关于CMK的问题

peter2088

我们在做CMK抽样
0 X- Y4 T- g. F0 m连续抽检50个样本
* h5 J' P6 n3 }2 w9 o需要分组嘛？
* t6 m* m. [2 G0 m难得就直接用STDEV把50个样本的西格玛算出来
，还有就是我厂的产品，机器生产出来有很多个尺寸，是不是只要测量其中的一个尺寸，总共得出50个尺寸就可以进行CMK的计算了？
帮帮我谢谢大哥们
2 g: x1 u+ ]% f$ q
[ 本帖最后由 YHHL 于 2009-6-8 17:38 编辑 ]

peter2088

:ang: :ang:

svw0936

使用任何数据，然后再套用公式，都可得出计算结果，问题是这样没有任何意义。

0 }! L. B# _/ |% @* e" g9 K首先，你的抽样有问题，没有考虑过如何抽样。一般情况下，每次连续抽4-5样本为一组，取20-30组数据（一般要求不少于100个数据）。
其次，计算Cmk时不用STDEV，要用R/d2.

lanszd

测CMK当然只能针对一个尺寸做CMK,举例，这台设备做跳动可能cmk比较高，但不代表圆度的CMK也一样好。

jhlafr

没有搞清楚就乱回答，CMK不用分组，针对于特殊特性做。

svw0936

首先应该搞清楚Cmk到底是什么。
% T6 @3 V4 b9 G: z8 D! l如果真的理解了能力指数和性能指数的区别，就知道到底有没有乱说。
- x" G: r. y8 m+ `7 k3 U7 \如果对基本概念都理解不清的话，还是别误导人家的好！

jhlafr

原帖由 svw0936 于 2009-8-18 10:02 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。
& w, q+ D! E7 V3 G: k' B8 L如果真的理解了能力指数和性能指数的区别，就知道到底有没有乱说。
% ?. ?. Y4 K  T2 B# a7 M- r4 S如果对基本概念都理解不清的话，还是别误导人家的好！

, d0 ?. R9 r7 T* A' r' U提醒你一下，CMK是设备能力指数，不是什么能力指数和性能指数，你确实需要先理解基本概念。

hansenyi

做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.

jhlafr

原帖由 hansenyi 于 2009-8-19 21:21 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif
7 M' V9 ]% ]7 S9 ?做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.

又一个基本概念不清楚者！

kellyz

何时应用Cmk指数
　　新机器验收时
5 H- L) _0 ?7 E1 M0 c8 t1 E. e　　机器大修后
1 X) ~8 P& M5 i+ @) J. |& p8 f　　新产品试制时
　　产品不合格追查原因时
2 z( @& R* v) `/ U2 l4 {　　在机械厂应和模具结合在一起考虑
　　Case study
4 P, D. e1 P+ G9 S4 z( w# ~7 H　　WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
1 ?5 u( K9 o- ~+ P5 s　　Normal Distribution-Gaussian Curve
$ N8 R$ D; M0 v3 k% i! |- B" d　　A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
6 ?8 h6 u4 }+ I; J5 t) N0 A2 k　　Case study
" S1 y9 R9 x! b0 b# i# ~　　Case study
+ W. n& ], P$ i　　请计算出上表的X-s控制图的控制限？
% P8 d  p3 U$ }% H8 n　　请判定过程是否稳定？
　　如果是不稳定该如何处理？
6 n$ @+ D1 F% p9 ]& o8 J　　如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
　　B计算控制限
　　Case study
/ r" o4 g# s( r# ?5 A　　Case study
　　不良和缺陷的说明
1 u) z# I! O2 T8 y: Q　　P控制图的制做流程
5 F' ]: ]% E0 U5 X) R: S　　A1子组容量、频率、数量
　　子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。
　　分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾
2 P1 d/ m! x8 n; F  |aliqq

& u. l9 H# f7 `& O5 v　　子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
　　A2计算每个子组内的不合格品率
　　记录每个子组内的下列值
　　被检项目的数量─n
3 w. K8 M$ }' h7 O9 d- q9 i　　发现的不合格项目的数量─np
　　通过这些数据计算不合格品率
- Q+ P4 ?1 h4 k; q2 U( k" g　　A3选择控制图的坐标刻度
　　描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
　　A4将不合格品率描绘在控制图上
4 |7 j2 y4 R. c( Z) u0 Y　　描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
　　当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
　　记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。
7 R, r8 N* y" O: z, {6 d/ w1 K　　计算平均不合格率及控制限
6 S3 h" z! o  R! e; X　　画线并标注
　　均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。
7 a" z6 Z* [+ q: S+ D　　控制限用水平虚线：一般为红色虚线。
  G" h7 ~7 V3 {0 p' H; }3 \　　尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
　　分析数据点，找出不稳定的证据
' B) C% u6 L5 K$ ]9 V　　点
2 M) _" @2 {1 F) O& `　　线
　　面
. P0 ^5 f3 o* ~0 A$ G　　以上三种方式做判定。 aliqq
　　寻找并纠正特殊原因
　　当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
　　控制图的实时性
　　重新计算控制限
　　当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
3 b' ^9 M) R4 m# q$ s$ i　　一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。
　　控制限运用说明
7 j  F9 o* J' R( ~  y! g　　过程能力解释
　　计算过程能力
5 V5 t6 m+ P1 @　　对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。
- v1 B  O% b& m　　对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
! C' t4 @* E: Z$ L' V　　当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn
$ b* Z1 o( X' R% R6 e% J" ]　　评价过程能力
　　改善过程能力
  [4 v* C- Q- @: t, o5 {　 　过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。

svw0936

计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了，没有必要再去计算，除非：
1、过程不稳定，需要重新分析
) B5 J' M9 E& D3 ^! J2、影响过程的因素（人机料法环测）发生了变化
' |0 k: I8 @: l$ U2 C( e3、定期分析（一般为每年一次）
$ |# T1 h7 }" e6 _2 k/ ~0 X8 U$ m
不管机器能力指数也好，还是过程能力也好，都是能力指数的一种。既然是能力指数，肯定是需要排除特殊原因的影响的，特殊原因的影响，就体现在子组间的变差大小，所以计算能力指数就必须排除子组间的变差。

不分组的话，肯定是没有排除特殊原因的影响了，用总变差（子组内变差+子组间变差）得出来的指数，能称之为能力指数吗？能用来预测吗？

jhlafr

原帖由 svw0936 于 2009-8-20 16:08 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif
9 C2 a+ J% U' n, ^  Z) D计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了，没有必要再去计算，除非：
2 p, o& s1 i: Q+ S8 B  O0 M1、过程不稳定，需要重新分析
& M1 F+ C2 h( q% v' m  H2、影响过程的因素（人机料法环测）发生了变化
3、定期分析（一般为每年一次）
2 Y  I/ I8 C9 ?3 a  J' s" V5 `1 ^
...

你完全没有搞懂CMK与CPK的区别，再给你解释一下，分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。

svw0936

原帖由 jhlafr 于 2009-8-20 20:50 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif

9 `+ S' S% f6 T* E你完全没有搞懂CMK与CPK的区别，再给你解释一下，分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。

我孤陋寡闻了，头一次听说“分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小”。
我只知道分组的目的，是为了比较子组内变差和子组间变差，以此来检验是否存在特殊原因，验证稳定性的。
. C( M1 W( h+ V. l5 ?* V  ?* d6 u如果不分组的话，那前提只有一个，就是知道已经处于稳定状态了。
如果能够证明已经处于稳定状态，换句话说，子组间变差为零。分不分组无所谓，得出来的结果都是一样的。