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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知 & Z! s1 y. P6 W7 D* s; D7 e
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
% D. C, `/ p+ L讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间); 1 ~: Z0 H+ _& @' d9 }# S1 v, k- D7 O
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
: ^- O7 f9 ?/ d; U& g7 H7 a4 O" r主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
: Z3 B" R, v+ r; Q) v) P9 v主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
* N" d; X5 d/ q; N% u附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历2 }) ` \6 { r( M
(讲座不收费,食宿交通费用自理)% e9 f) s6 |2 e: u+ X. o8 L
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。 2 P( W6 V3 m: P+ u: A
联 系 人:李晓丽
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联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567 6 q/ D6 }. A9 C5 U# W) D$ n+ x: u
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真:010-68980976% f' {+ H: E# f& ]- l$ z$ ]
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会 议 回 执 ; {5 v2 i/ n5 r4 A$ {* i* a
单位名称:
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联系人:李晓丽
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