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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
7 w, u" v& @8 [6 s4 `! @+ i
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
% S% s( ]. J' A' D! w- R. h
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
* v( r; F% Z3 s% o- {
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

* `+ m- z6 M; e
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
7 u/ [# e3 }9 n% A+ N% H+ ^5 ?  T4 F
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
+ }9 @) ^9 W- A
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
+ q! O: e0 ]' c/ `3 e& i$ |' O(讲座不收费,食宿交通费用自理)
. ^" e' k. k7 S1 T5 B! O1 M, m0 z
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
6 Y. K% f8 x& }4 s: |4 g- W
联 系 人:李晓丽5 E+ y/ d9 y$ m9 P7 ^$ h, _
段玉霞
% w4 s9 s0 \! y5 t. R赵石彬
4 p: {2 ~0 d) \8 L+ H2 [9 _
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
/ `7 \( o0 G8 w" E, ?

" X2 s# F+ P; n/ F, N' R7 e9 c! v- T4 u真:010-689809767 B7 O" f. B9 @0 y+ E/ F
) Y, j# k# c" k" \. S
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
% Q& q4 G; q7 [3 e) l, @

- {2 L3 U: M' F9 q( {! `
会 议 回 执

/ T' J, q* v9 E
单位名称:

) @4 y- o2 T- S& M
姓名
8 \* k% N# b3 t( W  w
职务

" D6 |( N7 A" j# @% a9 a
联系电话(手机)

! [! K7 `2 y6 K( W# R6 f+ L7 O

2 P8 N; x' g7 }5 V) x

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3 U# ?8 j% e9 P: ~5 d3 T. B
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% U+ s2 x0 {5 j1 z

: W# T4 E" F; F5 s$ T2 f
请回复至:
3 [! @9 g* J( j9 {lixiaoli.127@163.com
1 a* ^/ E" |1 l, g
联系人:李晓丽
3 i# X+ Z( |3 u! u: i  s5 k电话:68902940+ k( o& t5 b6 _7 U, }  }: u
传真:68980976
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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
; z9 {) I9 W3 C/ R6 Y% v3 r$ DXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。$ \, t1 ?; Q) a/ l9 l( K% D
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
0 x/ d: e: R; ?9 P1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
% g  r* ^8 V' j+ V1 }! p2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
& y+ S' V. h0 {+ G/ D3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。: N3 U4 Z' E2 i, @: Z
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。, e) w9 m9 I" Q5 N8 \
5、        环境因素。例如噪声。8 s, `3 B: T' {# r# [/ p; A
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。+ X0 G' L0 h  t( ?( ~" j4 P7 q$ I
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
9 p; [1 y, f7 F) h# b! L5 r, K 6 E# @1 h2 e, ^, j0 f/ a4 x
; c# J/ I' Q  @" V5 T9 d' h
Joseph N. Gray$ \1 q+ z& o! t/ x: D, ~9 U
2 @2 a, I: ]& O
3 G3 B: V+ K) A6 d' |
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心+ i% q3 ?% v4 k# d
美国Iowa州立大学无损检测中心5 _$ H! V, A% T9 \# r) n
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍% X$ u, T% \0 Y6 g/ u* s
软件介绍:. M. }5 _" B; Z. @# q7 S9 `9 `
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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