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发表于 2007-11-29 09:38:35
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来自: 中国广东深圳
5.2校准项目和标准器及其他设备1 J- X- |9 R! v% k! I
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1.测微螺杆的轴向窜动和径向摆动: h$ H: Y, F0 ]6 o( |
( S4 c: O4 U u. N# \ @) G该项只作副件,包含在外观内,一般手感,无明显影响即可。这是因为只要千分尺的平行度达到要求就能保证径向摆动一项合格。- B" U: V, y! e
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7 p5 k$ D6 c: O* C6 s8 u2.测砧工作面与测微螺杆工作面的相对偏移量
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同样,该项只作副件,无明显影响即可。" Q7 `* A- m! i- p
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6.8工作面的平面度
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/ `+ o, L- ]7 e* m# p用2级的平面平晶以技术光波干涉法校准。使用中和修理后的外径千分尺也可以用1级刀口尺以光隙法校准。但用刀口尺存在不合理之处,用刀口尺校准不确定度过大,无法达到要求,一般采用技术光波干涉法校准。6 x0 u1 D2 [! y8 R) |) m# V t
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) M& v- L( |7 Z" ~/ A: oJJG22-2003《内径千分尺检定规程》$ y4 Q: ?4 I- g; |: ~7 o
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1. 新规程正文“1范围”中增加了“测微头示值范围13mm、25mm、50mm”,同时将原规程“测量范围至5000mm”改为“测量范围(50~6000)mm”。
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修改原因:由于原规程在通用范围中未有提出测微头示值范围限制的条件,但在测微头示值误差检定时,表3中明确列出测微头示值范围为3种情况,为了前后统一,特此在正文中增加了测微头示值范围参数。明确了规程的适用范围;将测量范围(50~5000)mm改为(50~6000)mm,是因为即将通过的新国家标准案中将测量范围已扩至6000mm,同时生产厂家已生产有至6000mm的内径千分尺。: X0 Z) ]( ]* |( V8 F1 p; w
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2. 原规程“7.1要求”中“固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为(0.15±0.05)mm,刻线宽度差应不大于0.05mm”。改为“对固定套管直径不超过16mm的,固定套管上…刻线宽度为(0.10~0.20)mm,刻线宽度差不超过0.03mm;对固定套管直径大于16mm的…刻线宽度为(0.15~0.25)mm,刻线宽度差应不超过0.05mm”。
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原因:与GB 8177-87统一。
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q' C( V3 Z4 p( q3. 原规程“11测微头与接长杆的组合尺寸”表4中示值误差要求带±号,新规程不带±号。% j; c( f: G$ @- [+ K& ?0 A
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原因:参考了内径千分尺国家标准和新的国标草案。/ H8 x, a% v: u& I* k* Z# |0 o& W
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JJF1091-2002《测量内尺寸千分尺校准规范》. K# ^: y8 y9 O
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1. 取消了孔径千分尺级别要求4 b5 k3 s2 h# ^5 p3 b0 A+ H W
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原规程中孔径千分尺分为0级和1级,新规范取消了孔径千分尺的级别,示值误差的数值采用了原1级的要求。这是因为孔径千分尺的分度值虽然有0.005mm和0.01mm的两种,但由于千分尺结构原理的限制也很难估读到0.005mm,因此两种分度值的尺的准确度等级应是同一档次的,分级没有意义。( a. d0 E7 _7 ?- u" Q7 W
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% |4 V; _4 f3 @+ E4.5.1带定位护桥的内径百分表活动测头测力和定位扩桥的接触压力表45 x ?7 _2 n' c5 i! z/ E& m, c
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根据其结构原理表4中定位护桥在任何位置接触压力均应大于活动测头的测力。! f$ A1 x1 F9 H4 W7 @# d
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4.5.2涨簧式内径百分表涨簧测头的测力表5. ~5 V R2 L! p/ N0 R# j& r
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按实际使用情况,涨簧测头的测力应越小越好,这样可以避免对环规光面的磨损。所以只应规定上限,不规定下限。
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6.7示值变动性! r5 I7 Y5 L+ b* N
! G: z, Y- r. b v0 k即重复性。其实,自由状态下的变动性更重要,反应了限位可靠性。检定方法自由状态下重复推动测头5次,取读数最在值与最小值之差为校准结果。
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, k8 q; [# I) u除了规程学习外,本次培训还解释了计量标准的稳定性及计量标准的测量重复性定义。 @$ }: v4 ^4 v, O8 ]% I
% q7 K8 a+ p1 e r ]0 m5 ?& f计量标准的稳定性指计量标准保持其计量特性随时间恒定的能力。计量标准的测量重复性指在相同的测量条件下,重复测量同一被测量(稳定的被测对象),计量标准提供相近示值的能力。要注意的是计量标准仅为实物量具(如量具、砝码等)构成时,它不存在示值变化,所以对实物量具的构成的计量标准不需要进行测量重复性考核。! N/ }" a; t& N" x% k
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