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求助《现代电子装联工艺过程控制》电子版的图书$ d6 T2 o% z: D, e' t* K& ^
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0 V( R3 C5 I" j2 P: V& v" g( ~6 t4 V& P8 B
: i4 r3 d7 t3 o! J6 J, e b5 P# o+ E内容简介《现代电子装联工艺过程控制》讨论了现代电子产品生产过程中工艺过程控制的重要性,并以人、机、料、法、测、环等六大因素为对象,就工艺过程控制的基础技术理论、内容、方法和目标作了较全面的分析。旨在为从事现代电子产品制造的工艺工程师、质量工程师、生产计划管理工程师、物料管理工程师等,提供一本实践性较强的、理论和实践紧密结合的参考性读物。 : K& E/ ^# L( A2 H
0 W0 r# [3 k6 ?3 g编辑推荐《现代电子装联工艺过程控制》是现代电子装联工艺技术丛书。 & x5 l9 ~' G' U, I* Q
' m, K9 g9 s2 W3 h; \. h目录第1章 现代电子装联工艺过程控制概论 (1)
* ?/ m% J4 B) n6 V0 O3 K1.1 工艺技术和工艺技术进步 (1)5 j* z4 ]( Q. r8 I( g
1.2 工艺过程和工艺过程控制 (3)! ^: Q: l( J2 i; h' z4 [& k
1.3 工艺过程控制的要素和内容 (4)6 N, |* p4 \" O* o
1.3.1 工艺过程控制的要素 (4)
% l9 S2 a5 L, [. p1.3.2 工艺过程控制的内容 (4)9 B0 E- d1 D4 r1 [- B0 g* a M
1.3.3 控制项目和方法 (7)* y4 D9 R, A3 [& J# `' ]% A" M# A0 u
1.3.4 数据和图表 (8) v* c" ^8 W) T* D9 j5 c. q5 W2 r' \
1.3.5 产品生产与运营 (9)
+ y; ?: L1 W: P* F1.4 SMT全过程控制和管理 (10)
. t: t1 S+ C& d8 F, f1.4.1 概述 (10): V" ~. v, \' z1 W5 N# g, g
1.4.2 SMT全过程控制和管理 (10)
3 H7 d2 w# J" m( O1.5 工艺过程控制中应注意的问题 (13)2 s. `+ ?6 Z1 \; i, z
1.5.1 要更多关注检测过程 (13)9 L) W3 m1 t3 Z, E+ U3 N" s- H
1.5.2 动作和措施的执行 (14)
T! D# G$ `7 O& i: c7 i& \1.5.3 正确地分离变异原因 (14)9 d5 _2 k# Z& Q) a/ G
1.6 电子制造技术的发展 (16), I, A' E8 T/ ?9 Z
! E! d1 z: u0 ?, x) ?0 m0 ]
第2章 现代电子装联工艺过程的环境控制要求 (18)& _) i# f2 B& ~
2.1 现代电子装联工艺过程质量与环璄 (18)
$ x0 X8 e, |7 U& j0 V. a+ h5 ?2.1.1 现代电子产品组装质量与环境的关系 (18)
5 \2 k) f d. w- |2.1.2 DPMO与大气气候变化的统计关系 (20)
8 |$ T6 S0 V' y* X% b5 h2.2 现代电子装联工艺过程对物理环境条件的要求 (25)
/ w |! L/ Z3 d& x1 @ x2.2.1 正常气象环境的定义 (25)8 l5 f q* k" n; n+ U* C0 h4 k
2.2.2 现代电子装联工艺过程对物理环境条件的要求 (25). o. ]+ s- v5 s
2.3 现代电子装联工作场地的静电防护要求 (28). d0 o6 I# q. Z" w, r) ~
2.3.1 静电和静电的危害 (28)
* g) G9 ?) i. _+ P* q2.3.2 电子产品制造中的静电 (29)
