单壁碳纳米管电子输运特性的稳定性分析

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单壁碳纳米管电子输运特性的稳定性分析
2 o3 ~. O- `- k) U9 u梅龙伟、张振华、丁开和
! V" J8 Z- v" I$ W# I) }! V4 q(长沙理工大学物理与电子科学学院，长沙410076)
: \( z( T% s6 G摘要;基于变形单壁碳纳米管能量色散关系，计算了碳纳米管最低导带的电子速度及有效质量随形变系数变化的各种曲线，以此推测碳纳米管输运性质的稳定性问题．计算结果表明：对于特定类型的碳纳米管，只当其形变发生在某特定方向、且处于低形变(形变系数e≤0．02)区时，电子平均速度”。。及平均有效质量m二随形变改变才会很小(相对改变量≤2％)，这意味着此时的碳纳米管低偏压电子输运性能是基本稳定的．而其他形变情形，电子平均速度”一或电子平均有效质量m：。或两者随形变变化明显，甚至有跃变，这意味着其低偏压电子输运性能是不稳定的，甚至极不稳定．
关键词：变形单壁碳纳米管，电子速度，电子有效质量，输运性能稳定性