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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

" Y0 f2 ~/ X3 z5 t
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
) p/ h' [. G4 N: S
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

' N- o: B4 f, f8 d5 }5 F# {
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

4 C4 N1 J- f2 i& k8 K
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

- Y9 Q1 r  T! y5 R& ?
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
" r" q5 ^' H( L2 X
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
2 o: K! C* i% U(讲座不收费,食宿交通费用自理)- O  C) ?3 q% b" G( f4 u
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

8 T7 J; Z* S6 C4 u6 Z4 r9 b
联 系 人:李晓丽' X; L; J6 m/ w2 U) `! X
段玉霞- Y' F" U# J7 G- X: x/ X- E
赵石彬
6 E( w- j) w: r7 W$ u1 s
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
2 D% e: A& p, r
# }  T% z9 L  y4 ?
真:010-689809767 K: N) b. K  I. _5 }. v) f5 z  o
4 v4 W0 W& ~# q; q
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

3 D# ?7 z, d  V( z

4 `/ K1 B5 {0 r
会 议 回 执

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单位名称:
6 m) e' I; S# j# l6 i* `$ ]& r+ Y
姓名

6 Y# g# e3 D+ d2 T4 M2 L8 G1 Z
职务

6 W, Q1 U- n2 B
联系电话(手机)
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& P- |9 I1 |3 m- Y5 f1 L
请回复至:+ Z0 H3 b: U" Y/ w  g/ x
lixiaoli.127@163.com

4 k" z3 K2 I4 G
联系人:李晓丽4 P2 u" u# Z3 ?3 O
电话:68902940
1 V7 H6 G; ]4 ^; V传真:68980976
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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

13.27 KB, 下载次数: 4

 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
2 Z/ e6 s2 P7 q/ Q! l/ Y: FXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
" [8 c/ R) b: K& e7 MXRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:8 K* W2 H  y2 _$ F( C
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
, u/ ~5 S& Y! L  L) Q2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。; o# d1 L' T1 ?# P$ I) \! J
3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。+ {1 Y8 C& H. v, S* O" b& y
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
& q8 X  w) ~, w; a5、        环境因素。例如噪声。: G4 A" Y; p0 }8 D5 ^! P# V9 w
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。6 |/ X4 E" [# @
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。5 z/ h# D7 h% @

3 v* b; d1 v- Y! B9 G9 B6 O
* a2 r; R0 }0 ~# RJoseph N. Gray
1 v4 d/ D- W  }! ~2 [2 A3 Q
( I0 u; A8 E2 t' l4 |: K1 b
( t: X, \9 z1 i; g! a% LJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心: b# x  A$ u: Z2 l2 T
美国Iowa州立大学无损检测中心
) _) J. j; ]( n- ehttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
  L& B9 \0 d- ~; ?6 J软件介绍:8 O  I, z: P; c  |( ^% F' c
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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