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陈 刚* 葛爱景 卓尚军 王佩玲
2 Q, }& H ^' P% x4 l; s; n(中国科学院上海硅酸盐研究所,上海200050)9 M0 A# W, i7 e6 C! G! Y
摘 要 辉光放电质谱法(GDMS)作为一种固体样品直接分析技术,已广泛应用于金属、半导体等材料的痕量和超痕量杂质分析。近年来,随着制样方法和离子源装置的改进,GDMS 同样也能很好地应用于玻璃、陶瓷、氧化物粉末等非导体材料的成分分析。简介了GDMS 的基本原理和分析特点,概述了GDMS 在无机非金属材料分析的方法以及应用情况。
# }1 p, J5 V; ?1 X$ `) d+ ~关键词 辉光放电质谱,非金属材料,应用,评述 |
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