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单模光纤弯曲损耗的测量与分析' D: _% K/ B2 x' h+ z8 p
郝素君, 游善红, 李晓东, 陈志勋
) y5 S& k. Q) ^& {5 `9 E1 }! r(上海交通大学光纤技术研究所“区域光纤通信网与新型光通信系统”国家重点实验室, 上海200030)
- |+ j+ p+ S7 E7 h. S2 G4 u y [摘 要] 提供了弯曲半径从1. 7mm 到5. 8mm , 波长从1520nm 到1565nm 范围内单模光纤弯曲损耗的测试结) [8 }& A0 h* o2 I! J
果。观察到了弯曲损耗呈震荡变化, 随着弯曲半径的增加损耗减小, 振幅减小, 随着波长的增加损耗增加、振幅增大
$ Z" L, V9 e% r% ?的现象, 并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释。
; _/ H, [& |8 Y' G [关键词] 光纤损耗; 耦合模理论; 测量 |
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发表于 2011-10-27 14:42:47
