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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数3 i$ M4 @' O/ w/ }
新机器验收时
: N( l$ O) l4 s3 u3 G 机器大修后
# p) l0 A& n5 U8 Z; y/ N$ F 新产品试制时: `* E7 E2 y* P2 L
产品不合格追查原因时
7 U# W& X: j2 A- N" w3 Q 在机械厂应和模具结合在一起考虑
& V3 B/ ^% h2 i _ Case study# Y0 ^: Y% K) l8 }" G; x
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
7 [- x1 v5 M, |3 j Normal Distribution-Gaussian Curve
1 ]3 |7 p! g; v7 h1 F A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：' n& ]) r$ f7 A S5 \0 s' h+ H4 Q5 m
Case study
0 } q& z* _, i+ Q8 w- `; Y Case study
- v" B' r% C# C. T0 [" M 请计算出上表的X-s控制图的控制限？
, O) Z' V, y1 J. ?" j2 ~- g& h 请判定过程是否稳定？
$ }) M4 v$ {. U- x i1 ^ 如果是不稳定该如何处理？
) X( y" t5 e8 Q2 x3 S 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？: z4 u2 o4 J1 _
B计算控制限: U. L; b* B1 A [/ X( U. D8 W* C
Case study
0 G# h4 W3 O0 `* u% o9 D Case study
5 d) X/ }8 B5 Q' Y 不良和缺陷的说明
& T! U) X# r; K, K P控制图的制做流程% Y: R5 D0 K) z* K3 f
A1子组容量、频率、数量
3 @7 a! ^0 x9 i 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。
- @6 Z9 V$ `( P, \7 x4 c7 h 分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 - R0 p4 r, A- s
aliqq
) c' b* t Y3 P, W( M( Y) T" }- _4 B
子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。( l& P; C0 n& R4 e
A2计算每个子组内的不合格品率, @) r7 L Y8 T$ G
记录每个子组内的下列值
( e" @2 z( g2 c 被检项目的数量─n
1 R }+ G" y" m3 f' O1 o" k 发现的不合格项目的数量─np
6 O# E& U5 n. k: R+ V 通过这些数据计算不合格品率3 M6 G. t9 t3 s: g7 ]; _2 k
A3选择控制图的坐标刻度$ u. d) F9 [/ u E" H5 S B
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。# d7 W- |7 t7 w# W* p# F! B7 s
A4将不合格品率描绘在控制图上
' X$ y) I* ]/ L+ @# r 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。! p% }: s( y* ?, b4 |$ G
当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
. O, W( H+ ^/ m0 P- n( a/ _: A4 h! U 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。' o7 \4 g$ k/ ]. M, b' Q
计算平均不合格率及控制限
: B" ?* T, Z: x! u 画线并标注5 T k: L; I2 O L9 m9 T5 Q
均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。7 W5 U8 s/ A) G" ?9 P0 W0 P
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。$ ~! M; W* O. h) L( z: d% I
尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
4 y* G0 Z% e& @6 w C 分析数据点，找出不稳定的证据: B5 Y4 m* f4 @: D/ l5 r, i; G2 ]& _( J* F
点
6 K" g$ V8 C5 @. U; t/ [. O& b 线2 d% }" X& U6 i, h0 D
面
5 z9 G R- b( B/ i% e0 R6 ^ 以上三种方式做判定。 aliqq * ?2 ]- P- M' R5 e( K/ V6 Y
寻找并纠正特殊原因
( t6 }, w$ v! W9 f6 e+ e 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
" @ r- K8 ^) Q- S K4 H' L M5 h 控制图的实时性
: G8 [5 t) W i# D 重新计算控制限) ]; K- h7 X8 u R0 X8 |
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。( l7 {' L6 g# }8 o. `
一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。
: Q9 f7 ?0 P* I- b. w 控制限运用说明
) o( C' e% n5 A+ M 过程能力解释2 k3 F, T; S: D7 J- f5 H
计算过程能力
) A5 y; S: l$ }8 O! X* b3 a 对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。7 r& W, y3 D6 q- G5 c4 W9 M
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
0 \1 \& g+ D1 v2 K* u$ D, m0 ~ 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn / ]* @6 ?% a1 x( @, e8 _, E8 h
评价过程能力: T' t: I/ T7 G8 G. e% s$ U
改善过程能力
: p; k3 u' Z+ U" n 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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