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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数( m' ]; y/ }3 A$ }
新机器验收时7 ^$ l2 I% i4 h+ ~
机器大修后
0 u& H6 q7 @4 q4 o- b 新产品试制时( `4 d- b* ?8 J/ Z# Z7 C/ j
产品不合格追查原因时) Q( [* }! V7 Y2 e5 j: Q) k
在机械厂应和模具结合在一起考虑8 `* T( M% y% S4 w' {- V) |& p1 v
Case study
# J1 q7 n1 T4 m+ D( i$ f% K WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
8 s/ D. k1 C& I0 @) S, ` Normal Distribution-Gaussian Curve9 y1 P5 O1 E" q5 T) e2 K
A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
$ H( {& f Q' A i" \ Case study
. l; n( Q0 M9 p Case study
- ~" A: @5 ?/ M0 X( h 请计算出上表的X-s控制图的控制限？6 f2 L, n, I- [1 O
请判定过程是否稳定？
8 S- @' Q( u K& b" ^6 q" W 如果是不稳定该如何处理？
5 m5 c8 }5 x/ h$ z3 [: H 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？9 s0 `) W S1 E( \( u" b4 K4 ]
B计算控制限2 M8 V- I& a5 N b |8 ?1 r
Case study# ~% M- f4 |+ H6 a+ d# P
Case study( p" \, c( i: ?) p! A& z% W
不良和缺陷的说明2 ^+ ^9 d) u& }( ]9 ^ F
P控制图的制做流程0 B3 J. d* |- f; _
A1子组容量、频率、数量+ i$ \* N" L H. P4 B8 u# ?- ^. j
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。" `$ e; A# u: H
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
! } a3 u# y, L) \/ ealiqq& F( m/ H/ v' ~
2 @7 q0 p l; l6 E 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。) a" _/ C) o9 ?$ n& }5 ?
A2计算每个子组内的不合格品率" ^/ v" u) `! B6 P8 o
记录每个子组内的下列值
* @- M4 i3 M' l0 _ \2 v* f 被检项目的数量─n# l( b1 N4 H9 l, h- K
发现的不合格项目的数量─np( a; c/ [! N( w& ^' k
通过这些数据计算不合格品率
- [+ L+ L; g) h; {6 M$ E A3选择控制图的坐标刻度9 L- C" L! h/ O
描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。# o l6 z; h, z4 x6 ?, C
A4将不合格品率描绘在控制图上
6 R# w& O6 Y0 [, }) d9 U0 J, [ 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
6 s8 @+ R: p5 L( G. @ 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。2 _. h3 d# R! j+ d: U. v
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。
& M) j# @2 ^8 w2 v. `3 v0 r 计算平均不合格率及控制限8 ?( X& D+ [0 a1 B: O$ a1 U! F
画线并标注
' `" }9 m2 b5 Q# s5 P n: h0 p 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。
0 n' n1 U; o, ^" E 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。
. `# N0 L5 X$ K" z/ \- I' Z% o, ? 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
, m( }0 n( D% ^" v 分析数据点，找出不稳定的证据
" N% L7 n5 u1 ?; {" S( Q1 z+ N 点2 F0 k R6 d& Q1 f1 u7 r: x
线" Y) j/ e& f. }+ n* K3 a$ D
面
( Y: R9 M0 I8 Y) {; Q5 a$ s d5 H m 以上三种方式做判定。 aliqq 1 L+ z& G+ O2 } E
寻找并纠正特殊原因/ ~! C# @4 `: b9 o x3 }
当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
1 c' m0 ~6 h) K7 d: Y4 |* C2 A 控制图的实时性
& G7 r7 p: w# y# ?5 V 重新计算控制限, K: f9 y. f0 c( x2 W& T0 H
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
6 p' V# }1 i0 S/ U 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。5 I2 ], }, r% n7 h& p! z
控制限运用说明
9 B1 z3 g+ Y- k% S 过程能力解释
+ E# k2 r' \3 H 计算过程能力4 Y( R. _; T0 `1 R& |
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。
! C4 @& J( X: e* l9 X; W 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。# J y7 t* u' @# j3 M, d, J
当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn % {% R, E& O' _4 @' z
评价过程能力4 A2 `: t: ^3 }1 _
改善过程能力4 D1 }8 F- M0 U) _3 p
过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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