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单模光纤弯曲损耗的测量与分析
/ @2 _4 A- L$ @) F郝素君, 游善红, 李晓东, 陈志勋" |1 W' ^/ Y% M! v( m
(上海交通大学光纤技术研究所“区域光纤通信网与新型光通信系统”国家重点实验室, 上海200030)
- ^* J* h% d3 H+ P K/ v [摘 要] 提供了弯曲半径从1. 7mm 到5. 8mm , 波长从1520nm 到1565nm 范围内单模光纤弯曲损耗的测试结( C; B6 |, d6 J+ Y% n
果。观察到了弯曲损耗呈震荡变化, 随着弯曲半径的增加损耗减小, 振幅减小, 随着波长的增加损耗增加、振幅增大
0 v; m+ P8 Y; t9 J+ z( `的现象, 并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释。
$ t& e5 b% V, W [关键词] 光纤损耗; 耦合模理论; 测量 |
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发表于 2011-10-27 14:42:47
