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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
& Z! s1 y. P6 W7 D* s; D7 e
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

% D. C, `/ p+ L
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
1 ~: Z0 H+ _& @' d9 }# S1 v, k- D7 O
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

: ^- O7 f9 ?/ d; U& g7 H7 a4 O" r
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

: Z3 B" R, v+ r; Q) v) P9 v
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

* N" d; X5 d/ q; N% u附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历2 }) `  \6 {  r( M
(讲座不收费,食宿交通费用自理)% e9 f) s6 |2 e: u+ X. o8 L
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
2 P( W6 V3 m: P+ u: A
联 系 人:李晓丽
# J+ [+ t* U! T段玉霞
& C" f8 p4 t& E  T7 j" B, T赵石彬
- i. B% ~4 h- {
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
6 q/ D6 }. A9 C5 U# W) D$ n+ x: u
5 A0 r! W* y' p* N. m
真:010-68980976% f' {+ H: E# f& ]- l$ z$ ]

2 w) [4 V# L8 ~0 y! b+ Y
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
" \4 O& Q- V7 `. d! j& O
0 E  c6 {, I+ k& t5 t6 c
会 议 回 执
; {5 v2 i/ n5 r4 A$ {* i* a
单位名称:

3 v/ ]5 V) a" H% v
姓名
9 k. O/ b! e/ J
职务

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联系电话(手机)
8 ?8 e6 i/ M3 {. W

4 V3 E. U* _+ V  _8 n" r

* M5 R  {$ g5 l8 F+ i
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1 B* @) N# Z1 B  H! O; E! f" t% r4 T
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0 C& \+ ]# O' [# p& W7 A' ?: \+ @

/ q' Z1 p$ ]$ t) K2 f$ x
请回复至:  R6 V% b7 X2 |
lixiaoli.127@163.com
. {: ~; \- F  y: K8 P
联系人:李晓丽
/ p1 S. Z- t$ I' i电话:68902940
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% `% v0 l4 r- i) Z4 T( C& R5 P. b

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

13.27 KB, 下载次数: 4

 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
  v+ @2 r# ^7 mXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
+ U' R5 |- _2 \6 c  h2 ]) sXRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
0 I  }6 i4 G: E, p; l: }- H; N1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
2 p! }* n" X) G2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
9 r7 H( e% w* W! A) N3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
+ z( ]$ r; B4 ^6 ?1 ?! ~6 l4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。; @9 h9 c3 d0 i/ K
5、        环境因素。例如噪声。
( ^" n% Y# i: P, b参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。) f+ P. X, M4 B% y: T2 }
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。# m' @: v4 e0 W& b+ u  D0 y$ M
8 O& Z5 M8 |* j: |) a
) I+ r. M4 c* c! C: ^# `
Joseph N. Gray! O. h; H. X; l5 i' a& [
% @* x0 u/ x! x! [' y' l* B
4 ~' f$ e! d7 Q; p
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心4 d# Q3 G& G8 _+ W; Q: ?) W
美国Iowa州立大学无损检测中心( x# K, K9 O  d9 C
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
& {/ ^. S' N# N5 k3 t8 R+ y软件介绍:1 C" j- }& u9 A, e9 ]4 e
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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