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标题: 关于CMK的问题 [打印本页]
作者: peter2088    时间: 2009-6-7 21:26
标题: 关于CMK的问题
我们在做CMK抽样/ k( ]8 B/ A: B" k: ^; T
连续抽检50个样本$ b; A, ]! V8 K# ?9 z8 f
需要分组嘛？
& B2 S5 u2 S2 c9 h. F2 ?难得就直接用STDEV把50个样本的西格玛算出来
6 x( ^- K9 B1 o，还有就是我厂的产品，机器生产出来有很多个尺寸，是不是只要测量其中的一个尺寸，总共得出50个尺寸就可以进行CMK的计算了？7 N1 T/ L, C6 G& x/ I7 V1 O% P% i
帮帮我谢谢大哥们
$ h. L2 ^: T4 y
9 X; I1 e. Y% Q1 w. p( j2 a/ U! y[ 本帖最后由 YHHL 于 2009-6-8 17:38 编辑 ]
作者: peter2088    时间: 2009-6-8 14:35
:ang: :ang:
作者: svw0936    时间: 2009-6-8 19:34
使用任何数据，然后再套用公式，都可得出计算结果，问题是这样没有任何意义。: w4 R+ Q; G9 X) B/ f

8 T6 I+ O; a0 J$ {( _  d首先，你的抽样有问题，没有考虑过如何抽样。一般情况下，每次连续抽4-5样本为一组，取20-30组数据（一般要求不少于100个数据）。* ~( _5 @2 H; g4 p
其次，计算Cmk时不用STDEV，要用R/d2.
作者: lanszd    时间: 2009-8-17 15:05
测CMK当然只能针对一个尺寸做CMK,举例，这台设备做跳动可能cmk比较高，但不代表圆度的CMK也一样好。
作者: jhlafr    时间: 2009-8-17 20:50
没有搞清楚就乱回答，CMK不用分组，针对于特殊特性做。
作者: svw0936    时间: 2009-8-18 10:02
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。) ]& e0 P3 a5 p; M- B
如果真的理解了能力指数和性能指数的区别，就知道到底有没有乱说。) U$ N7 l* n1 N' K* w  {* C. D
如果对基本概念都理解不清的话，还是别误导人家的好！
作者: jhlafr    时间: 2009-8-19 20:53
原帖由 svw0936 于 2009-8-18 10:02 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif5 F+ F  [* A' a/ W  {
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。
$ Z- ~+ f; h1 H: M. K6 u如果真的理解了能力指数和性能指数的区别，就知道到底有没有乱说。3 H! g% Z# W1 k
如果对基本概念都理解不清的话，还是别误导人家的好！
$ l6 k- P# F% S: G
提醒你一下，CMK是设备能力指数，不是什么能力指数和性能指数，你确实需要先理解基本概念。
作者: hansenyi    时间: 2009-8-19 21:21
做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.
作者: jhlafr    时间: 2009-8-19 22:20
原帖由 hansenyi 于 2009-8-19 21:21 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif
8 Y: x- D2 }. S8 ^做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.
% Y. ~) e3 s! H1 ?' L  @: W# z( ?( [
又一个基本概念不清楚者！
作者: kellyz    时间: 2009-8-20 09:35
何时应用Cmk指数1 q; j! `. S& W2 \8 e
　　新机器验收时8 F6 A5 j7 c; I0 ?
　　机器大修后
' M/ d7 c+ a9 [% B$ q5 E　　新产品试制时0 i7 E6 r  j2 A9 E1 p/ i* ^# M
　　产品不合格追查原因时% Q6 O% t5 q8 {- k( v
　　在机械厂应和模具结合在一起考虑
! R3 f' S( u% W7 M  y/ j  I. E　　Case study
4 L/ a. X6 I- ^4 Q5 B! G0 _6 `1 [　　WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
* o  j% M( V( v& ~+ j1 a7 ^　　Normal Distribution-Gaussian Curve0 a. C, i( B8 C' x, d7 o* R
　　A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
! }7 M3 z( L, K9 {6 e9 X　　Case study
) g! f" g, z* b0 J4 I, k0 d　　Case study
* D# N4 `  Y3 V5 R7 K2 c　　请计算出上表的X-s控制图的控制限？5 u- M4 O. X) T& i9 A# _% e  U
　　请判定过程是否稳定？$ F$ _# I9 l2 h( h" H4 P
　　如果是不稳定该如何处理？
1 u6 R" q3 C! W8 v, \' R　　如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
0 w, {7 ?8 c% N& i9 \9 ~& g　　B计算控制限
$ B% E6 V1 }0 n4 ~2 c4 R　　Case study- ^0 t. I2 m& L% I  Y# q* v
　　Case study
; o0 G9 [& q4 U( {3 t- S% ^3 |2 }　　不良和缺陷的说明3 l! o4 g/ W2 Y1 u& z: l% z! Z
　　P控制图的制做流程  G- H6 W. r4 _5 r) k
　　A1子组容量、频率、数量
# ^- n& n, S5 ?' t2 o) ^　　子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。1 X3 B+ q5 x9 t/ q/ c
　　分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 8 ]4 j2 _" j9 N4 E
aliqq
8 [' ]; b/ K  L5 n
9 W4 K# i: e" T( i( O. g' `7 E　　子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
$ k. z' Z1 ]. I$ ?. T6 {& }　　A2计算每个子组内的不合格品率$ W& y% u! V; r( c9 F, }
　　记录每个子组内的下列值) _6 u) I5 R1 ], u# i- h4 I. _, ^9 w
　　被检项目的数量─n
. @& i, ^* v% ^- G# a1 V, \' q% C1 E　　发现的不合格项目的数量─np
9 ^. o6 q' |4 W& O! ~　　通过这些数据计算不合格品率
" X- ~9 ~4 K$ U4 L　　A3选择控制图的坐标刻度
# I2 H( F) O* O: }, G; D# f　　描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。- u1 E5 t1 w7 J: D$ T
　　A4将不合格品率描绘在控制图上* K$ h, c5 W5 m7 [
　　描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。& y, D* D6 g  E
　　当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
0 ^6 T! s; T$ D& b, v/ C( s　　记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。
/ R: d- X( c* N" l3 r5 }( J$ Z4 @　　计算平均不合格率及控制限
, ?6 ]3 b) D, {- b$ }　　画线并标注
1 x8 u! F, [/ r: @+ ~　　均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。
; X8 A, d+ q$ w* r　　控制限用水平虚线：一般为红色虚线。. O! A. x4 M' D9 |* W9 T5 {
　　尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：# p" G* n# X. z2 i4 ^* w* K4 F0 s' w
　　分析数据点，找出不稳定的证据
3 k2 H' g, w. B0 i( {6 R% ^　　点
9 [) R" S! y. b　　线9 X* _5 T; e$ k3 M+ W% {6 c7 X
　　面
3 \1 h2 M+ x3 E) [5 Y1 _7 {8 H7 k　　以上三种方式做判定。 aliqq
6 X% `4 o$ C7 ~- s4 y8 w5 q　　寻找并纠正特殊原因2 A  q. g2 V0 N6 {2 w4 B
　　当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
3 \. Y# G( ^3 f9 K) I7 Q　　控制图的实时性
  U( t- ~4 B6 d: r: j0 y　　重新计算控制限8 m6 U; a# B7 H
　　当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。0 x6 [( y" ^/ F; ^* y! S  n
　　一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。, J! t7 C# |0 a! H8 d- ]  s
　　控制限运用说明6 ~" [7 y$ W" o/ |* l  D
　　过程能力解释
; q. l7 I2 J6 w% J5 n　　计算过程能力( [( p2 L. w$ W+ S6 m: q
　　对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。  l1 I% b5 @1 W; g0 q
　　对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
. F7 s4 K. [) d+ N: W* d' o! ^　　当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn
" Y! `4 e7 k, y2 [　　评价过程能力
$ ~' z! t% k: ^4 j2 k　　改善过程能力& I8 i6 h8 \3 u) \* s# d* ^
　 　过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。
作者: svw0936    时间: 2009-8-20 16:08
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了，没有必要再去计算，除非：
: Q$ Y2 o  a; a8 h1、过程不稳定，需要重新分析0 }, H5 Y* H3 ^! H. x- t9 b
2、影响过程的因素（人机料法环测）发生了变化: s3 o0 Z" q; ~" C* C
3、定期分析（一般为每年一次）2 e; Q% t( U7 |5 b* [+ e- l

