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[讨论] 残余奥氏体问题

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发表于 2006-9-14 23:31:23 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国湖北荆州

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一般按理论来说含碳量越高,淬火后残余奥氏体会越多。可我公司渗碳淬火工件在淬火时也用渗碳气氛5 \& U4 n6 a( m! I( V: w
保护,且保护气氛的碳浓度越高,金相检测残余奥氏体越低。十分不解?看各位同人有没有遇见过这种
! h  }9 M) |  [  z: ]现象。
发表于 2006-10-1 22:38:34 | 显示全部楼层 来自: 中国河北唐山
残余奥氏体含量除与成分有关外,还与加热温度、回火方式有关。另外,金相检测残余奥氏体是有局限的,细小分散的残余奥氏体很难辨别,在电子显微镜下会得到真实数据。
发表于 2007-1-23 21:32:29 | 显示全部楼层 来自: 中国广东佛山
"渗碳淬火工件在淬火时也用渗碳气氛保护,且保护气氛的碳浓度越高",渗碳淬火时碳势并非高了好,这时温度已降较低,碳势升高但活性降低,易形成碳黑,并不能增高零件表面碳浓度,所以表面碳浓度并不一定高,淬火后残余奥氏体就不一定多。& A! v& L" }7 g3 F$ e0 `* k7 `

; D6 n+ S  Z$ r[ 本帖最后由 musachang 于 2007-1-23 21:33 编辑 ]

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发表于 2007-1-25 16:42:50 | 显示全部楼层 来自: 中国江西南昌
同意楼上观点,补充一下:
) [3 g! w; u; J) v4 G1 R1.澄清一点,保护气氛中的碳势高,并不等同于零件的表层碳浓度;
& g, c; w, D; ~+ D6 O5 K: o! a2.淬火温度较低,对于渗碳淬火零件,淬火温度一般在810-860左右,在此温度下气氛的作用只是不保证不脱碳;
! t# h) q6 }# j3.渗碳件的表层碳浓度,在强渗和扩散中已经基本完成,而与降温淬火阶段碳控影响较小
3 ], z! |1 s* Y! i( K' G: m 供参考

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发表于 2007-1-26 09:46:24 | 显示全部楼层 来自: 中国陕西西安
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发表于 2010-2-7 12:12:54 | 显示全部楼层 来自: 中国广东深圳
热处理过程中是可以通过加热温度和冷速来加以控制残余奥氏体的生成。
) G3 e+ t: x# U4 T3 b材料合金含量和含碳量也同样有影响

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发表于 2010-2-7 21:34:19 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
关键靠冷却速度来保持残余奥氏体的比例的。
/ `2 p" d1 N* T. ]9 x7 B- }# z( b" I; J比如双液冷却就是很好的办法
发表于 2010-2-8 10:26:27 | 显示全部楼层 来自: 日本
本帖最后由 pingpyy 于 2010-2-8 10:27 编辑
- c- }/ M4 y1 f, \. _9 q, }$ W7 ^6 j$ p( A- _2 g5 \: |
关于含碳量与残余奥氏体的关系,我与楼主的观点相反。( R$ i, h/ {+ ~8 t
我认为含碳量越高,淬透性就越好,所以淬火后马氏体会变多,而残余奥氏体会变少。/ t: q! `3 U4 r5 {. J; _
金相检测奥氏体有困难。一般用X射线来检测。供参考,如错了,请原谅。
发表于 2010-2-8 11:58:47 | 显示全部楼层 来自: 中国山东济宁
关于含碳量与残余奥氏体的关系,我与楼主的观点相反。
: p( K  J; R& l& H1 B我认为含碳量越高,淬透性就越好,所以淬火后马氏体会变多,而残余奥氏体会变少。
3 C* |8 u5 U7 v( U金相检测奥氏体有困难。一般用X射线来检测。供参考,如错了,请原谅。
$ J4 T) ^9 n3 G9 R+ k, jpingpyy 发表于 2010-2-8 10:26 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif

9 H0 a  A) F0 X淬透性好不意味着最终转变完全,残奥的多少和Ms点的温度及冷却速度、奥氏体的均匀程度等有关,在其他因素一定得情况下,C含量的增加会降低Ms点及Mf点从而增加残余奥氏体的含量。
发表于 2010-3-14 22:25:33 | 显示全部楼层 来自: 中国辽宁本溪
同意楼上说法,冷却速度和钢的MS点也是影响的重要因素.
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