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吴冰1,2李晋炜2,巩水利2,张建勋1: v" `6 C3 Y) {6 g) s+ B# w
(1.西安交通大学,陕西西安710049)
. e3 h3 Q3 O( g5 Y5 I. U3 m7 F6 L3 S(2.北京航空制造工程研究所高能束流加工技术重点实验室,北京100024)
% ]$ z2 Z* x- v" G; B: l) H/ N摘要:首先通过试验取得母材及焊接接头的疲劳裂纹扩展速率,然后结合TCl7钛合金电子束焊接接头CTOD试验
2 {6 [ {1 n- I# k结果及裂纹容限计算值,以估算其疲劳剩余寿命。结果表明:在低应力水平或低△K下,TCl7电子柬焊缝的daMN数& B- q+ `6 ^% h. a8 ~5 @
据与母材的基本相当;然而随着应力水平的增加,焊缝的da/dN值越来越大。在初始裂纹尺寸相同的情况下,TCl7合
- O+ d0 w, V, i6 X金电子束焊缝与母材疲劳裂纹扩展寿命曲线存在交叉点。当应力幅大于交叉点应力幅时,TCl7母材疲劳裂纹扩展到临
9 }* y9 c: \& r界裂纹尺寸的剩余寿命要高于相应焊缝的剩余寿命;当应力幅小于交叉点应力幅时,TCl7母材扩展到临界裂纹尺寸的1 U- j+ E- k" H7 g, n# ~2 |* m$ h6 R
剩余寿命要低于相应焊缝的剩余寿命。7 }: F1 t0 e3 r. G2 ?
关键词:电子柬焊接;钛合金;疲劳裂纹扩展;疲劳剩余寿命 |
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