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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

; D6 S: }9 K: V# E: J0 S( J. B
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

2 c8 Q  D" Z; D+ ]* _8 \
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
! Y! g$ B0 D9 Z. E
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

/ Q8 U' U$ c9 Z! C# ]' ]3 f
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

, ]/ d/ G2 `! ~
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

- r" E% r& |( [9 \) @$ k. l& H! v附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历! M- L. u" i, Y7 _; E6 a
(讲座不收费,食宿交通费用自理)% |2 E  e- ]/ T* ?; p# b2 H
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

0 P8 Y0 o* K( L1 I1 D8 {: w
联 系 人:李晓丽
+ J& ]0 N2 H+ O5 E/ y段玉霞  f& u; Z6 A' r& l& o
赵石彬

3 l& ^2 f! J$ o) ^8 f$ k- Q
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
# P# K) w: n4 o1 q

9 P) ^$ C& \7 `6 F* a6 p真:010-68980976
/ j4 u6 A8 {* F- E
' G( ^* w8 B% S/ J
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

) C9 _5 L8 `) S5 R0 k2 d$ G) E' n
4 v. Q; W" r: v; U; g' p8 s
会 议 回 执
5 v+ s4 g+ k8 R& s* ?
单位名称:

. N! D0 x; M# Y, w, J6 l
姓名
" b. b# V% @* E+ B& }/ t: k6 t; V$ G
职务
/ e, t+ o# i. D9 v( A! [1 F
联系电话(手机)
8 }7 W$ b9 K% o2 y& t# L4 w
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1 S) f* \% p0 X6 u0 x, F
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2 |& K9 J) g1 }% u& ~% a
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% Y; F! f( _" D. @7 l% u
2 _$ a- y/ W% s9 ^# _6 a- K: |
请回复至:
: _- Q2 B4 w( R: K3 x7 jlixiaoli.127@163.com
" ^* n% U) F  z' S* W9 m7 U$ i2 u
联系人:李晓丽1 v- h/ P* z, r- U0 R6 ^7 {
电话:68902940  ?$ [" `( K) c; ^
传真:68980976
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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍+ @0 ?" {6 h# o' `
XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。# m2 J3 R  l. h& h9 V3 H
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
' ]0 i9 `- i, _- T. k4 ?1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
- `% B# ~( K) ]. ^2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。* q& r- _- j5 {
3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
" L, d$ H! v* ~1 h  ]: N: S4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。; |/ M& \# f( P+ ^( R+ U3 @  x; i
5、        环境因素。例如噪声。9 v5 X: E' }) _
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
- r3 |4 a4 N( B2 E/ t/ y) r6 iXRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
  v4 a8 a5 _3 f, `! O 5 G0 T& [- b$ {# k. J

2 V& q8 M; D2 ^3 ]Joseph N. Gray
: v0 q# M9 V+ C1 L( O+ b
* A% A+ K# i6 i- W2 x' I3 ~- U  M6 {5 A4 o- a& x
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心
( m& X- v. c% \9 C美国Iowa州立大学无损检测中心
, v* B3 E+ w3 j1 j2 M) Zhttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍/ r5 V, V- Q; W1 d
软件介绍:
( S* a' P) Q+ a2 S& l  u$ v4 R; g http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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