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在精密制造领域,表面粗糙度的测量是确保产品质量的关键步骤。光学3D表面轮廓仪为这一需求提供了解决方案。
1 [" t8 `/ F% B+ i9 K5 Y在半导体制造、3C电子、光学加工等高精度行业,表面粗糙度的测量精度直接影响到产品的性能和可靠性。SuperView W系列光学3D表面轮廓仪正是为了满足这一需求而设计的。
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% o4 I# o9 G' K9 ~+ I, Y- P产品特点
! }: s1 H' ]9 i) O* @: {2 kSuperView W系列光学3D表面轮廓仪采用了白光干涉技术,结合精密Z向扫描模块和3D建模算法,能够对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级的测量。这种非接触式的扫描方式不仅避免了对被测物体的损伤,还提供了高测量精度和重复性。
0 r3 Z7 ~( t# ]' K' l9 o( T, p测量原理
* l4 {' L% S+ x& l) ^. j w% r该系列轮廓仪的工作原理基于光学干涉技术,通过白光LED作为光源,对被测物体表面进行照射。由于白光具有宽广的光谱,能够提供更高的测量精度和分辨率。通过精密的Z向扫描,设备能够捕捉到物体表面的微观形貌,并利用3D建模算法重建出物体的3D图像。
' t4 e" }% N* }应用领域# g, g5 U5 W& C/ ~; G* x
SuperView W系列光学3D表面轮廓仪的应用领域非常广泛,包括但不限于半导体制造、3C电子产品的玻璃屏、光学元件的曲率和轮廓尺寸测量、超精密加工、微纳材料制造、汽车零部件以及航空航天和科研院所的研究工作。8 N g0 V, t! w
性能特色9 q- K# u. J( X; }# n* m2 ?/ [. W
1. 高精度与高重复性:采用的光学干涉技术和精密Z向扫描模块,确保了测量的高精度。
) S }3 L! e* q; V1 s' _2. 环境噪声检测功能:能够定量评估外界环境对测量的干扰,为设备调试和故障排查提供数据支持。
; X4 k' I/ p2 \: P3. 精密操纵手柄:集成了X、Y、Z三个方向的位移调整功能,使得测量前的准备工作更加快捷。* U# Q) q$ n7 C$ A' W2 P5 v" d
4. 双重防撞保护措施:软件和硬件双重保护,最大限度降低操作风险。
. M5 i8 A- j5 d* j& o5. 双通道气浮隔振系统:提供了稳定的工作环境,即使在没有外接气源的情况下也能正常工作。
" \4 v' H0 t0 N1 z技术指标! x3 ]+ G% @. y0 u
SuperView W系列提供了多种型号,以满足不同用户的需求。它们的技术指标包括但不限于光源、影像系统、干涉物镜、光学ZOOM、标准视场、物镜塔台、XY位移平台等,均以高标准设计,确保测量结果的准确性和可靠性。
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光学3D表面轮廓仪以其高精度、高重复性和强大的功能,为精密制造业提供了一个可靠的测量工具。无论是在科研还是在工业生产中,它都能帮助用户获得精确的表面粗糙度数据,从而提升产品质量,满足日益严格的行业标准。 |
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