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[转帖] SPC的焦点──制程(Process)

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发表于 2011-6-22 15:14:28 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国上海

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Quality,是指产品的品质。换言之,它是著重买卖双方可共同评断与鉴定的一种「既成事实」. 而在SPC的想法上,则是希望将努力的方向更进一步的放在品质的源头──制程(Process)上.
3 P# c0 k& w7 X# V# a" U) s+ G) r  因为制程的起伏变化才是造成品质变异(Variation)的主要根源.
; v: J5 _6 o+ H" t  1) 异常变动:
( M7 J4 d: C( v2 V  过程中变动因素是不在统计管理状态下的非随机性原因,由于异常因素不是过程所固有,固不难除去,一般情况现场人员对异常因素的消除可以自行决定采取措施,而不必要请示更高级的管理人员,所以也称之为减少变动的局部措施。
) o# G( h9 h9 v& ^$ y  2)偶然变动:6 W0 V* p: K# e: X
  过程中的变动因素是统计管理的状态下,其产品的特性有固定的分布,即分布位置、分布及分布形状三种,由于偶然因素是过程所固有的,难于消除,要消除偶然因素必须涉及到人、机、料、法、环境等整个系统的改造问题,需要投入大量的资金,故不是现场人员所能决定的,而必须经过深入的调查研究和做出全面的可行性报告后,再经高层领导做最后的定夺,所以称之为减少变动的系统措施。
' q$ ~& [% b6 ^6 B- |: X
" O" k( M: l" k5 A% P! [  特殊原因* j, q4 B; n7 T3 f9 F. J
  一种间断性的,不可预计的,不稳定的变差来源。有时被称为可查明原因,存在它的信号是:存在超过控制线的点或存在在控制线之内的链或其他非随机性的情形。
4 ^& P& ?9 R4 L& `1 H
8 j7 x& _7 M, y$ `  普通原因) V6 ]4 M- F5 [
  造成变差的一个原因,它影响被研究过程输出的所有单值;在控制图分析中,它表现为随机过程变差的一部分。
7 C" {  j, Y# m, d9 [. {  合理使用控制图的益处
9 ~3 x: c/ x% W$ e) g+ N& e8 R# l  • 供正在进行过程控制的操作者使用
3 @( D9 ^' ~+ s7 X3 k. K$ J, w' D' k  • 有助于过程在质量上和成本上能持续的、可预测的保持下去
: C- @4 {# j' ?  • 使过程达到:" A# E, E( ^3 k8 |1 T4 J
  • 更高的质量
, A/ U! x5 F! L4 n# |2 d2 a  • 更低的单件成本/ b1 ^2 H+ L2 Z$ l' C# b3 p
  • 更高的有效能力4 O4 G/ }0 Z% a% M
  • 为讨论过程的性能提供共同的语言
, c! Y( M( W! V/ u6 P: k  • 区分变差的特殊原因和普通原因,作为采取局部措施或对系统采取措施的指南$ u( D# Q2 A8 K, s8 R
  在实际应用中,当各组容量与其平均值相差不超过正负25%时,可用平均样本容量( )来计算控制限.$ h8 z8 z. f6 f$ Q2 q# @; k

