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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.: o3 b$ k( H- G; z' y9 k5 b
介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快5 T) T7 C' e0 U/ L, l2 N
即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm
1 g8 l7 }& Y, Y# }8 W' f6 ~~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为
) a3 ^9 ~4 H, R0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),8
x. r! z H" {# {7 K级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,+ A# k' t4 i0 I1 o0 a
1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射
/ N6 J" x( s# W6 xB1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示. * N, E4 w: y" I/ V/ W' R+ Y3 u
通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~
6 t ^5 M" O0 I7 t( T3 c% E0 M1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰
1 l4 Y2 m4 \ l: M8 q. Q度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率
' G: l- P7 ]" q: _8 L# n) |时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ
' P/ J6 k) D7 @& r: z时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是7 {1 S* |" I# d1 `8 X& s8 B( ]
说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又
$ v" a% ?7 C/ O5 C U必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.1 m; t6 |8 e! ?" E& H% P& K
' X* U- z. M1 Q. G
[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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