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单模光纤弯曲损耗的测量与分析/ P+ ]5 ~/ k8 ~ Z0 d
郝素君, 游善红, 李晓东, 陈志勋
8 w. D$ S% K5 v8 _(上海交通大学光纤技术研究所“区域光纤通信网与新型光通信系统”国家重点实验室, 上海200030)8 l: w; H! ?# x3 h$ q
[摘 要] 提供了弯曲半径从1. 7mm 到5. 8mm , 波长从1520nm 到1565nm 范围内单模光纤弯曲损耗的测试结, s& k/ Q2 `) y' ?0 B) i8 e/ } ]5 S
果。观察到了弯曲损耗呈震荡变化, 随着弯曲半径的增加损耗减小, 振幅减小, 随着波长的增加损耗增加、振幅增大
9 r6 P/ V& T3 S5 k3 B6 u% k的现象, 并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释。+ \' b* Z- Q( M0 o
[关键词] 光纤损耗; 耦合模理论; 测量 |
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发表于 2011-10-27 14:42:47