+ s) W1 o7 z; Q( W7 W7 ]) n  在什么条件下分析阶段确定的控制限可以转入控制阶段使用:! ?' m( v3 X* ^, b# o
   控制图是受控的8 w/ ~; P: V4 W1 x9 C1 ]
   过程能力能够满足生产要求
: U# d0 b  m1 `) c1 g& a! F  控制图是根据稳定状态下的条件(人员、设备、原材料、工艺方法、测量系统、环境)来制定的。如果上述条件变化,则必须重新计算控制限,例如:3 K* l, ~# _/ X
   操作人员经过培训,操作水平显著提高;
/ `& k  P! v4 b" Y0 C  b. y   设备更新、经过修理、更换零件;
  t% g3 C/ O' G& o) L% I# H   改变工艺参数或采用新工艺;; T$ C, d. L8 f7 m9 @
   改变测量方法或测量仪器;
3 s4 H- a+ `% Y4 a2 D+ u5 B, N   采用新型原材料或其他原材料;( X5 m) N  A7 r- y( Z* s2 P; E1 j
   环境变化。! x: S4 Q0 O3 \% l) r; Q+ z1 q8 D- I$ ^
  使用一段时间后检验控制图还是否适用,控制限是否过宽或过窄,否则需要重新收集数据计算控制限;4 k5 ]$ W: D  k  f) |1 @
  过程能力值有大的变化时,需要重新收集数据计算控制限。
; A6 \& {+ }! T/ X* O( S  对于p,np图, 过程能力是通过过程平均不合品率 来表示,当所有点都受控后才计算该值.
* S! X: E- `: ^) |- R' b' L  当Cpk指数值降低代表要增加:
1 i4 B! T! r5 ~# v0 D   控制
, Q$ j2 ~9 d6 r- m3 {   检查7 M$ B' M, Q9 q2 b0 a: ^- ]( I0 n- }
   返工及报废," l  @, n0 l9 a) n6 G3 ]1 c
  在这种情况下,成本会增加,品质也会降低,; W1 U; d' e& P# r1 x" O
  生产能力可能不足。
- g! g) K9 U4 {& I+ G6 C  当Cpk指数值增大,不良品减少,最重要是产品/零件接近我们的“理想设计数值/目标”,给予顾客最大满足感。 6 E8 W3 o' O" ]. o* k$ t
  当Cpk指数值开始到达1.33或更高时对检验工作可以减少,减少我们对运作审查成本。3 B0 W* F8 a7 A2 m6 p- m* b
+ I2 [8 ~' I; z
   普通原因变差5 S$ u' i: U; C& X: d1 ~
   影响过程中每个单位& \  ]8 j3 E9 C- f
   在控制图上表现为随机性
$ G0 w* n( L) H+ ]- n. F6 z   没有明确的图案
  x" I3 m5 N8 K- I7 B( _1 i5 f   但遵循一个分布
: u! q5 ?) q: y   是由所有不可分派的小变差源组成
0 J3 G( E3 B) ~9 s) G* X+ I   通常需要采取系统措施来减小' P5 B& C9 S/ q% x& o% L  o
   特殊原因变差. H5 e* B# T5 b1 E
   间断的,偶然的,通常是不可预测的和不稳定的变差5 U' L9 p* {0 N: Y4 w
   在控制图上表现为超出控制限的点或链或趋势* T+ w* Z7 y; B
   非随机的图案
* C5 b# S5 A6 ^$ ]6 [- X   是由可分派的变差源造成该变差源可以被纠正
& D+ E3 g" f- h7 |( l$ G   工业经验建议为:) z8 R4 ~' u( k( i5 e, k! \; E1 c
   只有过程变差的15%是特殊的可以通过与操作直接有关的人员纠正
* B( r. ]! d7 E8 @3 h3 L   大部分 (其余的85%) 是管理人员通过对系统采取措施可纠正的: h5 I! I/ O7 B8 ]" \
   控制图可以区分出普通原因变差和特殊原因变差
+ G  f3 D) C3 G6 a; ]   特殊原因变差要求立即采取措施
% J: Z1 H" g8 d8 O) L   减少普通原因变差需要改变产品或过程的设计
6 X4 n9 ?! t; r# s0 _' j% ]( z  ]  r) y
  控制图 - 过程的声音9 {' a, S" N/ g; I7 T; d1 ]" `" K8 Q
   试图通过持续调整过程参数来固定住普通原因变差,称为过度调整,结果会导致更大的过程变差造成客户满意度下降
