能力指数上限CPU和能力指数下限CPL的公式

aym0322

能力指数上限CPU和能力指数下限CPL的公式是什么

meri

Cp：这是一个能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达为：

  G; t; Y' z" [( h4 |3 ACp= USL-LSL
* p+ V- s: ^* Y: R- l5 |3 r
6 ô _ R/d2
, G& A6 y, w! G. T- I6 K
Pp：这是性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达为：Pp= USL-LSL (该系数仅用来与Cp及Cpk对比，或／和Cp、Cpk一起

6ôs
. y' [0 d2 U+ y$ P, L
% U0 R* e0 d. g去度量和确定一段时间内改进的优先次序)。
/ |, D! H- E8 _' M0 s' m0 R% o( i
4 ^  d! v5 e5 iCPU：这是上限能力指数，定义为上容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达为：

* c& l: Y8 Z- L7 i1 K& R  eCPU= USL- = X
9 {+ n6 B  `5 a" K
. N1 G: o* D; l" c6 ô _ R/d2
. Y6 s" P, H( N
) }1 Q5 @2 i: T0 E7 x9 G5 aCPL：这是下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达为：

CPL= = X-LSL
7 f9 K% d+ F. K" ?& q; [+ x
3 ô _ R/d2
8 ^, u+ I1 L( `: w) U
Cpk：这是考虑到过程中心的能力指数，定义为Cpu或Cpl的最小值。它等于过程均值与最近的规范限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
7 f0 [" {4 `" ~
9 o. O2 g/ L) |. L1 L7 r6 ]Ppk：这是考虑到过程中心的性能指数，定义为：USL- = X 或 = X-LSL 的最小值
2 l5 M2 k: Y% T8 h- h
3ôs 3ôs

(仅用来与Cp和Cpk对比，并测量和确定随时间改进的优先顺序)。

CR：这是一种能力比值，是Cp的倒数，即：CR＝ 1 = 6 ô _ R/d2

! Y% {; a0 y. {1 ?Cp USL-LSL 。

PR；这是一种性能比值，是Pp的倒数，即：PR＝ 1 ＝ 6ôs

, l! N* y$ j5 \' RPp USL-LSL

8 L, j- D% D- v: _/ O6 sCp——稳定过程的能力指数通常定义为（USL-LSL）

6 ô - R/d2 .
5 ?( D' W* T+ j; Z
( T9 a; [  u3 x5 S$ {. n8 T- iCpk——稳定过程的能力指数，通常定义为CPU或CPL中的最小值。
& _9 a! ^6 i" k" Z. }
/ [2 j% Q# n$ n( f/ F

. }7 B* M' N& |7 B/ f7 V: ICPL——能力指数下限，通常定义为 = X-LSL

  ^  H/ n8 T9 \) U/ {3 ô - R/d2 。


- D; T3 b( U2 z* J
CPU——能力指数上限，通常定义为 USL- = X
) h6 m6 K6 c+ D: t. G
3 ô - R/d2 .
2 c* I1 B; `- v
" K- R% c& W+ e& z

CR——稳定过程的能力比值，通常定义为 6 ô - R/d2

（USL-LSL）.
+ j& Y" D( O" s! |4 K( ^* Q
d2——估计过程标准差时 - R的除数
' ]. N* h, F+ K% ?* y- o+ ?# O
: n  H1 [) K/ j- D8 ?+ UD3、D4——分别为计算极差的上下控制限时 - R的乘数
2 s- l1 P* P3 i4 w
E2——用来计算单位控制限时 - R的乘数
( O: n' E' T& v1 T
k——用来计算控制限时子组的个数。
$ p1 `. L) Q) \$ O$ Q( o- b
) ], y- _1 p% ^- A9 T6 _* m. JLCL——下控制限。LCLX，LCLR，LCLP等分别是均值、极差、不合格品率等的下控制限。

LSL——工程规范的下限。
" N. j: i, T- _- H
+ n, c- R/ b& M  N% Y' \MR——主要用于单值图的一系列点的移动极差。

n——一个子组内的单值的个数；子组的样本容量。
, N* U, n) J9 O$ Y
- n——平均子组样本容量。

np——在一个容量为n的样本中不合格品的数量

$ G! c, ^, Q. Wn - p——样本容量恒定为n时，不合格品数的平均数。

$ t- X: ]: ^- G" A
- Q' l; o# Z8 D
+ k! W) A8 C! X$ H+ r2 P+ Hp——一个样本中的不合格品率
6 f" p: W5 u  C, {. ]
- p——一系列样本中的平均不合格品率。

  Q' X1 [3 n' P9 P; |
& p9 t$ d% a! y; d) T0 x4 Z6 R
# L0 D$ @1 t6 |) A# T2 A- z  gPp——性能指数，通常定义为（USL-LSL）
* U; n/ a8 J5 Z6 s
6 ôS
- f; {% q5 P; p! O( [
* c1 i5 A. J+ X0 y
) X, h1 W% B9 R! O9 _. @
PR——性能比率，通常定义为 6 ôS
: q% b. I( _, N+ X: p% H
/ V* e+ z7 I9 c& j0 H1 i! B! U（USL-LSL）。
, y; ]7 w  B! s: }! v. L
Ppk——性能指数，通常定义为 USL- = X 或 = X-LSL 的最小值。
9 N9 R. G1 v, {2 S% X
$ P6 Y* r; P) t4 ^( U3 ôs 3 ôs
' Q. O% F4 J0 a$ H4 p8 Q
7 q6 m+ Z0 m" U- {$ m  {, j5 x. aPz——输出超过利益点的比例，这种利益点诸如特定的规范限值，与过程均值之差为z个标准差单位。

  S4 X/ ?( H6 i0 l) t% x, p. ]. XR——子组的极差(最大值减去最小值)
/ X# m' R; X5 v! L2 p3 H
# g3 n' d: C5 t5 o- R——一系列容量相等子组的平均极差。
8 Q8 ]% F$ V) V+ V7 n' \
* ~+ s8 j2 I$ O! E1 G9 U7 k7 m= R——一系列容量相等子组的平均极差的均值。

～ R一一一系列容量相等子组的极差的中位数极差。

0 d- L: O! S( ?/ OS——子组的样本标准差
3 h. W  f  n- `, T. Q, |
6 _; Z8 E$ ^) U, r- fs——过程的样本标准差
# v4 N# O! Z% I  [
" X7 {" @2 l; G& G  z) G2 i9 {$ W- s——一系列子组的平均样本标准差，如有必要可以按样本容量加权。

: D5 J. e/ s) aSL——单边工程规范极限。

- Z, `2 I$ t% k; p0 f( ~: t2 M: b' du——个样本中每单元不合格数，这个样本可能含有一个以上单位

- U——样本中单位不合格数的平均值，样本的容量不必相等。

0 ?* B3 O1 E0 p$ vUCL——上控制限，UCLx、UCLR、UCLP等分别是均值、极差、不合格品率等的上控制限。

USL——工程规范的上限。

/ x: b% p# q) U" n+ U[ 本帖最后由 meri 于 2008-5-13 08:37 编辑 ]