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发表于 2008-10-12 16:23:52
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来自: 中国江苏徐州
MSA测量系统分析控制程序
MSA测量系统分析控制程序) T m; e/ t' a- L
1.0 目的:
. g' f2 b5 N; m对测量系统变差进行分析评定,以确定测量系统是否满足规定要求。
+ [) m( Z$ B' v: P8 t/ n; [2.0 适用范围
/ Z4 h- n- c2 l) t6 R- J适用于证实产品符合规定要求的所有测量系统。
. b: i1 ^/ w6 }. Q5 C3 V3.0 职责) w9 \1 W* W9 c" ]9 U6 W+ T
3.1稽管部
- ^5 e5 p6 _, r+ @3 J4 N—负责制定测量系统分析计划并实施测量系统分析。" \( l6 l5 R* P( i; b3 F) l) A* b
3.2生产部( U1 X8 h% C5 m5 w" ?
—负责配合测量系统分析工作。6 m' X2 m3 m# S6 B( I, m+ V0 Z
3.3 APQP小组3 G2 ~# J% X; O1 ?, f
—负责对检测能力不足的量具适用性重新进行评价。
" S! m+ @- T' B8 V4 G) m4.0定义
! G" V4 n/ M" D$ M测量系统:用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的结合;用来获得测量结果的整个过程。
( c$ f9 a: ^" @ h* [重复性:同一操作员使用同一测量仪器测量相同部分的同一特性时,多次测量结果的最大变差。" ?( ]) {; @( E3 _5 l! q4 i
再现性 :不同的测量者使用相同的仪器测量某相同部分的同一特性时,其测量平均值的最大变差。
1 P& E0 J, v& u9 X8 v计量型量具:反映测量样本一定测量值的量具。4 _- r6 c6 w9 \3 u
计数型量具:反映样本其特性的接受与不接受的测试结果的量具。1 `0 w" K$ Q" ^* ^* N" `% l; U l
容差:与标准的允许偏差,即变差在公称值附近的允许范围。允许公差是规定上、下限值之差值。规定限值不应与控制限值相混淆。
) i% P. o" B1 Z. F0 s- H+ _) v5.0程序* D5 l0 p- w3 ~. |& k( }
5.1测量系统分析范围! W$ o0 [. x! U1 j1 C
对控制计划中规定的测量系统进行分析,包括更新的量具。
. Z! r3 T* D2 m' Y+ p/ l. I) B* h5.2测量系统分析的频率、计划
* t5 j7 s, |: k3 a# K" Q' {5.2.1测量系统分析的频率为一年一次
! w; s7 Y# M! ^0 B6 x) K/ W) T% D5.2.2稽管部负责制定测量系统分析计划,经管理代表批准后,由稽管部组织生产部实施。# K4 n* d& r: @1 e% b' x
5.2.3新的PCB生产过程中根据试产控制计划由稽管部组织实施测量系统分析。$ p( _8 E( C/ f
5.3计量型量具重复性和再现性分析(R&R)
( ?5 H. A0 \5 E& M% p+ A5 x5.3.1随机抽样10个PCB,确定某一尺寸/特性做为评价样本。+ T$ M/ h/ o/ o* r$ h- s9 r* e2 W
5.3.2 对PCB进行编号1~10,编号应覆盖且不被操作员知道某一产品具体编号。( W: l A p) U4 a& q
5.3.3指定3个操作员,每一个操作员单独地以随机的顺序选取PCB,并对PCB的尺寸/特性进行测量,负责组织此项研究的人员观察编号并在表格中对应记录数值。3个操作员测完一次后,再从头开始重复1~2次。- P. A2 A$ g" M7 n
5.3.4将测量结果依次记录在《量具重复性和再现性数据表》上。
! Y% L) {9 t4 n! ~( s5.3.5负责组织此项研究的人员,依据数据表和质量特性规格,按标准规定的格式出具《量具重复性和再现性报告》。
( A& M* `# Y8 q2 L4 T" _' B4 H( S& B5.3.6结果分析3 _5 N! T5 _4 W3 m% e8 y
5.3.6.1当重复性(EV)变异大于再现性(AV)时,可采取下列措施:2 _+ R1 U! \! T! C: y$ M2 @: f8 z, l' D
a) 增强量具的设计结构。
0 q/ T* k/ S: g, `# Yb) 改进量具的使用方法。/ H! z# H5 C2 f2 k
c) 对量具进行保养。5 b8 a1 b* t" c
5.3.6.2当再现性(AV)变异大于重复性(EV)时应考虑;4 r* N: N/ J0 S# u) o$ z
a) 修订作业标准,加强对操作员的操作技能培训。( ?. g% q8 ~( e$ w; c" |# B# Z
b) 是否需采取夹具协助操作,以提高操作的一致性。; c5 U$ b+ m# Y& u& D. T/ d
c) 量具校准后再进行R&R分析。9 P/ x) j! l6 A3 B) W" y& Q2 F
5.3.7 R&R接收准则
# D2 A6 m9 i, Ua) R&R<10%可接受。( A& {* G s! C/ K& B: f
b) 10%≤R&R≤30%,依量具的重要、成本及维修费用,决定是否接受。( `* y2 v( `3 ^! W3 A q
c) R&R>30%不能接受,必须改进。
" j3 Y+ `* ~$ }2 X8 Y, Y5.4计数型量具小样法分析" T6 b X* \+ S9 l( B7 T
5.4.1取样:选取20个PCB,然后由2位评价人以一种能防止评价人偏倚的方式(一般采用盲测法)二次测量所有PCB,一些产品会稍许低于或高于规范限值,测试结果记录于《计数型量具小样分析表》。
) Z$ ~7 B) j5 |$ v5.4.2判定:如果所有的测量结果(每个PCB进行4次测量)一致则接受该量具,否则应重新改进或重新评价该量具,如果不能改进的量具,则不能接受,并应找到接受的替代测量系统。9 M5 J" K) }8 [
6.0相关文件
3 q! T3 l4 R( Y) o4 N$ l# k6.1 《测量系统分析手册MSA》: {* k) C% y R$ O+ H- k
7.0记录$ o0 ]* l& r0 J. H( [1 _1 P
7.1量具重复性和再现性数据表
4 `/ S6 J* u4 W3 `4 C B7.2量具重复性和再现性报告
* X& `' [6 r! x3 b- P4 B) g7.3计数型量具小样分析表 |
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