) e. D8 y: w, I2 M  o, L: Q* }   试图通过改变设计来减小特殊原因变差可能解决不了问题,会造成时间和金钱的浪费, t; E5 m0 x4 N$ }
   控制图可以给我们提供出出现了哪种类型的变差的线索,供我们采取相应的措施" S9 `3 K* ?( i
   能力指数的计算基于以下假设条件:1 w3 W, M/ K  S
   过程处于统计稳定状态* X: B$ Q+ e9 _% v
   每个测量单值遵循正态分布% G9 n/ n4 ^* c7 |
   规格的上、下限是基于客户的要求
: b8 i7 M& b) m6 e   测量系统能力充分
8 B" Y7 m8 s. n# X4 Y0 d   如果理解关满足了这些假设后,能力指数的数值越大,潜在的客户满意度越高
) }* {) R/ k5 Q( o5 v4 s- l8 Y! m5 L& G! T( S- T4 }$ J0 ^) x
  过程能力分析的用途4 Y; k9 I; }+ D: V( c
  -设计部门可参考目前之制程能力,以设计出可制
7 m- N0 d' L& C! k: B& u  造的产品9 Q, Z; `1 J! }7 a& I. e8 d. B
  -评估人员、设备、材料与工作方法的适当性
2 ?7 W( K6 a( z) q. H# @4 l% k  -根据规格公差设定设备的管制界限
4 J' H: `$ b; j+ z  -决定最经济的作业方式
1 o# ]. }6 z- m' P8 |  过程控制和过程能力
7 u9 W( s$ O, }  ◎目标:过程控制系统目标,是对影响过程的措4 g/ L, i0 K7 z# C+ Z& H6 S
  施作出经济合理的决定, 避免过度控制* _1 k+ s' I0 g
  与控制不足8 O4 N$ r  K4 {' V. q8 i
  ◎过程能力讨论:必需注意二个观念
' G4 ~0 A; O# i. [2 d  ○由造成变差的普通原因来确定
* E  ^- q1 o5 F% s% E! }+ W' x  ○内外部顾客开心过程的输出及与他, g- o+ Z: L2 M% ~1 {
  们的要求的关系如何。
: m( \/ [5 B$ ?4 C  SPC就是利用统计方法去:# e7 x: q, W: H* f, m+ i
  1.分析过程的输出并指出其特性.2 y5 ^; K- \, }% O, y
  2.使过程在统计控制情况下成功地进行和维持.+ j1 h8 ^9 J6 l2 ]% a8 P
  3.有系统地减少该过程主要输出特性的变异.! v2 L8 `) {. I* w
  统计制程管制 (SPC)5 J" |# o3 _0 }3 M  {
  它可用统计管制图及时监督与控制线场作业 .
. P0 ^/ Q' l; z# j  . 它可用统计计算制程能力及规格 . 4 x* v( E3 ]! l$ Q% S5 a( d$ B
  . 它可防止制程的偏差去影响产品的良率与品质 / 可靠性.9 H# S2 f: P6 Y$ h0 U/ a
  . 它可消除非机率原因的变异来改善制程.# Z  d' B( m( m; d" g3 t
  SPC 就是依据, w6 ]1 b" z+ G7 J
  统计 的逻辑
# |, l. B$ ]0 U" _0 B! g$ I  来判断
8 u) E9 U: _; K$ l# R  制程 是否正常
( K5 H) a! U9 k4 _& o' P. f  及应否采取改善对策的一套
! ], G/ E2 A  Q$ R( [; s# W  控制系统

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发表于 2011-6-24 09:41:25 | 显示全部楼层 来自: 中国上海
本帖最后由 svw0936 于 2011-6-24 09:42 编辑 2 Y2 d9 z6 |. g4 z# E9 d# @
/ c1 B- c5 g& ~& p; o6 B
很多人认为做个控制图出来就是使用SPC了。为了用SPC而用SPC,其实在SPC手册中对其使用步骤写得也够详细的。' m$ `0 w- E4 r
快餐文化下的杯具。

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Y305799518 + 1 技术讨论

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