波长色散X射线荧光分析的新发展 ! z* s0 v9 N; R- P# O1 l) D. k 岛津(香港)有限公司北京代表处 电话：010-85252365 邮编：100020 - o/ z% X1 \0 v3 k
4 f+ @! d |" E1 u K# [+ B) u6 M! W& I1 C9 N3 ?; V 摘要：论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外，在进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析范围；开拓微区面分布的元素成像分析；进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别是纳米材料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法（FP法）目前发展状况的介绍。1 w# c2 P1 S. [# s( E. u( ]+ x
发表于 2007-10-14 10:03:07
