|
|
发表于 2008-3-30 16:47:32
|
显示全部楼层
来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.
4 W* G; i0 n! c: A, }0 |( d2 q介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快
' A& O6 b- M- Q, E4 y即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm
5 g6 E: g, w, ] M1 Z~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为
5 ]; k) @1 T0 v u$ [$ i8 s: E0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),8
6 ^& h- i8 Z) q! N# B* Z) M级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,. W* w8 [9 S( U- f) r# o
1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射" J. O! f \/ }7 g8 N: n/ r; Y9 O
B1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示.
# j/ @4 J, D! \1 B$ _) h通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~
, N. R4 g; e+ R' o% H5 J' D: q1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰* X$ X5 e: G. d) f/ w5 m+ q* u
度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率7 f& E+ J0 k6 N' A( @& o0 ?
时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ- P: k n5 A! X1 e% c, \
时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是
" q m% }/ o2 |说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又5 j0 r! R) b& i; _( B D- {8 K$ ?
必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.( R% r' [$ s. Q( s3 b( b: {
$ Y# ^+ r8 p+ P6 D* W2 a[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
评分
-
查看全部评分
|