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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.
R/ V {- X* m6 e& i3 Z) C介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快
& a: D3 A5 P& A* n Y即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm
* |. ~/ b6 d5 z" x~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为
4 J; R+ j: B7 ]+ B" ]1 j& W* I0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),8
& {' i" Y, }% {; T级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,
3 Q" o- u& W) K3 R# i2 b1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射
k; N& {" P& Z: R% G1 v, fB1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示.
* c+ i0 f) D% k# y+ i! L3 r5 T: H通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~
1 M! ~+ V4 ^6 \1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰
& D1 t8 l8 V2 o% X+ A- j度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率
% t, [; T0 G% F" j5 Y时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ
; v2 i8 l2 V" b; G0 X$ ]! g时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是3 s6 {3 O2 j5 `" ~8 {, E0 B2 X
说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又' G f+ G- ^- _% C! Z
必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.
! q+ A: c0 T: I" Q) g2 I5 J) I9 T) Y
/ N. y9 c% P6 S0 e1 W" N! H: q% N[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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