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[已解决] 电路板老化试验工艺

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发表于 2007-2-23 00:18:25 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国云南昆明

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电路板老化试验工艺.+ {, C* d9 F6 N( E1 b% h
希望能共享一下.先谢谢啦.$ [0 K% y( A9 n; F9 g% N) F

) b. c: w  P3 D- }[ 本帖最后由 yqwfk 于 2007-2-24 07:42 编辑 ]
发表于 2007-2-23 03:53:25 | 显示全部楼层 来自: 中国广东佛山
只是我所了解的其中一种,具体情况应根据自己实际情况来定工艺。
  n5 F  m2 a1 x* r7 t老化试验中,电路板通电 ,并放置在高温炉中。老化试验的温度、电压负载和时间都因器件的不同而不同,同一 种器件,不同的供应商也可能使用不同的条件。但比较通用的条件是在125℃到150 ℃温 度下,通电电压(一般高出器件工作电压20%到40%)通电测试24到48小时。

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发表于 2007-2-23 10:01:39 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏泰州
对啊,还有低温试验。
8 @  `6 m$ R0 ~主要看使用场合。

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 楼主| 发表于 2007-2-24 07:39:53 | 显示全部楼层 来自: 中国云南昆明
二楼加三楼的说法值得参考,比较有价值,谢谢.
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