: z& e, e' T$ j/ y9 r9 Y不管机器能力指数也好，还是过程能力也好，都是能力指数的一种。既然是能力指数，肯定是需要排除特殊原因的影响的，特殊原因的影响，就体现在子组间的变差大小，所以计算能力指数就必须排除子组间的变差。8 D: [' B# ?: [2 d' q% H. t3 ?
, k, v4 }7 p( _/ b! {7 M4 b
不分组的话，肯定是没有排除特殊原因的影响了，用总变差（子组内变差+子组间变差）得出来的指数，能称之为能力指数吗？能用来预测吗？
作者: jhlafr    时间: 2009-8-20 20:50
原帖由 svw0936 于 2009-8-20 16:08 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif; U7 [  s& J5 ]" C; \- W* e1 Z
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了，没有必要再去计算，除非：9 t+ o4 W( x. |. P# g. m  G5 G
1、过程不稳定，需要重新分析; p: ]7 ]# Z6 _' Q$ G
2、影响过程的因素（人机料法环测）发生了变化
( g6 P  m% G5 h6 q! |1 p3 x# k4 M3、定期分析（一般为每年一次）
: G% Z( A3 q8 ^& _8 I+ h% a' z1 n. M2 H: Y: t# {7 D
...

  z- P& _# v! a. H  z* t: \7 ]你完全没有搞懂CMK与CPK的区别，再给你解释一下，分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。
作者: svw0936    时间: 2009-8-20 21:38
原帖由 jhlafr 于 2009-8-20 20:50 发表 http://www.3dportal.cn/discuz/images/common/back.gif
. Z; h$ c6 E: y- D9 _# S7 `/ C$ h2 \% f
你完全没有搞懂CMK与CPK的区别，再给你解释一下，分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。
2 l4 \! R; b+ t& A2 o9 S8 [7 z( w
1 k. P; v( N1 ~8 Z* F& [, {6 ~$ {
我孤陋寡闻了，头一次听说“分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小”。+ E3 ]) I3 v& Z+ M
我只知道分组的目的，是为了比较子组内变差和子组间变差，以此来检验是否存在特殊原因，验证稳定性的。# M, L9 L7 W" F
如果不分组的话，那前提只有一个，就是知道已经处于稳定状态了。# o. E. H/ L3 g! t, W& |2 w- S
如果能够证明已经处于稳定状态，换句话说，子组间变差为零。分不分组无所谓，得出来的结果都是一样的。



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