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波长色散X射线荧光分析的新发展 ! I( d6 o8 m: k, e: M3 j( G3 r
岛津(香港)有限公司北京代表处 电话：010-85252365 邮编：100020 0 a% ? j9 T4 ?8 P$ c! K" c
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摘要：论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外，在进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析范围；开拓微区面分布的元素成像分析；进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别是纳米材料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法（FP法）目前发展状况的介绍。; M; H* S6 ~7 v4 G0 X
) b' n; t( S4 i/ | d$ K 关键词：波长色散X射线荧光分析，微区面分布的元素成像分析，高级次谱线分析方法，薄膜分析，无标样分析的基本参数法。
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6 A$ q' @) l, |: X' x0 h. E- I[ 本帖最后由 清风明月008 于 2007-10-14 11:25 编辑 ] |
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发表于 2007-10-14 10:03:07
