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单模光纤弯曲损耗的测量与分析% p. ~& }! ]: \/ ^
郝素君, 游善红, 李晓东, 陈志勋4 b& Q* O+ P8 B6 I& r. k. Y' \, @
(上海交通大学光纤技术研究所“区域光纤通信网与新型光通信系统”国家重点实验室, 上海200030)* H6 r& H" R' |0 A' i( Z7 i, v6 `
[摘 要] 提供了弯曲半径从1. 7mm 到5. 8mm , 波长从1520nm 到1565nm 范围内单模光纤弯曲损耗的测试结: p6 Q% w% [; u) }8 b3 ~5 K
果。观察到了弯曲损耗呈震荡变化, 随着弯曲半径的增加损耗减小, 振幅减小, 随着波长的增加损耗增加、振幅增大. }& i8 C0 g, V- e# ]/ r. [
的现象, 并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释。
: _7 P4 @+ E% I2 u& `2 E. A& {. Y2 U [关键词] 光纤损耗; 耦合模理论; 测量 |
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发表于 2011-10-27 14:42:47