0 ]! j, v8 h. ^4 P' P' t, F2.3.3 静电防护原理 (30)
& L" C6 l+ u7 Z$ e1 W2.3.4 静电监测仪器 (30)
" Q9 e% [8 b- U2.3.5 现代电子装联工作场地的防静电技术指标要求(30)
9 I7 p2 g/ A" _; ?/ @. ~2 ^5 j4 B' Q1 _" g, A
第3章 电子元器件、PCB及装联用辅料的互连工艺性控制要求 (32)3 B& q7 E8 e, R. @0 }2 M
3.1 概述 (32)
1 V/ a1 \3 t# z1 d3.2 电子元器件引脚(电极)用材料及其特性 (32)
' Z- Z U8 R" s( p$ u2 w3.2.1 对电子元器件引脚材料的技术要求 (32)4 r# P# Z, |& }: a
3.2.2 电子元器件引脚用材料 (32)
8 p* m8 _* m) t" e$ k' k3.3 基体金属涂层的可焊性控制 (35)& V( n' x" U1 D b: ^) m( d3 Q& \
3.3.1 可焊性 (35): J, ~3 G/ @/ e+ z+ m0 D7 s
3.3.2 可焊性涂层的分类 (35)) K2 b5 `! H* Y7 y q2 I
3.3.3 可焊性镀层的可焊性评估 (36)9 J! E9 o/ U4 f% d% ?
3.4 电子元器件引脚及PCB焊盘可焊性镀层的特性描述 (37)/ n& y. H/ T6 D: w: o; S" {
3.5 电子装联工艺过程对PCB焊盘涂层及基材特性的控制要求 (41)
1 h/ d8 T T$ l; A0 v/ \3.5.1 PCB焊盘涂层材料及特性 (41)
" {+ q% m8 n3 w3.5.2 电子装联工艺过程对PCB基材特性的控制要求(45)
4 }8 m# T2 u( |7 f3.6 常用电子元器件引脚镀层的典型结构 (46)
6 u. L8 |. Z3 _* Q! ?0 ^3.6.1 THT/THD类元器件引脚镀层结构 (46); ?/ ?) r2 m4 E! f: T" E
3.6.2 SMC/SMD类元器件引脚典型镀层结构 (47). ]: q8 \5 D6 \1 Y6 w
3.7 电子元器件引脚及PCB焊盘金属镀层的腐蚀(氧化)(52)
' C/ E& R5 w$ g" C* f! E3.7.1 金属腐蚀的定义 (52): j) j8 L, {/ Z2 c; z- Z
3.7.2 金属腐蚀的分类 (53)5 l* g9 d- R0 i( x& y
3.8 引脚镀层可焊性的储存期控制 (58)% G: S$ D1 O3 g
3.8.1 储存期对可焊性的影响 (58)( b5 F. t3 a8 K. G4 J/ _
3.8.2 加速老化处理控制 (59)
) `. G9 d% Z3 i, {7 |8 |- u, {% L3.9 电子元器件焊端镀层的可焊性试验 (59)- l# X# R/ X" J. a2 J
3.9.1 可焊性的定义 (59)& _ n* a, K L3 o* Q) H% x; b) C4 D
3.9.2 可焊性和可靠性 (59)
) c/ l* m+ q0 ]6 b7 I) Y% U6 \3.9.3 焊接过程中与可焊性相关的物理参数 (60)
9 H& e6 u; v: l, Y9 j- K+ ^3.9.4 可焊性测试 (60)- _3 k! B# Y6 n2 ^
3.10 助焊剂、钎料和焊膏的组装工艺性控制 (63)
) Z. y2 [5 V z3.10.1 电子装联用助焊剂的工艺性控制要求 (63)
* z% A7 u* U$ @% @1 h/ Q% q3.10.2 电子装联用钎料的工艺性控制要求 (66)
7 Y! @, V: Y7 f2 {$ T3.10.3 电子装联用焊膏的工艺性控制要求 (68)
* v. w! |* N/ O, d$ A& M3.10.4 如何选购和评估焊膏应用的工艺性 (69)
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