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发表于 2009-1-3 15:14:08
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来自: 中国浙江台州
一、用途:9 \0 v' k! J. p, I" X4 F1 @3 I
平面平晶是用于以干涉法测量块规,以及检验块规、量规、零件密封面、测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。
, ]8 ?7 E$ L" Z4 k 适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用,也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。% d6 d7 Y. Y0 j7 M
二、主要技术规格:
I) c0 n9 L* i# Q 1、平面平晶 YDF-1 标准外形尺寸 单位:mm % k) P3 d2 l! z5 p0 q, U
规格30 45 60 80 100 150 200 250
, b* v; ~& t& M 直径30 45 60 80 100 150 200 250 & ?7 A+ L$ M, ~6 c! Q
高度15 15 20 20 25 30 40 45
% a5 y( A4 z/ L( w 特殊规格尺寸平面平晶,环形平面平晶,方形平面平晶可定做.
# W* I! A5 k$ @8 X; T. W- b9 ^: D# u 2、平面平晶制成两种精度: 1级 和 2级. K1 g8 q1 }; g5 F5 r
3、平面平晶工作面的平面度偏差允许值为:
l8 Z0 i2 y* _$ j/ I4 n9 O! m 直径为 30至60mm 1级平晶 0.03μm
3 L# b3 V0 u$ m 直径为 30至60mm 2级平晶 0.1 μm
$ l) A, a8 Z7 C 直径为 80至150mm 1级平晶 0.05μm8 r2 ~- x. g0 t* T
直径为 80至150mm 2级平晶 0.1 μm
$ U5 s) H/ l& l" A, T% W$ u 更大尺寸平面平晶平面度偏差允许值,根据国家标准。
6 K+ i# R3 C0 s4 @+ [1 ^ l/ v 4、平面平晶工作面的局部偏差允许值为: 0.03μm* Y8 H8 u' D0 A" K, \) M9 i
5、平面平晶测量工作应在室温2 0℃±3℃条件下保持数小时后进行。 |
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