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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
; D6 S: }9 K: V# E: J0 S( J. B讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
2 c8 Q D" Z; D+ ]* _8 \讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间); ! Y! g$ B0 D9 Z. E
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
/ Q8 U' U$ c9 Z! C# ]' ]3 f主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
, ]/ d/ G2 `! ~主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
- r" E% r& |( [9 \) @$ k. l& H! v附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历! M- L. u" i, Y7 _; E6 a
(讲座不收费,食宿交通费用自理)% |2 E e- ]/ T* ?; p# b2 H
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
0 P8 Y0 o* K( L1 I1 D8 {: w联 系 人:李晓丽
+ J& ]0 N2 H+ O5 E/ y段玉霞 f& u; Z6 A' r& l& o
赵石彬
3 l& ^2 f! J$ o) ^8 f$ k- Q联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567 # P# K) w: n4 o1 q
传
9 P) ^$ C& \7 `6 F* a6 p真:010-68980976
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会 议 回 执 5 v+ s4 g+ k8 R& s* ?
单位名称:
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联系人:李晓丽1 v- h/ P* z, r- U0 R6 ^7 {
电话:68902940 ?$ [" `( K) c; ^
传真:68980976 / q. V# N, B: q4 R% \
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