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溅射和真空镀气是利用物理现象的成膜方式。利用化学反应的代表性成膜方式为化学气相成膜法(CVD)。
" c& R4 G7 J% i- R" o 溅射成膜法的特征" _, {; a" ^( {6 u
7 X6 b' c% I% H. z5 B1:成膜原材料粒子能量大、在基板上粘附力强、成膜牢固。 ! \8 |9 i# o% O- f* t* N2 ]2 m* ?
2:对于合金或化合物的靶材、保持原材料组成不变也可以成膜。 ; @8 {# A5 J. h+ u
3:高熔点材料也可以成膜。
6 V" I' R6 `, E. _2 q7 U& o, i4:成膜厚度容易控制。 6 M. k* w' g' ]2 @( ]1 n
5:如果在成膜过程中导入反应性气体、则能合成氧化膜或氮化膜等。
1 ?0 P: @+ b4 m& b9 `6:可以大面积均匀成膜。
6 @1 c7 u2 \# t4 z7:如果把基板放到靶的位置上、则可以切削基板表面。
$ G& m1 V/ ~( i5 f1 L( ]( @ 溅射成膜方式
5 J, J3 \; G0 }+ b* _' [! s 一、 DC溅射成膜: A Y: z! o& g- u8 c
原理
: y6 X" b7 V( ]. q' V2 @' x; P% T" O, i
1:成膜基板和膜靶材近距离配置。
+ l; z" d1 l9 X k1 J7 `$ d/ i2 g2:到达真空状态之后,在靶和基板之间加高电压。
- @( d3 B2 \9 g+ d W3:电子和离子在高电压下高速运动,离子撞击靶材,高速运动的电子和离子与气体分子碰撞,产生更多的离子。
( L5 Y: N( L3 n* G. A6 m" i1 l4:离子撞击靶后,把靶材的粒子溅射出去。
' ~3 _$ H- I9 Y. y/ V5:被溅射出来的靶材的粒子到达成膜基板上成膜。
6 h0 t: G( e% y5 b( `3 N& | 这是最初被采用的溅射成膜法。长处在于构造简单,但同时存在以下缺点:* Y, X* u- A) l. A. u- Y: |
1、发生辉光放电,设备的真空程度较差,残留气体影响较大。比如说成长的薄膜和残留气体发生 化学反应,或薄膜中有气泡等。
5 M% J1 X2 {! ], I3 u
, U3 o1 _9 ]8 H5 n3 _ 2、气体成为等离子体状态,基板也处在高温的等离子状态中。因为高温可能会损伤基板。 + Y0 F3 V# ]4 y/ A/ N
$ ~2 r R- k$ v) Q n* {7 V 3、原料(靶)是强绝缘体的时候,表面会有离子堆积,使放电中止。 / t R6 @9 W7 y+ l3 `/ G
# ?' z. }+ e }
二、RF溅射
* Y, n* f6 u3 ?$ V5 h1 m 原理
- X1 ?! y8 O3 ^+ S- i' k+ u3 |/ f3 {/ u# l% L
1:靶和成膜基板近距离配置。 4 I3 U: ?: T3 F7 a1 J0 a( }0 q( _
2:真空腔体和靶之间加高频率电压。
( K2 {. P9 T4 p; p3:因为是交流电压,所以带电粒子的加速方向随电压而变。 4 N9 K1 r2 u% R# n9 q
4:因为电子比离子轻,容易移动。 % H- r3 v' R4 _4 u" P7 s
5:靶一侧的电子没有流通渠道、使电子密度升高。
H" N( u9 Q- Q4 J( P6:高密度的电子使靶带有负电、会吸引更多的阳离子撞击靶。
4 R9 K/ c+ d5 {/ G5 `( i. j. F
7 e5 `5 _$ X5 g3 w, g* V5 E 三、磁控溅射
$ A* Z+ r# @0 a; F 原理
8 m, @6 o. t5 n
5 {6 G6 H/ g: ~1:成膜基板和靶近距离配置、靶材的后面安装有磁铁。 + l% @) S& |! w7 t; P! j
2:加高电压之后诱发溅射。 * p7 a% U( @. k l
3:因为靶周围有磁场、电子沿磁力线做螺旋运动。 ; A' t5 e* j& I) {, R
4:在螺旋运动电子的周围产生等离子状态、可进行高密度溅射。 2 q- |3 D4 f( r2 f$ p
