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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.5 y4 `, g) C2 k6 d9 J9 g& q
介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快# G/ ^( {4 y9 A
即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm
* E' S5 \8 {) c+ t8 a5 f~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为
3 C! b' j' W) y( |$ j, x% ^0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),87 R- X; t" o" ?( v3 a' q+ T
级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,5 V' p, [0 l, \7 _
1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射0 J5 Z+ w8 m+ T2 q
B1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示. ( t5 f; q3 C' k/ x8 a& ?1 }/ M! d
通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~
! k% x4 y! I* |$ ?1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰3 x; R- O6 v9 O7 m
度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率
4 r& q# A% g- s6 C: X时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ- ~: t" Q+ {+ H3 {* O L# y& O
时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是
0 X) J2 K0 j8 Q; Y0 s说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又' e; V" F1 A; @: J$ e8 D& y8 _
必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.2 l3 J. K# V( \
* E$ u- }" Y! C {; j- D[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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