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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
3 S) `5 I1 [/ F2 n
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
. N. y; n. z, x$ ?& _4 `
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
( R, B- l- E7 j
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

: x, F8 C& L8 Y) d9 D% w+ m
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

, h; @9 s8 q. P  p- M; X( y! n
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
8 s* c- n" z* a  t
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历& P9 C2 M2 E1 }& L' g: @
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
' Q1 F- D2 O* |; f- v
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

4 q" t) N% @; c" L, P& W( M) m
联 系 人:李晓丽0 X- G- N: B8 U8 F3 y& D; H
段玉霞
& v% m6 t. z% W赵石彬

( b5 L" [8 `2 O5 J; G; M2 S8 ?
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567

& M. H5 F. c3 g$ m

5 A# v( }+ [+ Z0 c$ o% Q+ f( u真:010-68980976" f  u& |! y& ^$ g! d* @! H
# B3 }" L8 {9 q) P2 p% H9 h$ x' A6 |  U
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

6 Q+ N+ G6 n7 o% y$ W
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会 议 回 执
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单位名称:

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姓名

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职务
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联系电话(手机)

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3 L- u$ @; Z/ Z9 m( @8 D4 G% e
请回复至:0 ~% M! Z7 P9 p& p: p1 R
lixiaoli.127@163.com
* A! l+ P; t& r: g  n3 n
联系人:李晓丽! g0 t. a3 w4 {5 r; Z- E, g& q
电话:68902940
% p+ L5 n+ W9 ?- e. [3 z! U传真:68980976

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
. q: s* s) I+ B' @( K7 [( k& ]XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。! h2 U* w! r+ {* m9 v5 ?4 q& M
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:' {9 b5 r4 _* ]  p# m1 {4 u
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
5 y/ e1 ?7 r1 g6 i/ Y( p# [2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
/ M" z& }" p- l8 g1 b3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
0 ^% }& w$ @) g1 i" v) P4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。% h! P# C2 z- `, \1 S
5、        环境因素。例如噪声。
) m8 L5 H0 k- ]9 e2 w1 f4 S. L& Y参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。( A1 D: Y/ g" X" j% F5 o# V
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
: o. `2 q% J, `  Q9 Y
+ H; P( z) f( C6 ?1 P5 j
2 U0 m( A+ y  WJoseph N. Gray
1 y% L3 }: f9 ^% t+ Z3 G
8 A, z0 n+ L/ ?+ V9 h% s) v# b
5 `! ?: L+ _) M1 S( SJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心; r/ _/ X4 C& ?# Q
美国Iowa州立大学无损检测中心
5 }! l" X' D6 n9 B. o, p) nhttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍5 V! K( V% g* f5 n* E6 s* r
软件介绍:) a* Q7 l" r' s; [; z" f% D4 V) |9 `
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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