h! e& u8 b) vC.认为最被关注的一种不合格  0 h6 f  p9 m) q9 K8 I
D.认为比较被关注的一种不合格  / D, P. M; d) G5 }
7、已知n=3000的一批产品提交作外观检验,采用(20,1)的抽样方案,当p=1%时,Pa为(  )。  3 E$ H8 L2 M7 R- X
A.0.8831  & W$ c- f4 c. n4 F4 n5 Z  R0 J5 h
B.0.9831  
" U2 Z$ M7 F& QC.0.7831  % D5 a8 S" x6 n3 o) @
D.0.6831  
% v$ ^8 c5 z: u- }! @8、计数调整型抽样检验标准中重要的经济指标是(  )。  % U4 }/ @  |4 N) Q! W, J) V
A.平均样本量  
) S  o1 h! w9 q4 u, t) a. s* v* wB.平均检出质量上限  8 w4 f( H& x8 e# m. u% r
C.批容许不合格率  0 P' `$ K) L, L- O- j# G
D.平均检验总数  
0 q) h" f0 r. F# h1 d+ {1 i9、计数型抽样方案是用(  )对批作出判断。  & k6 F( z. O) }" n! X
A.样本中含有的合格品数  5 ?! n0 Y: w1 C
B.样本中含有的不合格品数或不合格数  
; Q- E- g; P4 S4 i& `, O. F' m+ E9 }C.样本中含有的不合格品数或合格数  % Q3 m4 c; P3 g2 V* P# C
D.批质量水平  5 i6 p' U% \, [6 r# `; e
10、在GB/T15239中,模式A适用于(  )。  8 J! @. x: q+ Q! F
A.生产方和使用方都认为是孤立批的情形    q- V$ K  T, Q
B.使用方认为是孤立批的情形  
! O* z+ s* p: @0 D0 {C.生产方认为是连续批而使用方认为是孤立批的情形  ; b5 v' b5 ~- X8 {4 R$ ?
D.生产方认为是孤立批而使用方认为是连续批的情形 - R  D# h# X9 t" s: R. S' F
11、对一个产品批来说,是否被接收,关键取决于生产方或使用方验收时对检验批的质量要求,在GB/T15239中规定了极限质量2Q,它是与(  )的接收概率相对应的质量水平,是(  )不希望的质量水平。  ' l1 z- ^! ]8 i! ?
A.较低  使用方  
$ d) W6 z8 l; g+ N7 v2 i* r  q8 y; SB.较低  生产方  
7 U( K: h/ y; U" ?6 LC.较高  生产方  
/ j( L5 R% Q; j6 A1 KD.较高  使用方  ( C1 R9 r* a0 }! ~+ Q+ s5 i
12、序贯抽样的优越性在于,在规定的P0P1及相应的α、β条件下,序贯抽样的平均抽样个数,即平均样本量(ASN)比一次、二次、多次抽样方案都要少。缺点是需要组织多次测试、试验,所以一般用于(  )。  
  ?+ `& |/ r& t& a, V( K% i/ `A.稀有物品  
1 [, y- ?$ \. v' fB.一般产品  7 ?) @8 P- _$ c0 t4 X! W/ L5 F
C.贵重物品  
9 A" z+ M' |/ r& r. }D.特殊产品  + N  n8 C4 |3 Q5 O; q$ J7 x
13、连续抽样检验方案由两个参数(  )组成。  . y7 i" `# o$ d6 Q. o. e
A.i,f  + I/ h8 {% A3 T; R! W6 m8 E& L' u
B.σ,β  
9 C6 T2 B0 L; o- UC.Ac,Re  
7 [: |' n# z- d! ]  [5 xD.P0,P1  
9 G% c. t( P, z* D* Q, H- u14、3σ公式不是(  )。  
) G  M* r  M$ G8 P, G% P. fA.UCL=μ+3σ  
) o8 v/ k! r- x+ Q1 JB.CL=μ  
) m$ S+ I1 k' rC.LCL=μ-3σ  ' B. U# Q! I6 Z
D.VCL=μ+3  
  a  n/ Y  J8 d8 I15、若对检验费用高的产品进行控制,最宜选取的控制图为(  )。  
$ Z; v( v3 y' J$ B) `A. -R控制图  * y+ ?* L8 u1 F7 m) f, z
B.X-Rs控制图  7 k+ l1 a! R* t* K9 m/ b' S* H
C.p控制图  
/ O' a7 M& c3 F: k: I( CD.c控制图  
, o! R# r7 T, u. I( K16、过程改进策略包括判断和(  )两个环节。  % A2 {. }) m# a5 p
A.计算过程能力指数  ' i) b/ ?" J: H' F& ~
B.计算过程性能指数  1 ~/ _# U9 I6 H# V& a
C.评价过程能力  # Z7 I3 |0 C. A1 O6 J. ?
D.评价过程性能  ! o, U4 c# h6 F$ Y. [# o5 N, Q
17、用于控制不合格率、废品率、交货延迟率、缺勤率、邮电、铁道部门的各种差错率等的控制图是(  )。  
  Y4 q0 `7 J. _+ T4 i1 h' Y8 FA.c控制图  ' R& W+ X8 Z) X% H  A
B.U控制图  
- x4 f. Y% L+ h* ]3 y# q6 HC.p控制图    l$ @! j+ H0 B4 ?: ^
D.np控制图

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