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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
4 e/ j& U5 M9 k  X
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

4 w* H4 R0 B8 b
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
6 N- s" ^7 j( I$ S5 N7 t# }' l
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
# Y1 k7 @! |# e, d
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

; {: K5 M& K5 }4 o6 w- g3 H- }" E
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
$ `; ]4 X- X! V* N( c' X9 p
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历: l6 q6 g4 a9 @1 S
(讲座不收费,食宿交通费用自理): O$ J% H( L9 Z" o
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
" X& b4 a9 j: ]3 d0 E+ K1 N8 Q6 q
联 系 人:李晓丽
. Q( F7 T/ L" z  P/ {段玉霞
" S* l, X4 N* A# K6 o赵石彬

. q+ x$ t" h8 R/ z
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567

3 E1 g& T# W1 `5 @6 J+ a- t

9 z% [7 A4 U8 }  ]+ w+ I真:010-68980976
/ b# |# @/ {3 X5 w2 N3 H

, j9 x4 c1 T$ l5 P  ]. W: m
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

2 j' T1 s7 |- B6 z8 L

5 t3 d. g6 G6 i  D0 ^  b, Q- E
会 议 回 执
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单位名称:
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姓名

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职务
- F2 P; h$ R9 I4 f. B! w7 G5 y
联系电话(手机)

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6 B7 N( d2 \# R+ y5 W
请回复至:4 T  O2 D1 D6 a
lixiaoli.127@163.com

1 S$ ?; L: x; Y) n$ A, z  K
联系人:李晓丽
: M1 R9 q' [- w电话:68902940
% f0 K0 U4 X3 f, v传真:68980976
/ V* n8 \( |* _" ]

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
: Z: v8 J3 ~) w! G& {1 AXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。2 @" \2 \; w$ A6 z1 u& Z
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
+ f5 x4 u) ~/ p* u* T$ Y% i1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。8 i$ k( }. F* d4 P
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
) t) j. I1 }! U; ^+ |- {- ~& \3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
' @5 @+ [+ a9 {4 @( m" _! z% w4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。1 |! O, _: Z: q9 j; I# ?8 L
5、        环境因素。例如噪声。9 {) }" l0 r! }9 U
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。  n0 F. S4 u  J
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。. S% L3 |7 l+ J( G3 B3 Q7 \

6 p+ o0 m/ u) O- {% {+ e# D" x- g+ [4 l, U. e) |
Joseph N. Gray
+ u. q4 P' A' S& d1 G ! d$ @8 `4 r- p7 P4 l3 j5 q2 ?7 V
# \; Z7 L; l& h4 S
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心
; U8 Z7 G$ [4 C; }4 I' V  i美国Iowa州立大学无损检测中心# C" t" T5 F- m& _: ^% q: `! }5 W
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
7 }( v, X4 h* Y: M软件介绍:$ l" H' t& D, U4 V/ T
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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