关于各种芯片性能参数检测的一般方法

fengyu007

关于各种芯片性能参数的检测方法
      就目前的信号检测来说，一般都是将各种物理信息（比如形变、位移等）通过传感器转换成电信号再进行放大测量，对所测信号越是微弱就越是得采用更精密的集成放大器，这里，问题就来了，通常厂家给我们提供的芯片的性能参数一般是采用什么方法检测出来的呢？
    通常来说，比如静电级输入阻抗的放大器，其输入阻抗有的在20次方以上的，这个如何检测？输入的失调电流、偏置电流在nA、pA甚至fA如何检测，等等。。
   请各位发表下自己的看法，好像相关资料也很少，国内是不是很少有人做这方面的工作，毕竟在实际工作中，发现有不少芯片厂家给的参数似乎与实际使用相差甚远，不知道有没有什么好的检测方法进行验证。