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[已解决] spc的问题

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发表于 2009-6-10 22:30:20 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国江苏苏州

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我们在做 SPC的时候
5 H! d5 J' W- M8 K$ X是不是现在要证明样本是否呈现正态分布& L6 R3 B: M6 S2 l
如果不成正态分布。是不是做了也没意义
9 }& Q0 V) Z4 g% G然后怎么证明正态分布?1 m+ d. [) W% o# z+ I* l3 u
我们现在就是直接抽检样本,直接计算CPK.一个工件有很多尺寸,每个的CPK都不一样,有大雨1.33的。有的尺寸只有0.52 l* ?# G8 h6 X3 Q" L8 Z
我不知道怎么弄~
- e, h+ ?. I' I. a, H兄弟们告诉我一下
发表于 2009-6-16 20:24:32 | 显示全部楼层 来自: LAN
老兄你的问题好多啊!
5 c1 ?0 F: m& W- L) N" B, L- L做SPC时候一般要求是正态,因为,我们采用了正态的模型。(我们的风险是用正态分布估计,我们的判异准则也基本上是基于正态分布然后提出的)。
0 j, v. y; }, ]; ?( s; u: N6 D5 @1 A( Y5 ^但也并不是不成正态分布就做了没意义,虽然我们碰到的绝大部分随机现象都服从正态分布,但是也有一些现象服从其他分布,此时我们有两种方法:将非正态的数据转换为正态分布,然后用正态分布去计算和监控制程。采用其相近的分布的数学模型,比如weibull。另外更具中央极限定理,如果你样本数取得比较大的话,其平均值会服从正态分布。但是如果数据偏态太严重会需要很大样本量的。比如卡方分布,好像要到15左右,样本量太大了。" x6 q! e% E, I
数据分布是否服从正态分布可以用正态检验,MINITAB等统计软件可以帮助我们。
0 W" h5 x, E! r8 K. m& y' `- {计算CPK前要先看制程稳定不稳定。这样才有意义,才能用现在的数据去估计将来。0 O5 V0 d$ L* j9 q1 f" Q
工件尺寸比较多,肯定有大于1.33,和小于1.33的,这时我们需要对<1.33的尺寸进行分析改善,提高制程能力。( Q# v+ V4 G) u5 V
至于具体怎么弄就要更具你的具体情况了!$ k4 l( `" E3 ]" G/ q2 ]- M
个人觉得用SPC一般是一些关键的品质特性,且一般大于1.33后再用,否则你即使受控一样有好多尺寸不合格。
) k0 L. m( A' F' Y1 bSPC是主要是一个监控工具,其是为了帮我们看制程是否稳定受控,制程是否有变化,以提前给我们警戒。其不能取代我们的技术方面努力,因为只有用技术才能提高制程本身能力。
; l4 K: ~3 O' O" ^; y" ~当制程能力还不够,制程还不稳定的时候去用SPC,用SPC其实就是一种侥幸的心理,希望让SPC来告诉我们该调整制程了,其实也没什么错误,用SPC来推动改善也是一样。只是觉得我们的制程本来就不够好,需要改善是事实,并不需要SPC来报警,如果SPC管用的话会老是报警,如果SPC不够好的话,其不报警,但事实上会产生不良品的。
  X8 s, o' b1 `" ]" K6 nSPC手册里有说SPC这个工具不是让我们关注在产品端,而真正的了解制程才是关键!
" n' Q  C4 P0 U; F- y哇,敲了这么多字,好累!

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 楼主| 发表于 2009-6-16 23:16:46 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏苏州
原帖由 xingkong1 于 2009-6-16 20:24 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif% I3 u1 R+ h+ E" @7 W: L. Z* K1 [" _
老兄你的问题好多啊!  y% [& R/ F$ j8 u4 I' V
做SPC时候一般要求是正态,因为,我们采用了正态的模型。(我们的风险是用正态分布估计,我们的判异准则也基本上是基于正态分布然后提出的)。0 f1 X, ^  X. Y/ N1 @  U4 v' O' G
但也并不是不成正态分布就做了没意义,虽然我们 ...
3 H$ N5 |" o0 A6 ~$ ^0 x' w
谢谢老兄说了这么多3 e( }- e. P0 Z" n+ J4 s- Y) E1 e! Z% z
这是没机会. m. v' T$ J! J, a/ b  ?2 P
有机会我肯定请你吃饭
, @/ F6 S6 w/ E" l  }谢谢 9 Z8 p( A0 O. v& F
不嫌弃小弟的话加qq544928916
发表于 2009-8-12 13:01:11 | 显示全部楼层 来自: 中国江苏苏州
对于cpk小于1.33的就需要进行分析了,是cp不好,还是ca不好,并针对性的改善。- v' y, @: R. |
cp不好的话,应当修改工艺,提高精度,增加调试的频率。
" r) z/ v& [* q+ n, |: wca不好的话,应该修正中值,在调试的时候就应当争取做到中值。

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