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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.
' n4 p! W* Y, A: _1 S1 R介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快8 S* L8 i" w+ i; `. r. H
即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm
% T' C" f. P0 I$ ]5 T) R~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为
. d& ~+ W- m; O0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),8
4 M9 A( z3 `/ [, r3 a* x' a2 ?* `, W$ [级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,, k# A% w* ? r& ?, k
1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射$ J+ j4 }# ^+ m: S+ r5 F$ s
B1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示. % x6 ^5 w* \$ F
通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~; e. v! R- S, f' b# u3 n* ]3 o
1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰, T6 g B, T V* S; j; B2 P
度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率$ e$ _; T6 S5 F- ^
时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ
+ `2 _* n# z6 n时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是 Z: e! y1 W4 F/ W+ j/ A5 W$ e( M
说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又" N& F0 l9 W* ~. D+ n+ B: z( _
必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.0 u) m7 x8 I5 F7 c1 `: V
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[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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