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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

5 c9 L" K. F% R8 _; L
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

5 m# H! ^% x9 z, |$ g: c4 G
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

( V7 r& x) D: C
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
# k5 F( W. v8 n! ~- V0 M' V  v5 t
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
, f: z2 H. G* |( T2 L/ ~4 z2 Y! t
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

* U% c) h6 ~3 G% C0 F% y3 ]附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历4 j% R  w+ I% ^1 I: s. J6 n
(讲座不收费,食宿交通费用自理)  E. F4 a8 V0 V5 o# t, ?
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

0 e. I- B7 m/ I" v0 l
联 系 人:李晓丽& a# F1 n! D) P6 b& ~
段玉霞
$ t8 i9 f1 K5 l3 M( h0 K( S4 p$ l赵石彬

3 f8 V9 Z- R3 r  h7 |, D) K) q
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
; _% E9 R& D( a& \- i$ ]9 ~0 ]
% H+ t& w/ t8 c0 F
真:010-68980976
/ |0 N# {- ?# D- Q4 N
8 u/ B0 G. s. Z# b; H; @, N% ^) g
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
* @* ^6 v! [  }. i' b3 l
$ g4 l/ v3 F, N2 B
会 议 回 执

, ]/ C! K1 e) z# g- J
单位名称:

7 ], b- X- A! H0 i) r1 f
姓名
) r, `2 Q% W1 S
职务

$ Q# v3 i8 @+ x( }% @! g
联系电话(手机)

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5 Q" r: H& A0 ^& F/ {8 L

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4 b' P7 j, B/ z& n

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: \3 N$ G$ Y! j" c- |+ k* p
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7 [, Q1 q' n( ]8 k
; W2 y) \8 r( w( `
$ {/ _/ W0 B) l# d; @  L  C
9 f0 K! R. f  p3 T; F7 Z

: Y$ \% Z3 Q6 w' f$ _9 ?! d
请回复至:
( z: F' X% S) F5 Ilixiaoli.127@163.com
; s' B2 b" Z2 m* w$ k5 h
联系人:李晓丽3 l& A1 I6 h8 X, m" X
电话:68902940
* |, ~& [# D6 `传真:68980976
2 S0 D# }/ `7 F) f- |

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
' [; X4 e! L- x9 V5 i4 I6 ]/ EXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。/ d/ Y- A; ~4 b  v* W# W/ j- W
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:; g" u4 j' w2 W
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。6 X1 R6 H" f! x/ [( d$ o
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
0 Y* q2 W1 R& ]9 z0 k" y3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。8 Y$ }' n+ U; {0 z# o
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。4 G3 k. F- P1 ^$ }+ \
5、        环境因素。例如噪声。
! D4 [$ V/ j& N: ~& N参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。8 A1 y: G( U. p4 |. q5 ^# K2 t
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。# y$ Q( V1 p& }* p9 O. B% `
9 G2 |3 k% b/ \5 @8 ?3 q) w
( R$ ?8 [' k$ s! z5 }( a
Joseph N. Gray
, Y! M2 w# V+ F/ Q" M! O
7 s. g9 y$ a% j, C) A" O
( h; j0 f8 r) f5 u9 L, CJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心+ q: n4 j  n9 N2 S6 N; D( m
美国Iowa州立大学无损检测中心
+ u: P  Q$ P" S+ Q% y$ m. C: M- M4 ^http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍) Q- I+ R) ~1 [! @
软件介绍:
4 B4 L0 t9 M4 A6 c5 | http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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