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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

# x/ x% U$ W) g; h+ X; _
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

5 `8 u4 z- ~, X  X
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

, C% }. l, A# H: _+ K
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
$ |3 F7 w# F) N
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

, f; }7 H$ g+ }6 z
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

- X- Q: b. G- ]7 x  l. n附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
7 s& v5 ]4 x3 S+ ^(讲座不收费,食宿交通费用自理)
+ N# w, o# W4 {
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

3 y" t- O2 W/ k- y
联 系 人:李晓丽6 w# b0 s! n1 k5 c/ K
段玉霞
" N" U& l9 {+ {* [赵石彬
! ?5 X) ~; _' B5 b) Q8 h. B4 l! o# `
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
" v* N) w2 V- M

2 t% K. {5 }! n: H真:010-68980976
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" q+ n6 Z; n+ |3 |
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
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6 N$ L2 E" C. h: |; n4 d6 Q: z" k; v- N/ G
会 议 回 执
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单位名称:

0 C3 H& M# X" V' g( V5 ^1 h, v- M
姓名

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职务

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联系电话(手机)

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2 H7 o3 }0 n2 d9 U* H
请回复至:3 B, ?7 J9 G' l
lixiaoli.127@163.com
: {) h9 E7 ^2 B- h, G- y
联系人:李晓丽
# G0 e4 ?: U3 {  N/ e1 m% P2 K( ~电话:68902940
0 F+ b+ H$ C: m( \% M' _/ ~4 @传真:68980976
7 T4 _1 K% L& J6 w5 h% F

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

13.27 KB, 下载次数: 4

 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍6 ^+ v# E$ O3 m9 \
XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
$ a- G* g8 J1 i/ Q# WXRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
5 w# y# H* }9 }1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
' B: h# j9 S, V2 D- ~2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
3 O$ c6 C3 J% V* ~3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
+ F% J; F  I7 k* B4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
" {' D3 H' G0 `( N) P5、        环境因素。例如噪声。
' p$ S. u3 R8 x/ [. f4 r) N参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
( {, p: D6 |  Q5 X/ q" FXRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
5 h3 [3 }. d$ h/ R 9 w& i8 R. k7 h5 K! \

0 t6 c5 R$ H/ DJoseph N. Gray+ U3 [( v* P( k$ z( ]# n- z! D" `; T

3 x5 {  E( @6 M  i7 E; y9 f' q; S3 S$ w' q3 h/ I* A% u; i/ O
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心' E# k, l0 B8 X4 W$ g. E6 Z5 A
美国Iowa州立大学无损检测中心$ R' l4 {# z! N* P
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
* Q& l& v' C6 }( c+ A软件介绍:
  u# P& K( D" N- h$ y  i http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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