电路板老化试验工艺

misliu · 发表于 2007-2-23 00:18:25

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电路板老化试验工艺.
希望能共享一下.先谢谢啦.

[ 本帖最后由 yqwfk 于 2007-2-24 07:42 编辑 ]

youfeel · 发表于 2007-2-23 03:53:25

只是我所了解的其中一种，具体情况应根据自己实际情况来定工艺。
老化试验中，电路板通电，并放置在高温炉中。老化试验的温度、电压负载和时间都因器件的不同而不同，同一种器件，不同的供应商也可能使用不同的条件。但比较通用的条件是在125℃到150 ℃温度下，通电电压（一般高出器件工作电压20％到40％）通电测试24到48小时。

myg61 · 发表于 2007-2-23 10:01:39

对啊，还有低温试验。
主要看使用场合。

misliu · 发表于 2007-2-24 07:39:53

二楼加三楼的说法值得参考，比较有价值，谢谢．

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