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发表于 2007-11-29 09:38:35
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来自: 中国广东深圳
5.2校准项目和标准器及其他设备
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1.测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
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该项只作副件,包含在外观内,一般手感,无明显影响即可。这是因为只要千分尺的平行度达到要求就能保证径向摆动一项合格。
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2 K8 M `( T. y, J/ t2.测砧工作面与测微螺杆工作面的相对偏移量
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- E, l; p ~, X" y( T( q$ h+ Q同样,该项只作副件,无明显影响即可。0 w/ v. ?0 T( B2 i; i+ @
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6.8工作面的平面度
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5 I1 d. X6 }; o4 y* B# e$ t用2级的平面平晶以技术光波干涉法校准。使用中和修理后的外径千分尺也可以用1级刀口尺以光隙法校准。但用刀口尺存在不合理之处,用刀口尺校准不确定度过大,无法达到要求,一般采用技术光波干涉法校准。
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5 i, L7 S8 V( D, C* y& T. p- m% vJJG22-2003《内径千分尺检定规程》
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1. 新规程正文“1范围”中增加了“测微头示值范围13mm、25mm、50mm”,同时将原规程“测量范围至5000mm”改为“测量范围(50~6000)mm”。% P7 e$ R9 _6 s0 Q+ G8 N- g3 u: o; [
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修改原因:由于原规程在通用范围中未有提出测微头示值范围限制的条件,但在测微头示值误差检定时,表3中明确列出测微头示值范围为3种情况,为了前后统一,特此在正文中增加了测微头示值范围参数。明确了规程的适用范围;将测量范围(50~5000)mm改为(50~6000)mm,是因为即将通过的新国家标准案中将测量范围已扩至6000mm,同时生产厂家已生产有至6000mm的内径千分尺。, B+ |& k1 S6 u/ D$ M9 E
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, z% l( M/ R* K) D2. 原规程“7.1要求”中“固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为(0.15±0.05)mm,刻线宽度差应不大于0.05mm”。改为“对固定套管直径不超过16mm的,固定套管上…刻线宽度为(0.10~0.20)mm,刻线宽度差不超过0.03mm;对固定套管直径大于16mm的…刻线宽度为(0.15~0.25)mm,刻线宽度差应不超过0.05mm”。
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4 o, ]( {& q2 w; d# o: V原因:与GB 8177-87统一。
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, u/ j6 i- s2 N; m1 P: D* ]' A3. 原规程“11测微头与接长杆的组合尺寸”表4中示值误差要求带±号,新规程不带±号。2 j) B, N( D/ M' D
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原因:参考了内径千分尺国家标准和新的国标草案。
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4 L, I. C* y, E j, e: u7 |3 g( j0 [JJF1091-2002《测量内尺寸千分尺校准规范》
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. e2 j, X1 C' L* ^1 J4 K, d. J5 y1. 取消了孔径千分尺级别要求
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原规程中孔径千分尺分为0级和1级,新规范取消了孔径千分尺的级别,示值误差的数值采用了原1级的要求。这是因为孔径千分尺的分度值虽然有0.005mm和0.01mm的两种,但由于千分尺结构原理的限制也很难估读到0.005mm,因此两种分度值的尺的准确度等级应是同一档次的,分级没有意义。
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JJF1102-2003《内径表校准规范》
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8 {6 f* e" u. E; U: m, y0 e) @4.5.1带定位护桥的内径百分表活动测头测力和定位扩桥的接触压力表4
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3 r9 j; S* X* Z0 D根据其结构原理表4中定位护桥在任何位置接触压力均应大于活动测头的测力。/ r6 ^* h/ \! b
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& r3 U1 Z$ ]9 F0 k, n$ {4.5.2涨簧式内径百分表涨簧测头的测力表5
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: M. e; _7 e" R* \$ T按实际使用情况,涨簧测头的测力应越小越好,这样可以避免对环规光面的磨损。所以只应规定上限,不规定下限。& @( x2 J, H( t @
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" t, u# P8 C. {, o1 t4 j; m6.7示值变动性1 ?; Z& F, D( \ b- j3 S2 ^% `
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即重复性。其实,自由状态下的变动性更重要,反应了限位可靠性。检定方法自由状态下重复推动测头5次,取读数最在值与最小值之差为校准结果。
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除了规程学习外,本次培训还解释了计量标准的稳定性及计量标准的测量重复性定义。
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0 t8 f0 i$ |/ S8 x {# ~5 V计量标准的稳定性指计量标准保持其计量特性随时间恒定的能力。计量标准的测量重复性指在相同的测量条件下,重复测量同一被测量(稳定的被测对象),计量标准提供相近示值的能力。要注意的是计量标准仅为实物量具(如量具、砝码等)构成时,它不存在示值变化,所以对实物量具的构成的计量标准不需要进行测量重复性考核。% b$ _2 `) L t8 e8 M% l
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