! k( j% g7 L4 S 特征
" |2 [. F! O* ]% [
7 d, K# {0 { D9 \. d2 e% f1、也可使用高频电源。
+ w% x% I' g2 ?: G2、在成膜基板附近没有等离子状态、基板不受损伤。
1 C T+ d6 P/ E3、溅射量大。. B, t9 e8 D5 b# E; f
- N- ?- d" K! h1 M, N
缺点
# N4 Q' P3 {4 c, o- V- n7 z; V. _6 G0 u% z% B; C# ^
靶材的磨损不均匀(磁场较强的地方被大量溅射、在磁场南北极中间线附近溅射量较少)。 # B) @% Y+ U, q1 G
四、离子束溅射/ f) j* r* C9 Y$ G1 [+ f4 }
这是唯一一种不用放电的溅射方法。 ; Q- N8 c8 `# w: n- Z* {
从离子枪(产生离子并加速的设备)发射出来的高速离子照射靶材使其溅射后堆积在基板上成膜其
X9 k h: Q; U) {2 X8 w% t
) m) ]4 ?. J J 他的几种溅射方式都利用等离子状态、基板同时也受到电子和离子的影响。离子束溅射不采用放电现象。但是为了使离子枪持续产生离子也需要供应惰性气体。
) f! V0 F p1 v; f% b1 ~' p E/ |1 V+ z0 u, n* a
(注:使原材料离子化而射向基板的手法被称为离子注入法、而不是溅射。) 4 ^# h) A' e4 B1 p1 `. z* ?0 z6 Y
特征 ; B3 {/ o* R7 i. c3 M2 c! q! D$ ?
1、不需要放电来产生等离子状态、高真空状态下也可成膜。
; \4 b6 d7 w. T; I2、离子源独立存在、单独设定容易。 # Q3 ^) T. F7 p6 H$ _
3、靶材不需要导电性。5 u7 C, o' E$ A5 ^* k3 U) B
缺点
1 y$ l- n; R* M4 T3 e1、设备复杂、昂贵。 , C4 I! q; i' G, B6 h: g
2、成膜速度慢。 ' W: e) C& i: r$ z' ?0 F3 e
7 G- S3 `5 x( ?. i1 `
溅射成膜设备的构成
& F- d3 m! b+ p( |: _
( h: `% r8 l* H' \* T" Z9 Y 除了离子束溅射之外、设备基本构成如下:$ c( S+ B8 E* U& U
1、真空腔体(气体导入口、基板和靶出入口等)。 & t9 W# j( X( n0 C
2、排气系统(旋转泵、分子泵、因为要放电、所以不需要高真空)。
4 B/ g# [- e3 X$ R3、成膜基板台。 ( p: P9 N# E0 d7 W$ m7 v
4、靶台。 & T! m2 u. S; ?0 j+ J/ C
5、电源(高频电源、高压电源)。 + k8 _' G* ?4 W5 @
6、控制系统。
$ p6 e. v1 D) s
7 {0 ~0 F$ n% j% [8 g F& E- @ 溅射利用法1 x* N2 u+ g/ S+ m5 ~( w X6 m3 S
: e# j0 m6 ]. T# e: J5 `+ |1 n7 m磁气记录媒体。 . e9 e3 Q7 Z, H3 K8 ^/ o/ a4 n
CD/DVD(信息记录的金属膜)。
4 `1 ?9 k. y+ j- K* |半导体(电路、各种传感器)。 : ~6 h; |6 t! K
磁头。 $ Y: H5 L. }# \% m; x- Y0 Y
打印机头部。
$ [. b& l9 `6 |0 ]( Q, X6 ^液晶(透明电极部分)。 ) a l% _& ^1 C) g
有机EL表示装置(透明电极部分)。 3 f! @1 E7 N9 x1 B q* u
高辉度光电管。
7 f5 L2 o% S5 \4 j& d" W电子显微镜样品制作。
1 Q8 ^/ ?) R9 ]& z, T光触媒薄膜。 / E7 E) B# w$ w5 I2 s( \ h
表面分析(利用溅射的切削作用)。
2 D' h% D5 e+ g+ z9 y形状记忆合金薄膜。
: c, C, Y, R0 j5 A& G0 H塑料或玻璃的电子屏蔽膜。 |
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