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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

/ ^4 D# @7 u: P
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

  Q' @! ]1 N. b& j9 g
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

2 }) |: u% M% \2 d0 @
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

9 A' C5 `3 I' m, I9 Z$ I2 W
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

% V$ H4 \. k! a% f2 m/ r- R; ]
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
* k, f4 F9 A# R( c& U: i6 B, X
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
) L- e3 a0 \$ v, l& q(讲座不收费,食宿交通费用自理)( ^$ L/ ]1 {' A. l8 R0 w
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

" N" ?* _9 l. h7 K) }5 w
联 系 人:李晓丽
5 R# {' {% k% ~8 p7 m段玉霞! W% ^2 B/ L0 ~! V+ z
赵石彬

2 z- ~+ t$ y+ ~. t* E
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
( H1 ^' V# V4 @# T: |
0 v& C) G# m3 d9 h( i; F
真:010-68980976
4 D; k( C/ }- p0 b( g
" S- }2 t) k1 ~) C8 A7 J
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
7 g2 ]5 s& B3 ?, [+ Z
$ D/ F0 h8 {" _; g" J& |
会 议 回 执

1 }% l  v4 }6 N. R
单位名称:
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姓名

+ ]" R; l- d9 [+ f6 ?3 M; }9 Q
职务
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联系电话(手机)

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4 N$ ?9 }3 F, x+ k3 O" P

0 z( I( I+ f. l  I. }& Z
# c6 T; e2 T, u" d% u5 s% ]

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( d0 k: E& a, S! y& N# @- c' @4 ^
请回复至:6 u9 j* T2 O5 ?) [! k  E, N
lixiaoli.127@163.com
7 ]2 V- E+ Z* P/ Q# B
联系人:李晓丽
- r0 }7 b) s: S9 n  p' N/ g" n电话:68902940# v' I5 T' w' p! M" z
传真:68980976
5 ?( y( V6 V5 [) R

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍' F% o0 j, M' z
XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
/ s, o# Q9 g5 F2 BXRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:* n7 a% a4 \$ P. f4 s( `( F+ _2 c! j
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。& m2 V9 D6 E/ t$ W- H) X
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
0 P/ L3 O: O' _3 U' ~8 J3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
4 F+ `2 D  n8 m! b7 L4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
# ]- B: S6 `. z) G/ }5、        环境因素。例如噪声。% U- {  @7 d. w# A* X7 f
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。; Z% U& U1 o5 D# {( L
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。& U6 ^8 P9 H* z+ Y
9 {% O* ?% C( W! t! t1 l; O

# P) g, e3 z- R2 V) uJoseph N. Gray
9 Q% ?* B5 C1 z6 d: T- o& \6 a + Y* t$ T: K- ]5 Q- L

! X" O8 A3 ^4 Z! m% VJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心
% b3 [: m; R8 i" {. ~: c0 e美国Iowa州立大学无损检测中心+ u9 O, \/ }8 H) `# ~
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
  s0 N* r3 w+ R$ y软件介绍:0 z. x) b+ u: f3 J( Y
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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